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    介電常數及介質(zhì)損耗測定儀廠(chǎng)家

    參考價(jià)面議
    具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準
    • 公司名稱(chēng)北京縱橫金鼎儀器設備有限公司
    • 品       牌
    • 型       號
    • 所  在  地北京市
    • 廠(chǎng)商性質(zhì)其他
    • 更新時(shí)間2025/4/23 8:10:24
    • 訪(fǎng)問(wèn)次數4
    產(chǎn)品標簽:

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    北京縱橫金鼎儀器設備有限公司(簡(jiǎn)稱(chēng)金鼎儀器,JDYQ) 于2016年注冊成立,注冊資金5000萬(wàn)元。是以中國航空航天研究院,清華大學(xué),北京航空航天大學(xué)北京工業(yè)大學(xué)精儀系專(zhuān)家作為公司技術(shù)團隊。公司致力于各類(lèi)試驗儀器的研發(fā)、生產(chǎn)、制造及銷(xiāo)售, 并有自主研發(fā)軟件的專(zhuān)業(yè)團隊, 公司總部坐落于美麗富饒的政治經(jīng)濟文化交流中心一北京市,物華天寶,人杰地靈。公司自創(chuàng )建以來(lái),一直保持著(zhù) 健康穩定的發(fā)展態(tài)勢,并以超過(guò)%的年均增長(cháng)速度快速持續發(fā)展,善的客戶(hù)服務(wù)體系,確保了金鼎儀器產(chǎn)品的設計*,質(zhì)量穩定,供貨及時(shí)和服務(wù)周到。公司擁有自主的設計資質(zhì),已獲得十余項國家Z利產(chǎn)品。公司擁有一批專(zhuān)業(yè)從事設計、 制造、安裝調試及售后服務(wù)的員工隊伍:在軟件設計和技術(shù)研發(fā)上,公司擁有清華大學(xué)、工業(yè)大學(xué)高級工程師的專(zhuān)家團隊和專(zhuān)業(yè)*、勇于創(chuàng )新的中青年專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員和項目人員;鼎儀器本著(zhù)“鑄造輝煌,唯有質(zhì)量”的堅定信念。鼎儀器立志打造專(zhuān)業(yè)精深,通過(guò)不斷創(chuàng )新及與用戶(hù)的深入合作持續改進(jìn)產(chǎn)品,保證用戶(hù)對品牌的長(cháng)期信任。我們對品牌成功的定義或許與眾不同,我們的目標是成為國內用戶(hù)二次購買(mǎi)率的試驗儀機品牌,即用戶(hù)流失率的企業(yè)。展望未來(lái),鴿儀器正在以打造基業(yè)長(cháng)青百年企業(yè)的發(fā)展目標為指導,全面提升內部管控,按照專(zhuān)業(yè)化、規?;?、品牌化、資本化的發(fā)展策略,先。同時(shí),金鼎儀器不斷致力于與企業(yè)集團強強合作,以共創(chuàng )中國精密儀器行業(yè)的美好明天而不斷努力。
    描述:介電常數及介質(zhì)損耗測定儀廠(chǎng)家實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數)的標準試驗方法1本標準是以固定代號D150發(fā)布的。其后的數字表示原文本正式通過(guò)的年號;在有修訂的情況下,為上一次的修訂年號;圓括號中數字為上一次重新確認的年號。
    介電常數及介質(zhì)損耗測定儀廠(chǎng)家 產(chǎn)品信息

     

    產(chǎn)品名稱(chēng):介電常數及介質(zhì)損耗測定儀廠(chǎng)家

    產(chǎn)品型號:LJD-B、LJD-C、QS-37

    符合標準:GB/T1409、GB/T5594

    產(chǎn)品用途:固體、液體絕緣材料的介電常數及介質(zhì)損耗測試

    適用材料:橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等

    測試范圍:10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ

    主要配置:主機Q表、夾具、電感組成

    測試項目:介電常數、介質(zhì)損耗、介質(zhì)損耗因數、介質(zhì)損耗角正切值

    使用人群:科研所、教學(xué)、質(zhì)量、單位等

    付款方式:全款發(fā)貨

    產(chǎn)品品牌:縱橫金鼎儀器

    產(chǎn)品貨期:1-3個(gè)工作日

    產(chǎn)品類(lèi)別:電性能檢測儀器

     

    ASTM D150-11

    實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和

    電容率(介電常數)的標準試驗方法1

    本標準是以固定代號D150發(fā)布的。其后的數字表示原文本正式通過(guò)的年號;在有修訂的情況下,為上一次的修訂年號;圓括號中數字為上一次重新確認的年號。上標符號(ε)表示對上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。  介電常數及介質(zhì)損耗測定儀廠(chǎng)家
        本標準經(jīng)批準用于所有機構。
    1.介電常數測試儀范圍
    1.1 本試驗方法包含當所用標準為集成阻抗時(shí),實(shí)心電絕緣材料樣本的相對電容率,耗散因子,損耗指數,功率因子,相位角和損耗角的測定。列出的頻率范圍從小于1Hz到幾百兆赫茲。

    注1:在普遍的用法,“相對”一詞經(jīng)常是指下降值。

    1.2 這些試驗方法提供了各種電極,裝置和測量技術(shù)的通用信息。讀者如對某一特定材料相關(guān)的議題感興趣的話(huà),必須查閱ASTM標準或直接適用于被測試材料的其它文件。2,3

    1.3  本標準并沒(méi)有列舉所有的安全聲明,如果有必要,根據實(shí)際使用情況進(jìn)行斟酌。使用本規范前,使用者有責任制定符合安全和健康要求的條例和規范,并明確該規范的使用范圍。特殊危險說(shuō)明見(jiàn)7.2.6.1和10.2.1。

    1 本規范歸屬于電學(xué)和電子絕緣材料ASTM D09委員會(huì )管轄,并由電學(xué)試驗D09.12附屬委員分會(huì )直接管理。

    當前版本核準于2011年8月1日。2011年8月發(fā)行。原版本在1922年批準。前一較新版本于2004年批準,即為 D150-98R04。DOI:10.1520/D0150-11。

    2 R. Bartnikas, 第2章, “交流電損耗和電容率測量,” 工程電介質(zhì), Vol. IIB, 實(shí)心絕緣材料的電學(xué)性能, 測量技術(shù), R. Bartnikas, Editor, STP 926,ASTM, Philadelphia, 1987.

    3 R. Bartnikas, 第1章, “固體電介質(zhì)損耗,” 工程電介質(zhì),Vol IIA, 實(shí)心絕緣材料的電學(xué)性能: 分子結構和電學(xué)行為, R. Bartnikas and R. M. Eichorn, Editors, STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983.

    2.介電常數測試儀引用文件
    2.1 ASTM標準:4

    D374     固體電絕緣材料厚度的標準試驗方法

    D618     試驗用塑料調節規程

    D1082    云母耗散因子和電容率(介電常數)試驗方法

    D1531    用液體位移法測定相對電容率(介電常數)與耗散因子的試驗方法

    D1711    電絕緣相關(guān)術(shù)語(yǔ)

    D5032    用飽和甘油溶液方式維持恒定相對濕度的規程

    E104     用水溶液保持相對恒定濕度的標準實(shí)施規程

    E197     室溫之上和之下試驗用罩殼和服役元件規程(1981年取消)5

    3.介電常數測試儀術(shù)語(yǔ)

    3.1 定義:

    3.1.1 這些試驗方法所用術(shù)語(yǔ)定義以及電絕緣材料相關(guān)術(shù)語(yǔ)定義見(jiàn)術(shù)語(yǔ)標準D1711。

    3.2 本標準術(shù)語(yǔ)定義:

    3.2.1 電容,C,名詞——當導體之間存在電勢差時(shí),導體和電介質(zhì)系統允許儲存電分離電荷的性能。

    3.2.1.1 討論——電容是指電流電量 q與電位差V之間的比值。電容值總是正值。當電量采用庫倫為單位,電位采用伏特為單位時(shí),電容單位為法拉,即:

    C=q/V          ?。?)

    3.2.2 耗散因子(D),(損耗角正切),(tanδ),名詞——是指損耗指數(K'')與相對電容率(K')之間的比值,它還等于其損耗角(δ)的正切值或者其相位角(θ)的余切值(見(jiàn)圖1和圖2)。

    D=K''/K'     (2)

    4 相關(guān)ASTM標準,可瀏覽ASTM網(wǎng)站,或與ASTM客服service聯(lián)系。ASTM標準手冊卷次信息,可參見(jiàn)ASTM網(wǎng)站標準文件匯總。

    5 該歷史標準的較后批準版本參考網(wǎng)站

    3.2.2.1 討論——a:

    D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp        (3)

    式中:

    G=等效交流電導,

    Xp=并聯(lián)電抗,

    Rp=等效交流并聯(lián)電阻,

    Cp=并聯(lián)電容,

    ω=2πf(假設為正弦波形狀)

    耗散因子的倒數為品質(zhì)因子Q,有時(shí)成為儲能因子。對于串聯(lián)和并聯(lián)模型,電容器耗散因子D都是相同的,按如下表示為:

    D=ωRsCs=1/ωRpCp        (4)

    串聯(lián)和并聯(lián)部分之間的關(guān)系滿(mǎn)足以下要求:

    Cp=Cs/(1 D2)             (5)

    Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2             (6)

    4、數據采集和tanδ自動(dòng)測量控件(裝入LJD-C),實(shí)現了數據采集、數據分析和計算的微處理化,tanδ 測量結果的獲得無(wú)須繁瑣的人工處理,因而提高了數據的精確度和測量的同一性,是人工讀值和人工計算*的。

    三、主要技術(shù)特性及配置

    主要配置

    序號

    構      成

    型   號

    數量

    制  造  廠(chǎng)  家

    1

    主機

    LJD-C

    1臺

    縱橫金鼎

    測試裝置(夾具)

    S916

    1臺

    縱橫金鼎

    標準電感

    LKI-1

    1套

     縱橫金鼎

    2

    三電極系統(油中、空氣中)   油中帶油槽  

     

    各1套

     縱橫金鼎

    3

    油槽

     

    1臺

     

    4

    日常維修工具

     

    1套

     
     

    說(shuō)明書(shū)

       

    介電常數測試儀/GB/T1409-2006介電常數介質(zhì)損耗測試儀/相對介電常數測試儀/介質(zhì)損耗測試儀/介質(zhì)損耗因數測試儀/介質(zhì)損耗角正切值測試儀/GB/T1693-2007硫化橡膠高頻介電常數測試儀/工頻介電常數測試儀/固體介電常數介質(zhì)損耗測試儀/液體介電常數介質(zhì)損耗測試儀/材料介質(zhì)損耗和電容率測試儀/阻抗分析儀/GBT5594.4-2015陶瓷件介電常數測試儀/ASTM D150-11交流損耗特性和電容率測試儀/介電常數及介損測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項技術(shù)。

    雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。

    雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。

    雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。

    自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。

    全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

    DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩定。

    計算機自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至z低, Q 讀數值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

     

    二、主要技術(shù)特性:

    *1.信號源: DDS數字合成信號 100KHZ-160MHZ

    *2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數

    3.Q值測量范圍:1~1023

    4.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔;

    *5.電感測量范圍:1nH~140mH 自身殘余電感和測試引線(xiàn)電感的自動(dòng)扣除功能

    *6.電容直接測量范圍:1pF~25nF                                       

    7.主電容調節范圍: 17~240pF                                         

    8.準確度 150pF以下±1pF;150pF以上±1% 

    9.信號源頻率覆蓋范圍100kHz~160MHz

    10.合格指示預置功能范圍:5~1000

    11.環(huán)境溫度:0℃~+40℃;

    12.消耗功率:約25W;電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

    13. S916(數顯)介電常數εr和介質(zhì)損耗因數tanδ測試裝置:

    數顯式微桿,平板電容器:

    極片尺寸: 38mm

    極片間距可調范圍:≥15mm

    夾具插頭間距:25mm±0.01mm

    夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

    測微桿分辨率:0.001mm

    測試極片:材料測量直徑Φ38mm厚度可調 ≥ 15mm 

    *液體杯:測量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm

    14. 介電常數測試儀/GB/T1409-2006介電常數介質(zhì)損耗測試儀/相對介電常數測試儀/介質(zhì)損耗測試儀/介質(zhì)損耗因數測試儀/介質(zhì)損耗角正切值測試儀/GB/T1693-2007硫化橡膠高頻介電常數測試儀/工頻介電常數測試儀/固體介電常數介質(zhì)損耗測試儀/液體介電常數介質(zhì)損耗測試儀/材料介質(zhì)損耗和電容率測試儀/阻抗分析儀/GBT5594.4-2015陶瓷件介電常數測試儀/ASTM D150-11交流損耗特性和電容率測試儀/介電常數及介損測試儀電感組LKI-1:

    分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個(gè)電感組成。

     

    三、配置:

    主機    一臺

    電感    九支

    夾具    一套

    液體杯 一套

    隨機文件一套

     

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