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    LabRAM Nano 納米拉曼光譜儀

    參考價(jià)面議
    具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準
    • 公司名稱(chēng)廣東新一辰設備有限公司
    • 品       牌
    • 型       號
    • 所  在  地東莞市
    • 廠(chǎng)商性質(zhì)其他
    • 更新時(shí)間2024/11/15 10:12:14
    • 訪(fǎng)問(wèn)次數70
    產(chǎn)品標簽:

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    廣東新一辰設備有限公司坐落于廣東省東莞市鳳崗鎮美麗的京東智谷智能產(chǎn)業(yè)創(chuàng )新科技中心,是一家專(zhuān)注于半導體行業(yè)測量設備的公司,公司由專(zhuān)注于測量實(shí)驗室建設與管理10余年的專(zhuān)業(yè)人士組建,有在測量設備行業(yè)深耕10余年的深圳市駿輝騰科技有限公司入股,我們不僅能夠提供專(zhuān)業(yè)的設備,服務(wù),而且我們同樣注重客戶(hù)的使用體驗,感受。公司秉承【服務(wù)至上,質(zhì)量更優(yōu);成就客戶(hù),互惠共贏(yíng)】的經(jīng)營(yíng)理念,集行的實(shí)力制造商于一體,力爭成為半導體行業(yè)專(zhuān)業(yè)的檢測設備一站式服務(wù)商。公司主營(yíng)半導體行業(yè)的檢測設備,代理有HORIBA的全系統產(chǎn)品,更有自主開(kāi)發(fā)的具有國際競爭力的氙燈耐候試驗箱,接觸角測試儀,等離子清洗設備等。歡迎您詳細了解。
    試驗箱
    多樣品分析平臺宏觀(guān)、微觀(guān)和納米尺度的測量可以在同一個(gè)平臺上進(jìn)行簡(jiǎn)單易用全自動(dòng)操作,在幾分鐘內即可開(kāi)始測量,而不是幾小時(shí)!真正的共聚焦高空間分辨率,自動(dòng)樣品臺,全顯微鏡可視化
    LabRAM Nano 納米拉曼光譜儀 產(chǎn)品信息

    多樣品分析平臺

    宏觀(guān)、微觀(guān)和納米尺度的測量可以在同一個(gè)平臺上進(jìn)行

    簡(jiǎn)單易用

    全自動(dòng)操作,在幾分鐘內即可開(kāi)始測量,而不是幾小時(shí)!

    真正的共聚焦

    高空間分辨率,自動(dòng)樣品臺,全顯微鏡可視化。

    高收集效率

    頂部和側向拉曼光譜檢測都可以獲得高分辨和高通量測量同區域和針尖增強光譜測量(TERS和TEPL)

    高光譜分辨率

    高光譜分辨能力,多光柵自動(dòng)切換,寬光譜范圍的拉曼和光致發(fā)光分析。

    高空間分辨率

    針尖增強的納米級光譜分辨率(優(yōu)于10nm)

    豐富的光學(xué)光譜(拉曼和光致發(fā)光)

    多技術(shù)/多環(huán)境

    結合TERS/TEPL化學(xué)成像的多模式SPM技術(shù)包括AFM、導電和電學(xué)模式(cAFM、KPFM)、STM、液池和電化學(xué)環(huán)境。一個(gè)工作站和強大的軟件即可對兩臺儀器進(jìn)行控制,SPM和光譜儀可以同時(shí)或獨立操作。

    堅固性/穩定性

    高共振頻率AFM掃描器,遠離噪音干擾!高性能表現,無(wú)需主動(dòng)隔振系統。


    配置

    SmartSPM掃描器和基座

    閉環(huán)平板掃描器: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)

    掃描器非線(xiàn)性:XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

    噪聲水平:XY≤0.1 nm RMS(200 Hz帶寬,電容傳感器打開(kāi));

    XY≤0.02 nm RMS(100 Hz帶寬,電容傳感器關(guān)閉);

    Z<0.04 nm="" rms="" (1000="">

    高頻掃描器:XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz

    X, Y, Z自動(dòng)趨近:XYZ數字閉環(huán)控制,Z向馬達趨近距離18mm

    樣品尺寸:40 mm x 50 mm x 15 mm

    樣品定位:自動(dòng)樣品臺范圍:5 mm x 5 mm

    定位精度:1µm

    AFM測試頭

    激光波長(cháng):1300nm(光譜檢測器無(wú)干擾)

    系統噪聲:< 0.1="">

    激光準直:全自動(dòng)懸臂—光電二極管激光準直

    全電動(dòng):4步進(jìn)電機懸臂和光電二極管自動(dòng)對準;

    SPM測量模式

    標準模式:接觸模式、半接觸模式、非接觸模式、相位成像模式、側向力模式(LFM)、力調制模式、磁力顯微鏡模式(MFM)、開(kāi)爾文探針模式(表面電勢,SKM,KPFM)、掃描電容模式、靜電力顯微鏡模式(EFM)、力曲線(xiàn)測量、壓電響應模式(PFM)、納米蝕刻、納米操縱

    升級模式:溶液環(huán)境接觸模式、溶液環(huán)境半接觸模式、導電力顯微鏡模式、STM模式、光電流成像模式、伏安特性曲線(xiàn)測量等

    光譜模式

    共聚焦拉曼、熒光和光致發(fā)光光譜和成像

    針尖增強拉曼光譜(AFM,STM等)

    針尖增強熒光

    近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡和光譜(NSOM/SNOM)

    導電力AFM(選購)

    電流范圍:100fA~10µA;三檔量程自動(dòng)切換(1 nA, 100 nA 和 10 µA)

    光路耦合通道

    頂部和側向能夠同時(shí)使用消色差物鏡:從頂部或側向可用100X,NA0.7物鏡;可同時(shí)使用20倍和100倍

    長(cháng)期光譜激光穩定對準的閉環(huán)壓電物鏡掃描器:范圍20µm x 20µm x 15µm;分辨率:1nm

    光譜儀

    全自動(dòng)高分辨率LabRAM HR Evolution顯微光譜儀,可獨立使用顯微拉曼光譜儀

    波長(cháng)范圍:50 cm-1至4000 cm-1或更低至10 cm-1(選購)

    光柵:選擇150 g/mm至3600 g/mm的光柵;2個(gè)光柵安裝在計算機控制的轉臺上,運動(dòng)安裝,易于更換

    光學(xué)設計:消色差光譜儀和消色差耦合光學(xué)部件

    自動(dòng)化:全自動(dòng),軟件控制操作

    檢測器

    全光譜范圍CCD和EMCCD檢測器,紅外檢測器:InGaAs陣列檢測器,單通道擴展InGaAs,InSb,CdTe,…

    光源

    波長(cháng):從DUV(229nm)到IR(高達2.2µm)的全波長(cháng)范圍

    典型波長(cháng):532nm、638nm、785nm

    自動(dòng)化:全自動(dòng)激光器和濾波器切換,可同時(shí)自動(dòng)切換3激光器;全波長(cháng)范圍可選激光偏振和光譜分析儀

    軟件

    集成軟件包,包括全功能SPM、光譜儀和數據采集控制、光譜和SPM數據分析和處理套件,包括光譜擬合、去卷積和濾波,可選模塊包括單變量和多變量分析套件(PCA、MCR、HCA、DCA),顆粒檢測和光譜搜索功能。


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