EDX系列x熒光光譜儀,能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀應用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量、工業(yè)鍍層厚度測量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質(zhì)和半導體以及各種合金、貴金屬成份分析.
EDX系列x熒光光譜儀主要特點(diǎn)
●分析元素范圍 S-U
●分析元素的濃度范圍 2ppm—99%
●整機穩定性連續8小時(shí)測RSD<0.25%
● ROHS/WEEE檢測時(shí)間100-120秒
●美國進(jìn)口電制冷Si(Pin)探測器
●電制冷Si(Pin)探測器 晶體面積15mm2分辨率<155eV
●全數字脈沖處理器技術(shù)
●優(yōu)異的峰背比、的痕量分析靈敏度
● 50KV,50W自防護X-射線(xiàn)管
●復合濾光片智能切換技術(shù)
特征:
☆可分析精確分析氯元素和油漆中的鉛
☆集成FP法,Alpha系數法、經(jīng)驗系數法
☆安全聯(lián)動(dòng)裝置,軟硬結合的輻射設計
☆操作簡(jiǎn)單、一鍵式操作
☆智能軟件自動(dòng)參數設定和選擇濾光片
☆ X射線(xiàn)管超溫保護
☆電子冷卻,無(wú)需液氮和其它耗材
技術(shù)規格
儀器型號 | EDX-1800x熒光光譜儀 | |
分析原理 | 能量色散X射線(xiàn)熒光分析法 | |
分析范圍 | S(16)-U(92)任意元素 | |
檢出下限 | Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm | |
樣品形狀 | 任意大小,任何不規則形狀 | |
樣品類(lèi)型 | 塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等 | |
X射線(xiàn)管 | 靶材 | 鉬(Mo)靶 |
管電壓 | 5─50KV | |
管電流 | 1─1000uA | |
探測器 | 美國AMP-TEK Si-PIN探測器,高速脈沖高度分析系統 | |
高壓發(fā)生器 | 美國SPELLMAN高壓發(fā)生器 | |
濾光片 | 智能濾光片自動(dòng)選擇并自動(dòng)轉換 | |
樣品觀(guān)察 | 500萬(wàn)彩色攝像機 | |
分析軟件 | 升級 | |
分析方法 | Alpha系數法(NBS-GSC法)、FP法、標準曲線(xiàn)法 | |
符合規范 | IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006 |