ATX210覆層測厚儀
ATX210覆層測厚儀概述
ATX210覆層測厚儀是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量;既可用于實(shí)驗室,也可用于工程現場(chǎng);廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域;是材料保護專(zhuān)業(yè)的儀器。
ATX210覆層測厚儀符合以下標準:
ATX210覆層測厚儀符合以下標準:
- GB/T4956-1985 磁性方法
- GB/T4957-1985 渦流方法
- JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測厚儀
- JG889-95 《磁阻法測厚儀》
- JJG818-93 《電渦流式測厚儀》
ATX210覆層測厚儀功能特點(diǎn)
- 采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無(wú)損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等),非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽(yáng)極氧化膜等)
- 具有兩種測量方式:連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
- 具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
- 設有五個(gè)統計量:平均值、值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(NO.)、標準偏差
- 可采用兩種方法對儀器進(jìn)行校準,并可用基本校準法對測頭的系統誤差進(jìn)行修正
- 具有存貯功能:可存貯100 個(gè)測量值
- 具有刪除功能:對測量中出現的單個(gè)可疑數據進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區內的所有數據
- 可設置限界:對限界外的測量值能自動(dòng)報警;并可用直方圖對一批測量值進(jìn)行分析
- 具有電源欠壓指示功能
- 操作過(guò)程有蜂鳴聲提示
- 具有錯誤提示功能,通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯誤提示
- 設有兩種關(guān)機方式:手動(dòng)關(guān)機方式和自動(dòng)關(guān)機方式
ATX210覆層測厚儀技術(shù)參數
- 測頭類(lèi)型:F | N
- 測量原理:磁感應 | 電渦流
- 測量范圍:0-1500um | 0-1500um 0-40um(銅上鍍鉻)
- 低限分辨力:0.1um
- 探頭連接方式:一體化
- 示值誤差:F | N
1. 一點(diǎn)校準(um):±[2%H+1]
2. 兩點(diǎn)校準(um):±[(1%~3%)H+1]
3. 一點(diǎn)校準(um):±[2%H+1.5]
4. 兩點(diǎn)校準(um):±[(1%~3%)H+1.5]
2. 兩點(diǎn)校準(um):±[(1%~3%)H+1]
3. 一點(diǎn)校準(um):±[2%H+1.5]
4. 兩點(diǎn)校準(um):±[(1%~3%)H+1.5]
- 測量條件:F | N
2. 基體最小面積的直徑(mm):ф7
3. 最小臨界厚度(mm):0.5
4. 最小曲率半徑(mm):凸3 | 凹10
5. 基體最小面積的直徑(mm):ф5
6. 最小臨界厚度(mm):0.3
- 溫濕度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
- 統計功能:平均值、值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(NO.)、標準偏差
- 工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
- 測量方式:連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
- 上下限設置:有
- 存儲能力:100個(gè)測量值
- 關(guān)機方式:手動(dòng)和自動(dòng)
- 電 源:二節AAA型(7號)1.5V電池
- 外形尺寸:110×50×23mm
- 重 量:100g
ATX210覆層測厚儀基本配置
- ATX210覆層測厚儀主機
- 鐵基體和鋁基體
- 標準片一套|五片
- 二節AA型(5號)1.5V電池
- 使用說(shuō)明書(shū)
ATX210覆層測厚儀可選附件
- 時(shí)代覆層測厚儀選型表