LST-332普通四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀
- 四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀描述：
采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語(yǔ)言版本.
二.參照標準：
硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針?lè )ā?/span>.
三.適用范圍：
適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗和分析半導體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動(dòng)測量和系數補償，并帶有溫度補償功能，自動(dòng)轉換量程；采用AD芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數據，生成報表
用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試等相關(guān)產(chǎn)品
四.型號及參數
規格型 | LST-332 |
1.方塊電阻范圍 | 10-4～2×105Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 10-5～2×106Ω-cm
|
測試電流范圍
| 10μA，100µA，1mA，10mA，100mA |
4.電流精度 | ±0.2%
|
5.電阻精度 | ≤0.3% |
6.顯示讀數 | 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率 |
7.測試方式 | 普通單電測量 |
8.工作電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
9.誤差 | ≤4%（標準樣片結果） |
10.選購功能 | 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線(xiàn)形探頭； 選購4.測試平臺；5.標準電阻 |
11.測試探頭 | 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針 |
配套方案：解決各材料狀態(tài) --固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)、顆粒狀 電阻、電阻率、電導率測量
縱橫金鼎儀器-------專(zhuān)注于新材料測量與分析儀器解決方案
----解決材料：
導體、半導體、絕緣材料常溫及高溫等環(huán)境下電性能分析.
----我們一直在做：
研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售、租賃、實(shí)驗室樣品分析及后延擴展服務(wù).
