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    便攜式X射線(xiàn)殘余應力分析儀 μ-X360s

    參考價(jià)面議
    具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準
    • 公司名稱(chēng)北京時(shí)代宏迪科技有限公司
    • 品       牌
    • 型       號μ-X360s
    • 所  在  地北京市
    • 廠(chǎng)商性質(zhì)其他
    • 更新時(shí)間2025/3/17 9:00:10
    • 訪(fǎng)問(wèn)次數44
    產(chǎn)品標簽:

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    北京時(shí)代宏迪科技有限公司是一家從事銷(xiāo)售法國M2M優(yōu)異相控陣探傷儀,加拿大Eddyfi渦流陣列,脈沖渦流、英國TSC 的ACFM,英國silverwing 銀翼儲罐漏磁檢測儀,英國teletest FOCUS導波檢測系統,加拿大inuktun 機器人檢測系統、 美國泛美-奧林巴斯檢測儀器、美國磁通的專(zhuān)業(yè)公司。我們代理的品牌有:法國M2M優(yōu)異相控陣探傷儀,加拿大Eddyfi渦流陣列,脈沖渦流、英國TSC 的ACFM,英國silverwing 銀翼儲罐漏磁檢測儀,英國teletest FOCUS導波檢測系統,加拿大inuktun 機器人檢測系統,奧林巴斯無(wú)損檢測(Olympus NDT)、美國磁通(Magnaflux)磁粉及滲透檢測設備、日本三豐(Mitutoyo)檢測設備等國際杰出品牌。多年來(lái)我們已經(jīng)為各種特殊行業(yè)提供檢測設備和技術(shù),比如說(shuō)航空、石化、造船、冶金、鐵路和核工業(yè)、常規能源、兵器、電訊和研究機械以及大型基礎設施。材料檢測為產(chǎn)品質(zhì)量提供了可靠的保證,同時(shí)增加了附加成本。但從另一角度考慮這一附加成本,質(zhì)量保證確實(shí)對節約潛在成本提供了有價(jià)值的代價(jià)。按*優(yōu)化的生產(chǎn)流程您可以獲得幾個(gè)關(guān)鍵性的好處,提高生產(chǎn)效率,降低失效的危險性,同時(shí)延長(cháng)設備的使用壽命。 良好的聲譽(yù) - 努力工作的回報,在此領(lǐng)域內建立起了良好的聲譽(yù),并得到來(lái)自于中國、歐共體、美國、日本等同行的認同。 豐富的經(jīng)驗 - 我們的銷(xiāo)售人員和技術(shù)人員都擁有多年的國內銷(xiāo)售經(jīng)驗和材料檢測領(lǐng)域方面的專(zhuān)業(yè)知識。 先鋒 - 自公司建立初期,北京時(shí)代宏迪科技有限公司就通過(guò)其高質(zhì)量的產(chǎn)品和上等服務(wù)成功地取得一致稱(chēng)贊的良好聲譽(yù)。為維持在這方面的優(yōu)勢,我們將繼續把大部份收入進(jìn)行再投資,以提供*的良好使用性能的設備和專(zhuān)業(yè)的服務(wù)。 一體化服務(wù) 在您需要技術(shù)服務(wù)時(shí),我們敬業(yè)的工程師和技術(shù)人員將隨時(shí)準備為您提供及時(shí)可靠的服務(wù)。 質(zhì)量控制 - 客戶(hù)有權了解我們公司出售的仕何設備都嚴格的遵循了國際質(zhì)量標準,我們的供貨商全都獲得了ISO質(zhì)量標準的認證。 法國M2M相控陣探傷儀、GEKKO32x128PR相控陣探傷儀、GEKKO64x64相控陣探傷儀、GEKKO64x128PR相控陣探傷儀,MANTIS相控陣探傷儀,CIVA無(wú)損檢測仿真軟件,GEKKO 64X128PR 相控陣探傷儀,PANTHER全聚焦相控陣探傷儀,Multi 2000系列、Multi X++ 系列、Multi X LF低頻高壓相控陣探傷儀。 美國泛美-奧林巴斯:超聲波測厚儀、超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、渦流探傷儀、渦流陣列探傷儀、霍爾效應測厚儀、復合材料探傷儀。 美國磁通:磁粉探傷儀、滲透劑、熒光滲透劑。
    電磁/電渦流測厚儀
    相較于傳統的X射線(xiàn)殘余應力測定儀,新一代μ-X360s具有以下優(yōu)點(diǎn):更快速:二維探測器一次性采集獲取完整德拜環(huán),單角度一次入射即可完成測量,全過(guò)程平均約60秒。更:一次測量可獲得500個(gè)數據點(diǎn)進(jìn)行殘余應力數據擬合,結果更。更輕松:無(wú)需測角儀,單角度一次入射即可,復雜形狀和狹窄空間的測量不再困難。更方便:測量精度高,無(wú)需冷卻水,野外工作無(wú)需外部供電。更強大:具備區域應力分布測量成像(Mapping)功能,晶粒大小、材料織構、殘余奧氏體分析等功能。
    便攜式X射線(xiàn)殘余應力分析儀 μ-X360s 產(chǎn)品信息
    日本Pulstec公司制造    型號:μ-X360s
       X射線(xiàn)是表面殘余應力測定技術(shù)中為數不多的無(wú)損檢測法之一,是根據材料或制品晶面間距的變化測定應力的,至今仍然是研究得*為廣泛、深入、成熟的內應力測量方法,被廣泛的應用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)的各領(lǐng)域。然而長(cháng)期以來(lái),大家使用的都是基于一維探測器的測量方法。2012年日本Pulstec公司開(kāi)發(fā)出世界基于全二維探測器技術(shù)的新一代X射線(xiàn)殘余應力分析儀——μ-X360n,將利用X射線(xiàn)研究殘余應力的測量速度和精度推到了一個(gè)全新的高度,設備推出不久便得到業(yè)界的廣泛好評。由于其技術(shù)之、測試數據可重復性之高、使用之便攜,設備一經(jīng)推出便備受業(yè)界青睞! 近期,日本Pulstec公司成功克服技術(shù)難點(diǎn),發(fā)布了新的產(chǎn)品型號:μ-X360s,將全二維面探測器技術(shù)的產(chǎn)品設計和功能完善再次升級!
     
       相較于傳統的X射線(xiàn)殘余應力測定儀,新一代μ-X360s具有以下優(yōu)點(diǎn):
    更快速:二維探測器一次性采集獲取完整德拜環(huán),單角度一次入射即可完成測量,全過(guò)程平均約60秒。
    :一次測量可獲得500個(gè)數據點(diǎn)進(jìn)行殘余應力數據擬合,結果更。
    更輕松:無(wú)需測角儀,單角度一次入射即可,復雜形狀和狹窄空間的測量不再困難。
    更方便:測量精度高,無(wú)需冷卻水,野外工作無(wú)需外部供電。
    更強大:具備區域應力分布測量成像(Mapping)功能,晶粒大小、材料織構、殘余奧氏體分析等功能。
     
    應用領(lǐng)域 
     
    1. 機械加工領(lǐng)域:測量機床、焊接、鑄造、鍛壓、裂紋等構件的殘余應力。
    2. 冶金行業(yè):測量熱壓、冷壓、煉鐵、煉鋼、煉鑄等工業(yè)生產(chǎn)構件的殘余應力。 
    3. 各種零配件制造:測量電站汽輪機制造、發(fā)動(dòng)機制造、油缸、壓力容器、管道、陶瓷、裝配、螺栓、彈簧、齒輪、軸承、軋輥、曲軸、活塞銷(xiāo)、萬(wàn)向節、機軸、葉片、刀具等工業(yè)產(chǎn)品的殘余應力。
    4. 表面改性處理:測量滲氮、滲碳、碳氮共滲、淬火、硬化處理、噴丸、振動(dòng)沖擊、擠壓、滾壓、金剛石碾壓、切削、磨削、車(chē)(銑)、機械拋光、電拋光等工藝處理后構件中的殘余應力。
    5. 民生基礎建設領(lǐng)域:
    (1)海洋領(lǐng)域:測量船舶、海洋、石油、化工、起重、運輸、港口等領(lǐng)域設備和設施的殘余應力
    (2)能源領(lǐng)域:測量核工業(yè)、電力(水利水電、熱電核電)、水利工程、天然氣工程等領(lǐng)域的設備和設施的殘余應力。
    (3)基礎建設工程領(lǐng)域:測量挖掘、橋梁、汽車(chē)、鐵路、航空航天、交通、鋼結構等工程領(lǐng)域所用材料、構件及其它相關(guān)設備設施的殘余應力。
    6. 工領(lǐng)域:測量裝備、重型裝備等產(chǎn)品的殘余應力。
     
    測試原理概述 
     
    傳統的點(diǎn)/線(xiàn)探測器技術(shù)  全二維面探測器技術(shù)
    ——通過(guò)測量應力引起的衍射角偏移,從而算出應力大小。測量時(shí)需要多次(一般5-7次)改變X射線(xiàn)的入射角,并且調整一維探測器的位置找到相應入射角的衍射角
    ——施加應力后,通過(guò)測角儀得到衍射角發(fā)生變化的角度,從而計算得到應力數據
    ——單角度一次入射后,利用二維探測器獲得完整德拜環(huán)。通過(guò)比較沒(méi)有應力時(shí)的德拜環(huán)和有應力狀態(tài)下的變形德拜環(huán)的差別來(lái)計算應力下晶面間距的變化以及對應的應力
    ——施加應力后,分析單次入射前后德拜環(huán)的變化,即可獲得全部殘余應力信息

    測試原理示意圖
     

     
    基本參數
     
    基本參數
    準直器尺寸 標配:直徑1mm  被照射面積直徑約2mm
    X射線(xiàn)管參數 30KV  1.5mA
    X射線(xiàn)管所用靶材 標配:鉻靶(可選配其他) 
    是否需要冷卻水 無(wú)需
    是否需要測角儀  無(wú)需 
    X射線(xiàn)入射角度  單一入射角即可獲取全部數據 
    所用探測器 二維探測器
    直接測量參數  殘余應力 衍射峰的半峰高全寬 
    測量時(shí)間  60秒鐘 
    電源參數  130W功率 110-240V 50-60HZ 
    可否戶(hù)外現場(chǎng)檢測  可以 便攜、可電池工作 
              X射線(xiàn)殘余應力分析儀(日本Pulstec制造,型號為μ-x360s)主要參數表
     

    應用軟件
    1. 二維探測器獲取完整德拜環(huán),單角度入射,一次測量
    2. 全自動(dòng)軟件測量殘余應力,半峰寬,殘余奧氏體等數據
    3. 內在定位標記和CCD相機方便樣品定位,操作極其簡(jiǎn)單快捷 
    4. 快捷進(jìn)入預設各種材料測量條件,一鍵執行測量  
     
     
    額外選件
    1. 殘留奧氏體分析
    用于提供自動(dòng)計算剩余奧氏體含量的軟件分析功能;增加該功能后系統軟件可以顯示在室溫下還沒(méi)有轉變的殘余奧氏體百分比含量
    2. XY掃描控制臺
    用于在平面內X方向和Y方向的調節探測器位置,對樣品表面進(jìn)行殘余應力面掃描,每一個(gè)方向的量程是20cm,調節精度為1μm
    3. 電解拋光裝置
    用電解拋光的方法去除金屬的表面逐層獲得下面金屬的殘余應力情況
    4. 振蕩單元裝置
    用于粗晶樣品殘余應力測試
    5.用戶(hù)自己換靶
    用戶(hù)可以自己更換X射線(xiàn)靶材以滿(mǎn)足更廣的測試材料需求,可換靶材包括:Cr,V,Cu,Co,Mn 
     

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