X熒光分析儀具有分析精度高、測試速度快、測試簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)?？蓾M(mǎn)足RoHS/WEEE相關(guān)管控要求，符合國際電工委員會(huì )IEC62321標準及中國環(huán)保標準所規定的技術(shù)要求和技術(shù)規范。
一．應用領(lǐng)域：
1．檢測以黃金、鉑金、K金飾品、銀等貴金屬、銅合金、鐵合金、及其它合金類(lèi)產(chǎn)品：鉛黃銅、鎳黃銅、錳黃銅、錫黃銅錫青銅、鎳白銅、鋅白銅等樣品。
2. 分析Au、Ag、Rh、Cd、Ru、Pt、Ir、Cu、Pb、Fe、Ni、Mn、Zn、Sn、Bi、Sb、As等元素。
3．對RoHS指令中有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）進(jìn)行精準測試。
3．金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定分析。
二．性能特點(diǎn):
1.檢測樣品為規則樣品與不規則樣品，包括塊狀、片狀、線(xiàn)狀。樣品類(lèi)型為塑膠、金屬、粉末、液體。
2.高壓電源。zui大功率50W。電壓0-50 KV，電流0-1000uA。
3.高效X光管。zui大功率50W，管壓5-50KV；管流電流0-1000uA。
4.進(jìn)口原裝電制冷Si-Pin探測器。良好的能量線(xiàn)性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。
5.高信噪比的電子線(xiàn)路系統。
6.八個(gè)準直器和四個(gè)濾光片的電動(dòng)組合，軟體自動(dòng)切換，滿(mǎn)足各種測試方式的應用，降低分析元素附近的背景強度，提高分析zui低限。
7.多參數線(xiàn)性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制，提高分析準確度。
8.內置高清晰攝像頭，有效的實(shí)時(shí)觀(guān)察測試區域狀況，并拍下物料照片，作為檢測報告的組成部分。
9.載物測試平臺，配有微調裝置，實(shí)現檢測物的定位與檢測區域的調整。
10.小樣品腔尺寸(閉倉門(mén)測試)：460×298×150mm。大樣品腔尺寸(開(kāi)倉門(mén)測試)：無(wú)限制，部分取代手持式功能。
11.高效三維散熱系統：大幅度提供儀器的可靠性、穩定性。
12.輻射安全系統：隱蔽式設計、軟件、硬件三重射線(xiàn)防護系統。
13. 分析軟件：國際的XRF分析軟件，融合了包括經(jīng)驗系數法、基本參數法（FP法）、理論α系數法等多種經(jīng)典分析方法，全面保證測試數據的準確性。
三．技術(shù)指標：
1.測量元素范圍：從硫（S）到鈾（U）。
2.元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）。
3.同時(shí)分析元素：一次性可測幾十種元素。
4.測量時(shí)間：60秒-200秒。
5.樣品類(lèi)型：塑膠、金屬、粉末、液體。
6.zui低檢出下限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppm 。
7.工作環(huán)境：溫度為溫度 15～30℃ 濕度 ≤85% （不結露）。
8.電源：交流220V±5V,選配高精度參數穩壓電源。
9.分辨率能達到149eV±5。
10.樣品腔尺寸：460×298×150mm。
11. 外觀(guān)尺寸：550×416×333mm。
12.電源：AC 220V～240V、50Hz。
13.額定功率：800W。
14.重量：約45KG.
四．主體配置：
1.高效薄窗X光管（W或Mo靶）。
2.高壓電源。
3.原裝美國高性能電制冷Si-Pin半導體探測器。
4.大樣品測量腔。
5.移動(dòng)平臺。
6.光路增強系統。
7.高信噪比電子線(xiàn)路系統。
8.高清晰攝像頭。
9.自動(dòng)切換型準直器和濾光片。
10.三重安全保護模式。
11.整體鋼架結構，力度可靠的保證。
12.計算機、液晶顯示器、激光打印機。
13.分析軟件。
14.標準物質(zhì)：銀校正標樣等。
15.儀器的其它配置：樣品杯 、測試薄膜、保險絲。
