核心結構：
1、檢測器
類(lèi)型 Si（Li）檢測器
液氮 只有在分析時(shí)添加
液氮消耗 少于
檢測面積 10mm2
分析元素 Na-U
分辨率 ：小于150電子伏特
（特點(diǎn)說(shuō)明：采用液氮制冷方式的檢測器具有高分辨率，可以避免元素譜線(xiàn)之間的干擾，從而保證高準確度的分析。在性能、實(shí)績(jì)、穩定性上，Si(Li)半導體是性的實(shí)績(jì)（島津檢測器是自己生產(chǎn)，在萬(wàn)一發(fā)生故障也迅速對應）。 掘場(chǎng)按振動(dòng)檢測器的性能下降。 精工較差的Si-PIN半導體分辨率為220eV、在分析樹(shù)脂中的Cd、Pb時(shí)，容易受到Br和Sb等共存元素的干擾、并有時(shí)不能檢出，還有因為是低強度，在測試金屬中有害元素的感度也差。）
2、計數單元
放大器
擬合時(shí)間 10μ秒
增益變化 高/低
多道分析器（MCA）
變頻型 順序比較ADC
道數 2048道.
島津EDX-720/EDX-LE技術(shù)參數配備只針對RoHS法規有害5元素+氯元素所需的篩選分析功能。東莞市歐若斯儀器有限公司為您服務(wù)，島津EDX光譜儀、ROHS檢測儀器-二手9成新。
島津EDX-LE可能將需要熒光X射線(xiàn)分析知識的操作步驟自動(dòng)化，可進(jìn)行RoHS法規5元素+氯元素（選配）的高速篩選分析。島津EDX-LE從開(kāi)始分析到得到結果只需要（根據樣品）約1分鐘。不僅可進(jìn)行高速篩選分析，同時(shí)維持了高可信性的分析水平。
標準配置改變照射直徑的準直器＆樣品圖像觀(guān)察組件
測定異物或者測定包含多個(gè)部位的樣品時(shí)，通過(guò)樣品圖像觀(guān)察組件在觀(guān)察樣品的同時(shí)，可以簡(jiǎn)單的設定分析位置。測定小樣品或樣品中特定位置時(shí)，可以使用準直器，更改X射線(xiàn)照射區域（3, 5, 10 ｍｍφ），EDX-LE標準配備了RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析所需的所有必要功能，用戶(hù)無(wú)需購買(mǎi)特殊選購件，就可以獲得RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析系統。
降低運行成本，減少日常維護量
由于配備了無(wú)需液氮進(jìn)行冷卻的檢測器，因此大幅削減了使用時(shí)的運行成本，為延長(cháng)X光管的壽命而進(jìn)行的光管老化（穩定性運轉）是裝置管理上必。在裝置長(cháng)期不運行的情況下，再次啟動(dòng)時(shí)需要對X射線(xiàn)光管進(jìn)行老化處理，而該裝置可自動(dòng)執行該功能以防故障發(fā)生，進(jìn)而提高操作性，為了隨時(shí)得到準確的分析結果裝置需要進(jìn)行校正，而用戶(hù)們希望盡可能在短時(shí)間內完成校正時(shí)的操作和判定。EDX-LE在開(kāi)啟儀器后會(huì )對能量校正和定量值校正的操作進(jìn)行幫助，當需要進(jìn)行校正時(shí)會(huì )自動(dòng)進(jìn)行校正。
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