OmniScan ECA渦流陣列探傷儀
渦流陣列技術(shù)
渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應線(xiàn)圈，并解讀來(lái)自這些感應線(xiàn)圈的信號。通過(guò)使用多路技術(shù)采集數據， 可避免不同線(xiàn)圈之間的互感。
OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個(gè)感應線(xiàn)圈（使用外部多路器可支持的感應線(xiàn)圈多達64個(gè)）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的優(yōu)勢
同單通道渦流技術(shù)相比，渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢：
檢測時(shí)間大幅度降低。
單次掃查覆蓋更大檢測區域。
減小了機械和自動(dòng)掃查系統的復雜性。
提供檢測區域實(shí)時(shí)圖像，便于數據的判讀。
*地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。
改進(jìn)了檢測的可靠性和檢出率（POD）。
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領(lǐng)域。根據缺陷的不同類(lèi)型或者被測工件的形狀，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
OmniScan ECA渦流陣列探傷儀
| 渦流模塊的技術(shù)規格 | |
| 外型尺寸 （寬 x 高 x 厚） | 244毫米 x 182毫米 x 57毫米 （9.6英寸 x 7.1英寸 x 2.1英寸） |
| 重量 | 1.2公斤（2.6磅） |
| 接口 | 1個(gè)OmniScan®渦流陣列探頭接口 1個(gè)19針Fischer®渦流探頭接口 1個(gè)BNC接口 |
| 通道數量 | 32個(gè)通道，帶內置多路轉換器 |
| 探頭識別 | 自動(dòng)探頭識別和設置 |
| 發(fā)生器 | |
| 發(fā)生器數量 | 1個(gè)（帶內置電子參考） |
| 大電壓 | 12 Vp-p，10 Ω |
| 工作頻率 | 20 Hz～6 MHz |
| 帶寬 | 8 Hz～5 kHz（單線(xiàn)圈中）。同時(shí)隙成反比例關(guān)系，并通過(guò)儀器在多路模式下設定。 |
| 接收器 | |
| 接收器數量 | 1個(gè)～4個(gè) |
| 大輸入信號 | 1 Vp-p |
| 增益 | 28 dB～68 dB |
| 內置多路轉換器 | |
| 發(fā)生器數量 | 32個(gè)（８個(gè)時(shí)隙時(shí)，4個(gè)發(fā)生器同時(shí)工作；使用外部多路轉換器時(shí)，多達64個(gè)） |
| 大電壓 | 12 Vp-p，50 Ω |
| 接收器數量 | 4個(gè)差分接收器（每個(gè)8時(shí)隙） |
| 大輸入信號 | 1 Vp-p |
| 數據采集 | |
| 數字化頻率 | 40 MHz |
| 采集速率 | 1 Hz～15 kHz（單線(xiàn)圈中）。 速率可由儀器處理能力限制，或通過(guò)多路激發(fā)模式的延遲設定所限制。 |
| Ａ/D分辨率 | 16比特 |
| 數據處理 | |
| 相位旋轉 | 0°～360°，步距為0.1° |
| 濾波 | FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻（截止頻率可調）、中值濾波器（在2點(diǎn)～200點(diǎn)之間變化）、平均濾波器（在2點(diǎn)～200點(diǎn)之間變化 ） |
| 通道處理 | 混合 |
| 數據存儲 | |
| 大文件容量 | 取決于內部閃存空間：180 MB（或者300 MB，可選） |
| 數據同步 | |
| 按內部時(shí)鐘 | 1 Hz～15 kHz（單線(xiàn)圈） |
| 外部步速 | 有 |
| 按編碼器 | 單軸或雙軸 |
| 報警器 | |
| 報警器數量 | 3個(gè) |
| 報警區域形狀 | 扇形、倒置扇形、框形、倒置框形和環(huán)形 |
| 輸出類(lèi)型 | 視頻、音頻以及TTL信號 |
| 模擬輸出 | 1個(gè)（X或Y） |
主要應用： 緊固件表層裂紋檢測
制造商用型和型航天飛機時(shí)，要使用成千上萬(wàn)個(gè)緊固件將搭接的鋁制板材連接在一起。下層鋁板上的疲勞裂紋經(jīng)常會(huì )被一層蒙皮隱藏起來(lái)。要確保任何航天飛機的完好無(wú)損性，在定期的在役檢測過(guò)程中，必須探測到這些隱藏的缺陷，并進(jìn)行修復。
奧林巴斯開(kāi)發(fā)了一項用于對緊固件和近表層裂紋進(jìn)行檢測的創(chuàng )新型技術(shù)，作為航空航天系列解決方案的一部分。這個(gè)方案將渦流技術(shù)應用到一個(gè)尚未探知的領(lǐng)域。這個(gè)新技術(shù)可顯示飛機一層鋁制蒙皮下裂紋的極為清晰的圖像，可為用戶(hù)有效提供可靠的檢測結果。
特性
可替代磁光成像（MOI）。
32個(gè)線(xiàn)圈探頭可覆蓋寬大的范圍。
無(wú)需去除漆層；簡(jiǎn)化了操作過(guò)程，節省了大量時(shí)間。
使用持續模式，掃描圖像可以不間斷地顯示檢測結果。
數據記錄功能有助于制作專(zhuān)業(yè)性報告。
對探頭的放置要求不如滑動(dòng)式探頭那么嚴格。
經(jīng)過(guò)優(yōu)化后，可以探測商用型和型飛機鋁制板材之間的典型近表層裂紋。
