Touch Probe 掃描探針產(chǎn)品介紹
圓柱形零件光學(xué)測量機
的性能
光學(xué)和觸覺(jué)功能的結合,使轉動(dòng)部件實(shí)現了完整的測量控制。
一個(gè)測量系統,多種選擇。
一個(gè)全新的軸測量功能,結合具體的光學(xué)技術(shù)方法和觸摸探針測量系統。
觸摸式探頭
Vicivision測量系統現在配備了一個(gè)Renishaw掃描探針,安裝在光源頂部。探針可以互換,覆蓋整個(gè)長(cháng)度區域。
光學(xué)與觸覺(jué)結合
當光學(xué)測量系統快速提供靜態(tài)、幾何和螺紋測量、形狀和螺母測量時(shí),觸摸系統檢測不可光學(xué)測量的特征。
光學(xué)和觸摸組合可測量:
軸向和總軸向跳動(dòng)長(cháng)度;平面度;垂直性
鍵槽寬度;鍵槽深度;鍵槽長(cháng)度
Touch Probe 掃描探針技術(shù)參數
精度 | 重復性 | |
長(cháng)度值 | 3,5 + L/200 μm | 1 μm |
跳動(dòng)值 | 1.2 μm | 0.3 μm |