薄膜測厚儀FilmetricsF40
Filmetrics F40薄膜測厚儀
世界上等,經(jīng)濟有效的Filmetrics薄膜厚度測量系統,測量薄膜厚度僅需幾秒鐘。Filmetrics系列膜厚測試儀擁有單點(diǎn)測量、顯微鏡斑點(diǎn)測量、自動(dòng)測繪系統、在線(xiàn)監測等功能型號的膜厚測試儀產(chǎn)品。Filmetrics 膜厚測試儀產(chǎn)品輕點(diǎn)鼠標就能測量1納米到13毫米的單層薄膜或多層薄膜堆厚度。幾乎所有的材料都可以被測量。直觀(guān)的設計意味著(zhù)您能在幾分鐘內完成**個(gè)薄膜厚度測量！
Filmetrics F40主要用于測試各種透明半透明的膜厚.
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
可安裝在任何顯微鏡外，有三種不同波長(cháng)選擇(波長(cháng)范圍從可見(jiàn)光400nm至近紅外1700nm)；
測量的薄膜厚度范圍從20nm 到 20um，精度為 0.1nm ?？商峁?小10um光點(diǎn)(50倍放大倍數)來(lái)測量微小樣品。
產(chǎn)品特性：
操作簡(jiǎn)單、使用方便；
測量快速、準確；
體積小、重量輕；
價(jià)格便宜。
產(chǎn)品應用：
半導體行業(yè): 光阻、氧化物、氮化物；
LCD 行業(yè): 液晶盒間隙厚度、 Polyimides；
光電鍍膜應用: 硬化膜、抗反射膜、濾波片.
S5H400 TWG S7H160 TWG S7H12 S6H80 S5H6 S5H400P S5H63 S5H400 S3H25 S3H16 S7S160 S7S1250 TH28 S6S800 TH28 S6S160 S6S125 S6S8 S7S1 S7S125 YIDA35N S6S80 YIDA35RQD S2S160 S5N80 S5N630 YIDA35R S5N400 PR YIDA32PQD S5N800 YIDA32P S5N630 S5N400 S5N800 YIDA32NQD S5N63 YIDA32N S5N400 TH1772B YIDA32RQD TH1773 S5N630YIDA32R S5N40
