Z-200 C+ 是能夠分析碳素鋼和不銹鋼中碳含量的手持式分析儀。 Z-200 C+ 采用激光誘導擊穿光譜技術(shù)(HH-LIBS)，使用波長(cháng)為1064納米，頻率為50HZ的脈沖激光，,每束脈沖激光功率為5.5毫焦耳。內置分光儀，分析波譜范圍為:190納米-620納米。使用內置氬氣。*低可檢測出0.015%的C。
軟件特性
測碳分析軟件包介紹：
l 不銹鋼C含量檢測專(zhuān)業(yè)分析曲線(xiàn)；可檢測的元素包括：C, Si, Al, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Nb, Mo, Se, W.
l 鐵基合金C含量檢測專(zhuān)業(yè)分析曲線(xiàn)； 可檢測的元素包括：C, Si, Al, Ti,V, Cr, Mn, (不同含量Fe ), Co, Ni, Cu, Nb, Mo, W, Pb.
l C 含量標配的檢測范圍 0-1%. 并提供擴展功能和建模軟件ProfileBuilder 可在臺式電腦或是平板電腦上運行，通過(guò)ProfileBuilder當C含量高于1%時(shí)候用戶(hù)可以自建針對高含量C的分析曲線(xiàn)。
l 碳當量公式和計算(CE) , Mn:C比例及剩余元素總量
l 碳含量校驗校準樣品和譜線(xiàn)漂移校正樣品.
任何現有的Z-200型都可以升級到Z-200 C或Z-200 C+。
性能概要
Z-200 C+ 能測不銹鋼和低合金鋼(LAS)中的低C，也能測量鑄鐵中的高C。 測試精度高達±0.005%，測試時(shí)間短，完成一個(gè)樣品測試需約10-20秒。 即使區分C含量差異為0.1%的碳鋼牌號，也只需10秒或更短的時(shí)間。詳細的性能參見(jiàn)下表。
| 技術(shù)規格 | |
| 重量 | 1.82kg帶電池 |
| 尺寸 | 21*30*12（cm) |
| 激發(fā)源 | 5-6 mj/脈沖，50赫茲重復頻率，1064 nm激光源 |
| 光譜/范圍 | 多CCD光譜儀:190 nm - 950 nm。 |
| 可用的應用程序 | Alloy Mode / Empirical mode/ Profile Builder/ Element Pro Mode |
| 光譜數據采集 | 在無(wú)門(mén)或門(mén)禁操作中收集的頻譜數據，用戶(hù)可設置的門(mén)控延遲 |
| 操作/氬氣凈化 | 在氬凈化環(huán)境中操作的用戶(hù)可更換的氬氣瓶。氬罐在更換前提供大約600個(gè)測試。 |
| 分析范圍 | 全元素分析 |
| 激光光柵 | 將激光對準需檢測位置進(jìn)行定向分析。光柵圖形16 x 16網(wǎng)格，256個(gè)位置。 |
| 電子信號處理 | ARM Cortex-A9雙核/1.2 GHz內存：1 GB DDR2內存，1 GB內存 |
| 自動(dòng)對焦 | 計算機控制手動(dòng)或自動(dòng)調整激光聚焦樣本位置 |
| 供電 | 可充電鋰電池，交流電源。 |
| 顯示 | 5"彩色觸摸屏智能手機顯示屏-PowerVR SGX540 3D圖形 |
| 數據存儲 | 8 GB SD |
| 通訊-數據傳輸 | Wifi,藍牙,USB。能連接到大多數設備，包括SciAps ProfileBuilder PC軟件。 |
| 樣品查看 | 在分析過(guò)程中，通過(guò)機載攝像機錄制樣本測試的視頻或圖片 |
| 校準檢查 | 通過(guò)測試材料為316不銹鋼的內部快門(mén)，完成自動(dòng)校準和波長(cháng)刻度驗證 |
| 漂移修正 | 只有對精度要求比較高的測試需要運行漂移修正功能 。通過(guò)測試工廠(chǎng)提供的標件自動(dòng)完成漂移校正 |
| 合金號庫 | 包含500多個(gè)合金 。用戶(hù)可以 運行ProfileBuilder軟件自行添加合金。 |
| 安全 | 密碼保護 |
| 標準配件 | 防水外殼，2鋰離子電池，充電器，USB線(xiàn)，標準用于導入的ProfileBuilder軟件，編輯合金級庫（合金應用），查看，保存結果，數據顯示。腕帶，工廠(chǎng)啟動(dòng)培訓支持，軟件 |
