研究型金相顯微鏡JXM-4100 JXM-4100DIC金相顯微鏡主要用于鑒定和分析金屬內部結構組織,是金屬學(xué)研究金相的重要儀器 不僅能觀(guān)察動(dòng)態(tài)圖像,還能將所需要的圖片進(jìn)行編輯、保存和打印及測量工作。 可以廣泛地應用于電子、化工和儀器儀表行業(yè)觀(guān)察不透明的物質(zhì)和透明的物質(zhì)。如金屬、陶瓷、集成電路、電子芯片、印刷電路板、液晶板、薄膜、粉末、碳粉 JXM-4100DIC金相顯微鏡,具有附件多,使用性能廣泛,能做明場(chǎng)、暗視場(chǎng)、偏光和DIC觀(guān)察等 | ||
JXM-4100研究型金相顯微鏡配置表 | ||
部件名稱(chēng) | 技術(shù)參數 | |
機身 | 一體化結構,進(jìn)口設計方案,機身整體壓鑄,結構穩定可靠 | |
無(wú)窮遠色差獨立校正光學(xué)系統 | ||
轉盤(pán)式濾色片組(藍色、綠色、黃色、50%減光片),內置式 | ||
調焦升降機構:低位同軸粗微動(dòng)調節手輪,微調手輪格值0.001mm | ||
寬電壓,110∽240V,50/60Hz | ||
觀(guān)察筒 | 三目觀(guān)察筒,傾角45,瞳孔距調節50-75mm,視度可調 | |
目鏡 | WF10X/20mm,高眼點(diǎn) | |
無(wú)限遠平場(chǎng)金相明物鏡 | JXM-4100C(明場(chǎng)物鏡) | PL L 5X 工作距離:26.1 mm |
PL L 10X 工作距離:23 mm | ||
PL L 20X 工作距離:9 mm | ||
PL L 50X(S) 工作距離:7.9 mm | ||
JXM-4100MC(明暗場(chǎng)物鏡) | PL L 5X 工作距離:10 mm | |
PL L 10X 工作距離:9.7 mm | ||
PL L 20X 工作距離:8.0 mm | ||
PL L 50X(S) 工作距離:2.5 mm | ||
落射照明 | 落射照明:帶孔徑光欄和視場(chǎng)光欄,鹵素燈12V/50W,AC85V-230V, 亮度可調節 | |
電源箱 | 12V/50W鹵素燈電源箱 | |
偏光組件 | 旋轉式起偏鏡插件 | |
檢偏鏡插件 | ||
載物臺 | 機械移動(dòng)載物臺190mm×140mm,移動(dòng)范圍35mmX30mm | |
物鏡轉換器 | 帶DIC插孔明暗場(chǎng)四孔轉換器 | |
C型接口 | 1攝像接筒(C接口) | |
保險絲管 | 250V/5A Φ5X20 | |
系統組成
| 電腦型(JXM-4100C):1、金相顯微鏡 2、適配鏡 3、300萬(wàn)像素進(jìn)口攝像器 4、計算機(選配) | |
數碼型(JXM-4100D: 1、金相顯微鏡 2、適配鏡 3、數碼相機 |