5100 – 跨越輕元素檢測!
牛津儀器推出革命性的手持式硅漂移探測器 X 射線(xiàn)熒光分析儀
X-MET5100 保證了鋁及鈦合金的實(shí)驗室質(zhì)量分析的精確性,它對檢測銅、鎳和鋼等金屬材料中含有的輕金屬元素時(shí)的敏感性也是的。
這款堅固的便攜式 XRF 輕元素測試工具,專(zhuān)為以下行業(yè)應用而設計:
- PMI 檢測行業(yè)
- 廢舊金屬回收行業(yè)
- 航空工業(yè)
X-MET5100結合了硅漂移探測器 (SDD)、45 千伏 X 射線(xiàn)管和經(jīng)驗系數分析方法,其特點(diǎn)為:
- 只需1秒即可準確分析和確定金屬合金成分
- 無(wú)需借助復雜的真空泵或氦氣罐等附屬設備就可對鎂、鋁、硅等輕元素進(jìn)行測量
- 受限物質(zhì)(重金屬元素)、玩具中的鉛、土壤中的污染物和礦石中的微量物質(zhì)可以得到快速準確測量
- 在幾秒鐘之內,就可以得到 ppm 級的痕量元素檢測結果
- 的檢測速度和準確性確保了高效可靠的實(shí)時(shí)檢測結果
- 符合 IP54 (NEMA 3) 防塵防水認證要求,能夠承受的工作條件