概要
SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質(zhì)方面是靈活的分析工具。根據不同的配置和應用程序可以完成顆粒度的分析，zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數（A2）的測定。SZ-100的典型應用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。
顆粒分析儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理（DLS）。根據樣品的物理性質(zhì)，動(dòng)態(tài)測量范圍為0.3 nm – 8 µm。檢測范圍的下限受到以下因素的影響：樣品濃度、樣品對光的散射強度以及大的雜質(zhì)顆粒的存在。檢測上限受樣品濃度影響，因為DLS原理是顆粒的布朗運動(dòng)而不是重力沉降。
SZ-100以顆粒表面電荷特性來(lái)檢測懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池，通過(guò)顆粒電泳遷移率的結果計算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩定性的一個(gè)指標。Zeta電位的數值較大表明顆粒帶電較多，斥力較大，較難發(fā)生團聚，溶液保持穩定。通常根據pH值或其他化學(xué)參數的改變檢測zeta電位以便于設計可長(cháng)時(shí)間保存的產(chǎn)品。相反地，發(fā)現zeta電位為零時(shí)（就是說(shuō)，樣品處于等電點(diǎn)），就要考慮選擇條件將顆粒進(jìn)行絮凝和分離。
SZ-100還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。用戶(hù)準備幾個(gè)已知濃度的溶液，然后使用系統的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線(xiàn)，從而計算出Mw和A2。
特征
將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數的檢測集于一身
寬檢測范圍，寬濃度范圍
雙光路雙角度粒徑測量（90° 和173°）
多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光
用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池
自動(dòng)滴定儀：可用于zeta電位測量過(guò)程中pH值的自動(dòng)滴定
規格
粒徑：動(dòng)態(tài)光散射原理（DSL）
測量范圍
顆粒直徑：0.3nm-8.0μm
測量精度
粒徑：按照ISO 13321/22412
可溯源的NIST聚苯乙烯乳膠顆粒：100nm測量精度= +/- 2%
濃度
下限：0.1 mg/mL
上限：40 wt % （視樣品而定）
測量時(shí)間：粒徑分析一般需大約2分鐘(可自行設定)
樣品池：比色皿樣品池
取樣量：12μl ～ 4ml* （* 取樣量取決于樣品池容量。）
Zeta電位：激光多普勒法
測量范圍：-200 – +200mV
測量時(shí)間：一般需大約2分鐘
樣品池：專(zhuān)用一次性樣品池
取樣量：~100μl，一次性樣品池
分子量：靜態(tài)光散射德拜曲線(xiàn)法
測量范圍：Mw: 1×103 - 2×107 g/mol
樣品池：比色皿樣品池
物理參數：電源：AC 100-240V, 50/60Hz, 150VA
激光：二極管泵浦倍頻激光器 532 nm，10 mW I級
接口：USB 2.0，連接電腦與設備
外形尺寸：385(D) ′ 528(W) ′ 273(H) mm (不計凸起部分)
重量：25kg
控溫范圍：1-90℃，電極池和塑料池上限為70℃
工作環(huán)境：15-35℃，相對濕度≤85%，無(wú)結露
冷凝控制：可連接吹掃氣
