一、概 述:
EXPLORER采用模塊化設計,全部組件可以進(jìn)行拆分為7個(gè)模塊,同時(shí)可以在5個(gè)獨立自由度上檢測樣品。同時(shí)EXPLORER可以提供多種配置,如范圍更寬的X射線(xiàn)源、光路、樣品臺和檢測器等,可以滿(mǎn)足各種應用需求。此外將直接傳動(dòng)轉矩馬達與優(yōu)勢的光學(xué)編碼器相結合,確保了儀器的傳動(dòng)速度和精度,可以勝任各類(lèi)樣品的定性和定量分析。
二、應用范圍:
EXPLORER可以進(jìn)行常規的晶相識別和相定量,可以分析晶體尺寸、晶格應變及結晶度的計算。也可以定量分析殘留奧氏體、多晶物篩查、晶體結構分析、殘余應力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向和納米粒子分析。