介電強度測試儀

介電強度測試儀符合美標ASTM D149、國標GB/T1408、GB/T1695-2005、GB/T3333、GB12913-2008、JJG 795-2004標準，詳細參數請致電咨詢(xún)！

在工業(yè)頻率下固體電氣絕緣材料的擊穿電壓、介電強度

和絕緣強度的標準測試方法1

本標準是以固定代號D149發(fā)布的。其后的數字表示原文本正式通過(guò)的年號；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號；圓括號中數字為上一次重新確認的年號。上標符號（ε）表示對上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。

本標準已經(jīng)批準被機構采用。 

介電強度測試儀基本介紹：

產(chǎn)品型號：LJC-20KV、LJC-50KV、LJC-100KV/LJC-150KV

產(chǎn)品品牌：北京中航鼎力

控制方式：計算機控制

符合標準：GB/T1408、ASTM D149等

適用材料：橡膠、塑料、薄膜、陶瓷、玻璃、漆膜、樹(shù)脂、電線(xiàn)電纜、絕緣油等絕緣材料

測試項目：擊穿電壓測試、介電強度測試、電氣強度測試、耐電壓擊穿強度測試等

試驗電壓：20KV、50KV、100KV、150KV等

電壓精度：≤1%-≤5%

適用材料：絕緣材料

升壓速率：0.1KV/S-3KV/S

試驗方式：交流/直流、耐壓、擊穿、梯度升壓

控制系統：PLC控制升壓

核心部件：采用進(jìn)口配件

試驗介質(zhì)：絕緣油、空氣

顯示方式：曲線(xiàn)顯示、數據打印

設備組成：主機、計算機、電極

電極規格：25mm、75mm、6mm

電器容量：3KVA、5KVA、10KVA

耐壓時(shí)間：0-8H

安全保護：九級安全保護

質(zhì)保日期：三年、終身維護。

培訓方式：工程師上門(mén)培訓安裝

出據證書(shū)：514所、304所、科學(xué)研究院等單位均可

主機尺寸：700*800*1300mm、1900*1300*1700mm

主機重量：100KG、200KG 

1. 范圍

1.1 該試驗方法覆蓋了在工業(yè)頻率下，即所規定的特定條件下，測定固體絕緣材料絕緣強度的流程。2，3

1.2 除非另有說(shuō)明，否則本測試的規定頻率為60Hz。但是，該測試方法同樣可以應用于25到800Hz的條件下。如果頻率大于800Hz，那么將產(chǎn)生介質(zhì)加熱的問(wèn)題。

1.3 本測試方法將與其他ASTM標準或涉及該試驗方法的其他標準結合使用。本方法的參考文獻中將詳細說(shuō)明所使用的具體標準（參見(jiàn)5.5）。

1.4 本方法可以應用于各種溫度，以及適宜的氣相或液相環(huán)境介質(zhì)。

1.5 本方法不能用于測定在本測試條件下為液態(tài)的絕緣材料。

1.6 本方法不能用于測定本征絕緣強度，直流電絕緣強度，或是電應力條件下的熱失效（參考測試方法D3151）。

1.7 本測試方法常用于測定擊穿電壓與試樣厚度的關(guān)系（擊穿）。也能測定擊穿電壓與固體試樣表面情況以及氣相或液相環(huán)境介質(zhì)的關(guān)系（閃絡(luò )）。如果加上第12條的修改說(shuō)明，本測試方法還能用于驗證試驗。

1.8 本測試方法與電工協(xié)會(huì )（IEC)出版的243-1標準類(lèi)似。本方法中的所有流程包含在IEC 243-1標準中。本方法和IEC 243-1主要是在編輯上有所區別。

1.9 本標準并沒(méi)有列舉所有的安全聲明，如果有必要，根據實(shí)際使用情況進(jìn)行斟酌。使用本規范前，使用者有責任制定符合安全和健康要求的條例和規范，并明確該規范的使用范圍。具體的危害將在第7部分中闡述。也可以參見(jiàn)6.4.1節。

2. 引用文件

2.1 ASTM標準：4

D374  固體電絕緣體厚度的測試方法（2013年取消）5

D618  試驗用調節塑料操作規程

D877  用圓盤(pán)電極測定電絕緣液體介電擊穿電壓的試驗方法

D1711  電絕緣相關(guān)術(shù)語(yǔ)

D2413  用液體介質(zhì)浸漬的絕緣紙和紙板的制備規程

D3151  在電氣應力下固體電氣絕緣材料的熱失效的測試方法（2007年取消）5

D3487  在電設備中使用的礦物絕緣油的標準規范

D5423  強制對流試驗爐中的電氣絕緣評估規范

2.2 IEC標準

出版物243-1  固體絕緣材料介電強度的試驗方法—第1部分：在工業(yè)頻率下測試6

2.3 ANSI標準

C68.1  絕緣測試技術(shù)，IEEE標準號4 7

1 本試驗方法在A(yíng)STM委員會(huì )D09（電子和電氣絕緣材料）的管轄范圍內，D09.12分會(huì )（電學(xué)試驗）負直接責任。

本版本于2013年4月1日被批準，2013年4月出版。首版于1922年被批準。上一版為D149-09于2009年被批準。 DOI: 10.1520/D0149-09R13。

2 Bartnikas, R., 第3章, “高電壓測量,” 固體絕緣材料的電學(xué)性能,測量技術(shù), 第IIB卷, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas, Editor, ASTM STP 926, ASTM, Philadelphia, 1987。

3 Nelson, J. K., 第5章, “固體的電介質(zhì)擊穿,” 固體絕緣材料的電學(xué)性能: 分子結構和電學(xué)行為, 第IIA卷, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas和R. M. Eichorn,Editors, ASTM STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983。

 5 該歷史標準的新批準版本見(jiàn)

6 可從電工學(xué)協(xié)會(huì )（IEC）獲得，地址：3 rue de Varembé, Case postale 131, CH-1211, Geneva 20, 

7可從美國國家標準協(xié)會(huì ) (ANSI)獲得，地址：25 W. 43rd St.,4th Floor, New York, NY 10036,  

3. 術(shù)語(yǔ)

3.1 定義：

3.1.1 介質(zhì)擊穿電壓（電擊穿電壓），名詞：使得位于兩個(gè)電極之間的絕緣材料失去介電性能的電勢差（參見(jiàn)附錄X1）。

3.1.1.1 討論一介質(zhì)擊穿電壓有時(shí)也簡(jiǎn)稱(chēng)“擊穿電壓”。

3.1.2 介電失效（在測試中），名詞：指在測試限制的電場(chǎng)條件下，能夠持久由介電電導率上升所證明的情況。

3.1.3 絕緣強度，名詞：指在測試的特定條件下，使得絕緣材料介電失效時(shí)的電壓梯度。

3.1.4 電氣強度，名詞：參見(jiàn)絕緣強度。

3.1.4.1 討論一在上，“電氣強度”更常用些。

3.1.5 閃絡(luò )，名詞：指發(fā)生在絕緣體或絕緣體周?chē)橘|(zhì)的破壞性電火花，不一定對絕緣體產(chǎn)生yong久損害。

3.1.6 其他與固體絕緣體材料相關(guān)術(shù)語(yǔ)的定義，參見(jiàn)術(shù)語(yǔ)D1711。

4. 測試方法概要

4.1 在工業(yè)電頻率條件下（如無(wú)特殊說(shuō)明，則為60Hz），對測試樣品采用不同的電壓。以使用電壓所描述三種方法中的一種，將電壓從0或從低于擊穿電壓的恰當電壓開(kāi)始，升高到測試樣品發(fā)生介電失效為止。

4.2 大多數情況下，在測試樣品的兩邊安裝簡(jiǎn)單的測試電極，以進(jìn)行電壓測試。測試樣品可以是模制的，也可以是鑄造的，或是從扁平薄板或厚板上切割下來(lái)的。也可以使用其他的電極或樣品結構以適應樣品材料的幾何形狀，或是模擬正在被評估材料的特定用途。

5. 意義和使用

5.1 電絕緣材料的絕緣強度是決定材料可以在何種條件下使用的關(guān)鍵性能。在很多情況下，材料的絕緣強度是所使用裝置設計的決定性因素。

5.2 本方法中介紹的測試，將用于提供部分所需的信息，以判斷材料在一定應用條件下的適用性；當然也能用于檢測由于流程的變化，老化的程度，或是其他制造或環(huán)境條件而造成的變化或是與正常特征的偏差。該測試方法可以有效地應用于流程控制，驗證或研究測試。

5.3 本測試方法所獲得的結果，很少能直接用于實(shí)際使用材料介電性能的判斷。在大多數情況下，還需要對其他功能測試和/或對其他材料測試所獲得的結果進(jìn)行比較，以估計出它們對特定材料的影響，才能進(jìn)行評價(jià)。

5.4 在第12章中將具體說(shuō)明三種電壓使用方法。方法A，快速測試；方法B，逐步測試；方法C，慢速測試。方法A常用于質(zhì)量控制測試。較費時(shí)的方法B和C通常給出較低的結果，但在對不同材料進(jìn)行相互比較時(shí)，它們所給出的結果更有說(shuō)服力。如果可以安裝電動(dòng)電壓控制器，那么慢速測試法將比逐步測試法更簡(jiǎn)單，也更常用。方法B和C所獲得的結果可以相互比較。

5.5 詳細說(shuō)明本測試法的文件如下：

5.5.1 電壓應用的方法。

5.5.2 如果是慢速測試法，應說(shuō)明電壓的增速。

5.5.3 測試樣品的選擇，準備和調整。

5.5.4 測試時(shí)的環(huán)境介質(zhì)和溫度。

5.5.5 電極。

5.5.6 在可能的情況下，電流傳感元件失效的標準，以及，

5.5.7 以及任何與推薦流程的偏差。

5.6 如果5.5所列要求沒(méi)有出現在說(shuō)明文件中，可按以下推薦進(jìn)行處理。

5.7 如果5.5所列的條目沒(méi)有詳細說(shuō)明，那么就是在參考就不充分條件下進(jìn)行測試，則測試不符合本方法的要求。如果5.5所列的條目沒(méi)有獲得嚴格控制，那么就無(wú)法實(shí)現15.2和15.3所陳述的精度。

5.8 電流傳感元件失效標準（電流設定和反應時(shí)間）的變化將明顯影響測試結果。

5.9 附錄X1包含了對絕緣強度測試顯著(zhù)性更為復雜的討論。 

6. 裝置

6.1 電壓源—由變化正弦低壓電源通過(guò)升壓變壓器提供測試電壓。作為電壓源的變壓器及相關(guān)的控制應具有以下功能：

6.1.1 電壓峰值與電壓有效值的比率應等于根號2±5%(1.34到1.48)，對于電路中的測試樣品，所有的電壓都應大于擊穿電壓的50%。

6.1.2 電壓應具有滿(mǎn)足維持到擊穿電壓的能力。對于大多數的材料來(lái)說(shuō)，使用與表1所示電極相似的電極，輸出電流強度為40mA就可以了。對于更復雜的電極結構，或是對于高損耗測試材料，則需要更高的電流。對于大多數測試來(lái)說(shuō)，電源需要在測試低電容的0.5kVA，10kV到5kVA，100kV的范圍內變化。

表1  用于不同絕緣材料絕緣強度測試的典型電極A

A 在A(yíng)STM標準中，這些電極都是常被或是被參考使用的。除了5型電極外，不建議將電極用于平面材料以外材料。ASTM使用的其他電極或是買(mǎi)賣(mài)雙方都認可但本表中未列出的其他電極也適于對測定材料進(jìn)行評測。

B 電極通常采用黃銅或不銹鋼制造。應參考控制被測材料的標準，以確定材料是否合適。

C 電極表面應拋光并清除上次測試留下的雜物。

D 參考恰當的標準，以確定所安裝上側電極的負載力。除非另有說(shuō)明，否則上側電極應重50±2g。

E 參考恰當的標準，以確定適當間距的梯度。

F IEC出版物243-1給出了6型電極，以測定平板材料。對于電極的同心度來(lái)說(shuō)，他們沒(méi)有1型和2型電極那么重要。

G 只要測試樣品圓形邊緣的內側直徑大于15mm，也可使用其他直徑。

H 7型電極，即注G中所描述的電極，由IEC出版物243-1給出，測量時(shí)應平行與表面。

6.1.3 根據12.2，對可變低壓源的控制可以改變電源的壓力，使得合成的測試電壓流暢，均勻，沒(méi)有超量或是瞬變。在任何環(huán)境下，都不允許峰值電壓超過(guò)顯示電壓有效值的1.48倍。電機驅動(dòng)控制器更適合于進(jìn)行快速測試（參見(jiàn)12.2.1）或慢速測試（參見(jiàn)12.2.3)。

6.1.4 在電源上安裝可以在三個(gè)周期內運行的切斷設備。該設備將電壓源設備與電源設備切斷，以保護電壓源不受試樣擊穿造成設備過(guò)載的影響。如果破裂后保持持續的電流，將造成測試樣品不必要的燃燒，電極的點(diǎn)蝕并污染液體環(huán)境介質(zhì)。

6.1.5 斷路設備應具有位于次級升壓變壓器上可以調節電流的檢測元件，以便根據測試樣的性質(zhì)進(jìn)行調整和排列，以檢測試驗電流。設置檢測元件以應對12.3所定義的測試樣擊穿電流。

6.1.6 電流設置對測試結果具有重大影響。設置應足夠高，使得短暫電壓，例如局部放電，無(wú)法通過(guò)斷路器，如果不夠高，將擊穿過(guò)度燃燒的測試樣，并造成電極的損壞。優(yōu)化的電流設置并不能適用于所有的測試樣，這有賴(lài)于材料的具體使用情況以及測試的目的，有必要以多個(gè)電流設置對所給測試樣進(jìn)行測試。電極區域對電流的設置選擇具有重大的影響。

6.1.7 測試樣電流感應元件應位于升壓變壓器的前端。按測試樣電流校準電流檢測刻度。

6.1.8 應小心設置電流控制響應。如果控制設置得太高，在擊穿發(fā)生時(shí)，將不會(huì )產(chǎn)生響應。如果設置得太低，就會(huì )對漏電電流，電容電流或局部放電電流（電暈）產(chǎn)生響應，或在檢測元件位于前端時(shí)，對升壓變壓器的磁化電流產(chǎn)生響應。

6.2 電壓測量—備有電壓表以測定測試電壓有效值。應采用可以讀取峰值的電壓計，將讀數除以即為有效值。電壓測量電路的總體誤差不能超過(guò)測量值的5%。另外，無(wú)論采用何種速度，電壓計響應時(shí)間的滯后率不得超過(guò)全程的1％。

6.2.1 通過(guò)將電壓計或潛在變壓器連接到測試樣電極上，或連接到變壓器上獨立的電壓計線(xiàn)圈上，以測定電壓。后一種連接方式將不會(huì )影響升壓變壓器的負載。

6.2.2 要求電壓計大可讀電壓要大于擊穿電壓，以便能夠準確讀取和記錄擊穿電壓。

6.3 電極—對于給定的測試樣結構，擊穿電壓還是會(huì )由于測試電極的幾何形狀以及安裝位置而產(chǎn)生相當大的變化。出于這個(gè)原因，在該測試方法時(shí)，應說(shuō)明所使用的電極，并在報告中進(jìn)行說(shuō)明就顯得很重要了。

6.3.1 參考本測試方法的文件詳細說(shuō)明了表1中所列的電極。如果沒(méi)有詳細說(shuō)明的電極，那么應從表1中挑選合適的電極，或在由于被測試材料的性質(zhì)或結構而無(wú)法使用標準電極的情況下，采用雙方都認可的其他電極。一些特殊電極的例子，可以參見(jiàn)附錄X2。無(wú)論何種情況，都應在報告中說(shuō)明所采用的電極。

6.3.2 表1中的1到4型及6型電極的整個(gè)平面都應與測試樣相接觸。

6.3.3 采用7型電極測試的測試樣，在測試中應處于電極內，其到電極邊緣的距離不得少于15mm。在大多數情況下，使用7型電極進(jìn)行測試時(shí)，其電極表面應處于垂直位置。水平放置電極的測試不能與垂直放置電極的測試進(jìn)行直接比較，尤其對于在液相環(huán)境介質(zhì)進(jìn)行的測試。

6.3.4 保持電極表面的清潔和光滑，清除先前測試所留下的雜物。如果電極表面粗糙，則應及時(shí)更換電極。

6.3.5 對電極的初次生產(chǎn)和隨后的表面重修應維持電極的特定結構以及光潔度，這是非常重要的。電極表面的平整度和表面光潔度應保證電極的整個(gè)區域都能與測試樣緊密接觸。在測試非常薄的材料時(shí)，表面光潔度將尤為重要，這是由于電極不恰當的表面會(huì )對測試材料產(chǎn)生物理?yè)p壞。表面重修時(shí)，不能改變電極表面與特定邊緣半徑之間的過(guò)渡。

6.3.6無(wú)論在大小或形狀上有多大的差別，位于應力集中處的電極，通常是比較大的且具有大半徑的那一個(gè)，應具有接地電位。

6.3.7 在一些特定的液相金屬電極中，將使用電極箔，金屬球，水或導電涂層電極。應該認識到這造成了所得結果與其他類(lèi)型電極所獲得的結果之間存在很大的不同。

6.3.8 由于電極對測試結果的影響，常常會(huì )得到一些額外的信息，以至于需要對多種電極進(jìn)行測試才能了解一個(gè)材料（或一組材料）的絕緣性能。這對于研究測試尤為具有價(jià)值。

6.4 環(huán)境介質(zhì)—有關(guān)本測試法的文件應說(shuō)明環(huán)境介質(zhì)和測試溫度。為了避免閃絡(luò )以及使擊穿前局部放電的影響小化，即使是對于快速測試，應更傾向于甚至是必須在絕緣液中進(jìn)行測試（參見(jiàn)6.4.1）。絕緣液中獲得的擊穿值不能與空氣中獲得的值進(jìn)行比較。絕緣液的性質(zhì)和前次使用的程度也會(huì )影響測試的結果。在某些場(chǎng)合，在空氣中進(jìn)行測試，需要大量的測試樣，或者會(huì )在擊穿前，造成嚴重的表面放電以及燒蝕。一些在空氣中測試的電極系統應在電極周?chē)蠅毫|片以防止閃絡(luò )。電極周?chē)鷫|片或封條的材料將影響擊穿電壓值。

6.4.1 如果在絕緣油中進(jìn)行測試，應提供適當大小的油池。（注意—在測試電壓高于10kV時(shí)，并不推薦使用玻璃容器，因為擊穿所釋放出來(lái)的能量足以擊碎容器。而金屬池必須進(jìn)行接地）。

    推薦使用滿(mǎn)足標準D3487中I型或II型的礦物油。根據測試法D877所測定的結果，其擊穿電壓至少為26kV。如果另有說(shuō)明，也可以將其他絕緣液用作環(huán)境介質(zhì)。這些絕緣油包括硅油和其他用于變壓器，斷路器，電容或電纜的液體，但不限于此。

6.4.1.1 絕緣油的性質(zhì)對測試結果具有一定的影響。如上所述，除了擊穿電壓，在測試較?。ㄐ∮?5μm（千分之一寸）的測試樣）時(shí)，污染物尤其重要。根據油和測試材料的性質(zhì)，其他的特性如溶解氣體含量，水含量以及油的損耗因子都對測量結果產(chǎn)生影響。經(jīng)常更換絕緣油，或使用過(guò)濾器和其他修復設備有利于減小絕緣油性能變化對測試結果的影響。

6.4.1.2 從不同電學(xué)性能液體中測得的擊穿值通常不能進(jìn)行比較。（參見(jiàn)Xl.4.7）如果在不同于室溫的條件下進(jìn)行測試，應通過(guò)加熱或冷卻液體確保均勻的溫度。在一些情況下，可以將絕緣池放入加熱箱（參見(jiàn)6.4.2）中以控制溫度。如果要強制循環(huán)液體，應防止氣泡進(jìn)入到液體中。除非另有說(shuō)明，否則電極上的測試溫度應維持在±5℃以?xún)?。在很多情況下，應說(shuō)明測試樣將在絕緣油中進(jìn)行測試，測試樣在測試前已浸入絕緣油中并且未從絕緣油中取出（參見(jiàn)操作規程D2413）。對于這些材料，絕緣池的設計應保證測試樣在測試前不得暴露于空氣當中。

6.4.2 如果在其他環(huán)境溫度或濕度下進(jìn)行空氣中的測試，應準備加熱箱和濕度控制室。加熱箱應滿(mǎn)足D5423標準的要求，并能確保測試電壓適于使用的溫度。

6.4.3除了在空氣以外，在其他氣體中進(jìn)行測試也要求使用可以排除或充滿(mǎn)測試氣體的控制室，這些控制室通常還要控制壓力。由所進(jìn)行測試項目的性質(zhì)決定控制室的設計。

6.5 測試室—進(jìn)行測試的測試室或測試區域應具有充足的空間以容納測試設備，并備有互鎖設備，以防止接觸到任何帶電部件。電壓源，測量設備，池或加熱箱，以及電極的許多不同的物理安排都是可能的，但有三條是必須的（1）所有進(jìn)出帶電部件區域的門(mén)或倉門(mén)都必須互鎖，以便在開(kāi)始測試時(shí)切斷電壓源；(2)應盡可能的清除干凈，使得電極表面和測試樣之間沒(méi)有扭曲的區域，測試電極之間不會(huì )發(fā)生閃絡(luò )和局部放電（電暈）；以及(3)在測試之間測試樣的插入和替換都應盡可能的簡(jiǎn)單便捷。在測試中常常需要對電極和測試樣進(jìn)行目測。

7. 危害

7.1 注意—在本測試中將會(huì )出現致命的電壓。有必要恰當地設計并安裝測試設備和所有與之電氣連接的設備，以保證安全操作。在測試中任何人都接觸的導電部件都應穩固的放在地上。在測試完成時(shí)，應采取措施置于地上的部件包括：（a）在測試中處于高壓條件下的部件，（b）在測試中獲得感應電荷的部件，或（c）即使在斷開(kāi)與電壓源的連接后仍具有電荷的部件。通過(guò)指導讓所有的操作員以恰當的方式安全的進(jìn)行測試。在進(jìn)行高壓測試時(shí)，尤其是在壓縮氣體或是在油中進(jìn)行時(shí)，擊穿所產(chǎn)生的能量足以引發(fā)大火，爆炸或測試室的破裂。設計測試設備，測試室和測試樣，以減小發(fā)生此類(lèi)事故的可能性并消除人員傷亡的可能性。

7.2 警告—在高濃度條件下，臭氧將危害生理健康。由政府部門(mén)設定臭氧接觸極限，這通常是以美國政府工業(yè)衛生工作者會(huì )議8的推薦值為基礎。在電壓高到足以在空氣或其他含有氧

8 可從美國政府工業(yè)衛生工作者會(huì )議(ACGIH)獲得，

氣的大氣中產(chǎn)生局部或放電時(shí)，將產(chǎn)生臭氧。在低濃度時(shí)，臭氧就具有了特殊的氣味，

但是持續的吸入臭氧會(huì )造成對臭氧暫時(shí)失去知覺(jué)。正因為如此，當持續出現臭氧的氣味或是一直存在臭氧產(chǎn)生的條件時(shí)，采用工業(yè)監控設備測量大氣中的臭氧濃度就十分重要了。采用恰當的方法，例如排氣口，可以將工作區域內的臭氧濃度降至可以接受的水平。

8. 取樣

8.1 對該材料的說(shuō)明中應定義詳細的取樣流程。

8.2 為了質(zhì)量控制的目的，在取樣時(shí)應收集足夠的樣品以評估被測樣品的平均質(zhì)量和被檢批次的變化情況，為了使所取樣品不受時(shí)間的影響，應在實(shí)驗室或其他測試區域已經(jīng)開(kāi)始準備測試樣時(shí)進(jìn)行取樣。

8.3 為了獲得可取的測試條件，需要從那些遠離材料中明顯缺損或是間斷的地方進(jìn)行取樣。對于卷材，除非要對缺損或間斷的出現或鄰近進(jìn)行調查，否則應避免對外在的幾層進(jìn)行取樣，例如卷材包的外層，或是緊鄰片或卷邊緣的材料。

8.4 取樣應足夠大，以便能夠按特殊材料的要求進(jìn)行各項測試（參見(jiàn)12.4）。

9. 測試樣

9.1 準備和處理：

9.1.1 按照第8章的要求，從所選樣品中準備測試樣。

9.1.2 如果要使用平滑表面的電極，在不進(jìn)行實(shí)際表面加工的情況下，測試樣與電極接觸的表面應盡可能具有平滑的平行面。

9.1.3 測試樣應具有足夠的大小以防止在測試時(shí)發(fā)生閃絡(luò )。對于薄的材料，使用足夠大的測試樣將便于在一片測試樣上進(jìn)行多次的測試。

9.1.4 對于較厚的材料（通常厚度在2mm以上），應具有足夠的絕緣強度，以便在擊穿前出現閃絡(luò )或強烈的表面局部放電（電暈）。用于防止閃絡(luò )，或減少局部放電（電暈）的技術(shù)包括：

9.1.4.1 在測試時(shí)，將測試樣浸入到絕緣油中。環(huán)境介質(zhì)因素對擊穿的影響參見(jiàn)X1.4.7。對于那些沒(méi)有干燥且浸入到油中的測試樣以及那些按照D2413操作規程準備的測試樣來(lái)說(shuō)，這通常都是必要的（參見(jiàn)6.4)。

9.1.4.2 在測試的一側或兩側加工出一個(gè)凹槽或是鉆出一個(gè)平底的洞，以減少測試的厚度。如果采用不同的電極（如表1中的6型電極），那么只需加工一個(gè)表面，兩個(gè)電極中較大的一個(gè)應與加工好的表面相連接。加工測試樣時(shí)要小心，以免對測試樣造成污染或機械損壞。

9.1.4.3 用封條或整流罩繞住于測試樣相連接的電極，以減少閃絡(luò )的發(fā)生。

9.1.5 不平的材料應采用與樣品材料和幾何形狀相近的測試樣（和電極）進(jìn)行測試。有必要按材料的說(shuō)明確定對這些材料所使用的測試樣和電極。

9.1.6 無(wú)論材料的形狀如何，如果除了測試面對面的擊穿強度以外還要進(jìn)行其他測試，則要在該材料的說(shuō)明中指出所使用的測試樣和電極。

9.2 幾乎在所有的情況下，測試樣的實(shí)際厚度都很重要。除非另有說(shuō)明，否則應在測試后，測量擊穿點(diǎn)鄰近區域的厚度。應在室溫條件下（25±5℃）進(jìn)行測量，并根據D374測試法采取恰當的流程。

10. 校準

10.1 在校準測量時(shí)，測試樣應處于通路狀態(tài)，并注意那些以6.2所給精度進(jìn)行測量的電極電壓。

10.2 將一個(gè)獨立的校準電壓表連接到測試電壓源的輸出端，以檢測測量設備的精度。校準測量適用的這類(lèi)電壓表示例為：具有可比精度的電極電壓表，分壓器，或電壓互感器。

10.3 在電壓大于12kV有效值（16.9kV峰值）時(shí)，應用球隙校準電壓測量設備的讀數。ANSI C68.1將詳細說(shuō)明此種校準的后續流程。

11. 調節

11.1 大多數固體絕緣體的擊穿強度都受到溫度和濕度的影響。因此在測試前，受此影響的材料應用控制好的溫度和相對濕度進(jìn)行平衡。對于這種材料，調節應包括在參照本測試法的標準中。

11.2 除非另有說(shuō)明。否則應按D618操作規程進(jìn)行后續流程。

11.3 對于許多材料來(lái)說(shuō)，濕度對擊穿強度的影響要大于溫度的影響。對材料進(jìn)行足夠長(cháng)時(shí)間的調節，以使得測試樣同時(shí)達到濕度和溫度的平衡。

11.4 如果調節時(shí)導致測試樣表面出現凝結水，應在測試前將測試樣表面擦干。通常這樣可以減少表面閃絡(luò )的可能性。

12. 流程

12.1 （注意：在開(kāi)始任何測試前請參見(jiàn)第7章。）

12.2 電壓使用的方法：

12.2.1 方法A，快速測試法—如圖1所示，從零點(diǎn)到擊穿發(fā)生，以一定的增壓速度，將均勻的電壓施加到試驗電極上。除非另有說(shuō)明，否則將采用快速測試法。

12.2.1.1 在確定增壓速度時(shí)，為了使增速包含在新的規定值中，對于給定的測試樣，應選擇在10到20s內就發(fā)生擊穿的增速。在某些場(chǎng)合，有必要進(jìn)行1到2次的預測試，以確定增速。對于大多數材料而言，使用500V/s的增速。

12.2.1.2 如果文件參考本測試方法所的增速，那么即使擊穿時(shí)間偶然出現在10到20s的范圍之外，也應繼續采用。如果出現這種情況，應在報告中記錄下失效次數。

速率

(V/s)±20%

100

200

500

1000

2000

5000

圖1  快速測試法電壓示意圖

12.2.1.3 如果要進(jìn)行一系列測試以比較不同的材料，應采用相同的增速，盡量使平均時(shí)間保持在10到20s之間。如果擊穿時(shí)間不能保持在該范圍內，應在報告中說(shuō)明。

12.2.2 方法B，逐步測試——以合適起始電壓施加到測試電極上，并按圖2所示，逐步增加電壓，直到發(fā)生擊穿。

12.2.2.1 從圖2中所列的表格，可以選擇起始電壓Vs，在快速測試中，此電壓應接近試驗測定或預期擊穿電壓的50%。

12.2.2.2 如果起始電壓低于圖2所列的電壓，建議以起始電壓的10%作為逐步增加的電壓。

12.2.2.3 在沒(méi)有超6.1.3所規定的電壓峰值的情況下，盡快得將起始電壓從由零開(kāi)始升高。同樣的要求也適用于相鄰步驟之間電壓的升高。在完成初的步驟后，將電壓升高到相鄰步驟所需的時(shí)間應計入相鄰步驟的時(shí)間中。

12.2.2.4 如果在向下一步升高電壓的過(guò)程發(fā)生擊穿，測試樣具有忍耐電壓Vws，其應等于己完成步驟的電壓。如果擊穿發(fā)生在任何步驟持續期結束之前，測試樣的忍耐電壓Vws都按后完成步驟的電壓計算。擊穿電壓Vbd用于計算絕緣強度。通過(guò)厚度和忍耐電壓Vws計算出絕緣強度。（參見(jiàn)圖2）

12.2.2.5 要求在超過(guò)120s時(shí)間內，在10步中發(fā)生4次擊穿。如果一組中有多個(gè)測試樣發(fā)生的擊穿次數少于3次，或是時(shí)間達不到120s的情況，應將起始由壓降低后，重新測試。如果在12步之前或720s后仍未發(fā)生擊穿，則應提高起始電壓。

12.2.2.6 記錄下起始電壓，電壓增加步數，擊穿電壓以及擊穿電壓所持續的時(shí)間長(cháng)度。如果失效發(fā)生在電壓剛剛增加到起始電壓的時(shí)候，則失效時(shí)間為0。

12.2.2.7 應根據測試的目的，說(shuō)明有關(guān)電壓步數的其他時(shí)間長(cháng)度。通常使用的時(shí)間長(cháng)度為20s到300s（5分鐘）。對于研究來(lái)說(shuō)，在某些場(chǎng)合有必要對給定材料進(jìn)行大于普通時(shí)間長(cháng)度的測試。

12.2.3 方法C，慢速測試——向測試電極施加起始電壓，按圖3所示增速增加電壓直到發(fā)生擊穿。

12.2.3.1 從按12.2.1規定的慢速測試中選擇起始電壓。所選擇的起始電壓應滿(mǎn)足12.2.2.3的要求。

12.2.3.2 從有關(guān)本測試法的文件所規定的起始電壓開(kāi)始，以一定的電壓增速增加電壓。通常，所選的增速應與逐步測試的平均增速近似。

12.2.3.3 如果一組有多個(gè)測試樣都在不到120s內發(fā)生擊穿，那么應降低起始電壓或降低增速，抑或同時(shí)降低。

12.2.3.4 如果一組中有多個(gè)測試樣的擊穿電壓不到起始電壓的1.5倍，則應降低起始電壓。如果在大于起始電壓2.5倍的電壓下（以及在120s后才發(fā)生擊穿），不斷出現擊穿，應提高起始電壓。

合適的起始電壓，Vs分別是0.25, 0.50, 1, 2, 5, 10, 20, 50和100kV。

圖2  逐步測試電壓示意圖

圖3  慢速測試電壓示意圖

12.3 擊穿的標準——電介質(zhì)失效或是擊穿（D1711術(shù)語(yǔ)中所定義的）包括增加電導以限制電場(chǎng)的維持。在測試中，可以通過(guò)對橫穿測試樣厚度的目測和斷裂聲來(lái)清楚得判斷該現象。在擊穿區域內可以觀(guān)察到測試樣被擊穿和分解。此類(lèi)擊穿通常為不可逆過(guò)程。重復使用電壓有時(shí)會(huì )在低電壓情況下（有時(shí)將低于可測量值），造成擊穿，并在擊穿區域內伴有其他的損壞。這類(lèi)重復使用的電壓常帶來(lái)?yè)舸┑姆e極證據，可以使擊穿的路徑更加清晰可見(jiàn)。

12.3.1 在某些場(chǎng)合，泄露電流的快速增加會(huì )造成電壓源的跳閘，而沒(méi)有在測試樣上留下任何可視損壞。這類(lèi)失效，通常與高溫條件下的慢速測試有關(guān)，會(huì )造成可逆的結果，如果在重新施加電壓之前將測試樣冷卻到其起始測試溫度，就能恢復其絕緣強度。對于發(fā)生此類(lèi)失效來(lái)說(shuō)，電壓源會(huì )在相對較低的電流條件下斷開(kāi)。

12.3.2 在某些場(chǎng)合，由于閃絡(luò )，局部放電，高電容測試樣中的無(wú)功電流或是斷路器的故障問(wèn)題都會(huì )造成電壓源的斷開(kāi)。測試中的此類(lèi)間斷不會(huì )造成擊穿（除了閃絡(luò )測試外），而發(fā)生此類(lèi)間斷的測試也不能視為滿(mǎn)意的測試。

12.3.3 如果斷路器設置的電流太高，或是如果斷路器的故障存在問(wèn)題，將會(huì )造成測試樣的過(guò)度燃燒。

12.4 測試的數量——對于特定材料，除非另有說(shuō)明，否則應進(jìn)行5次擊穿。

13. 計算

13.1 對于每次測試而言，擊穿時(shí)的絕緣強度應以kV/mm或V/mil為單位來(lái)計算，對于逐步測試而言，梯度應以未發(fā)生擊穿的高電壓步驟來(lái)計算。

13.2 計算平均絕緣強度及標準偏差，或其他變量的測量值。

14. 報告

14.1 報告應包含以下信息：

14.1.1 測試樣的鑒定。

14.1.2 對每一個(gè)測試樣；

14.1.2.1 所測量的厚度，

14.1.2.2 能承受的電壓（對逐步測試而言），

14.1.2.3 擊穿電壓，

14.1.2.4 絕緣強度（對逐步測試而言），

14.1.2.5 擊穿強度，及

14.1.2.6 擊穿的部位（電極的中心，邊緣或外部）。

14.1.3 對于每個(gè)樣品：

14.1.3.1 平均電介質(zhì)承受強度（僅對逐步測試測試樣），

14.1.3.2 平均電介質(zhì)擊穿強度，

14.1.3.3 變量的說(shuō)明，好是標準偏差和變化系數。

14.1.3.4 測試樣的說(shuō)明，

14.1.3.5 調節和測試樣的準備，

14.1.3.6 環(huán)境的溫度和相對濕度，

14.1.3.7 環(huán)境介質(zhì)，

14.1.3.8 測試溫度，

14.1.3.9 電極的說(shuō)明，

14.1.3.10 電壓應用的方法，

14.1.3.11 如果，電流感應元件的失效標準，及

14.1.3.12 測試的日期。

15. 精度和偏差

15.1 表2總結了四個(gè)實(shí)驗室和八種材料實(shí)驗室間研究的結果。該研究采用同一電極體系和同一測試介質(zhì)。9

15.2 單一操作員精度——根據測試材料，試樣厚度，電壓供給方式以及控制或抑制瞬間電壓脈沖的極限，變化常數（標準差除以平均值）在1%到20％之間變化。如果就同一樣品的五個(gè)測試樣進(jìn)行重復試驗，變化常數通常不大于9%。

表2  從四個(gè)試驗室總結出的絕緣強度數據A

A 測試樣在油中用2型電極進(jìn)行測試（參見(jiàn)表1）。

15.3 多實(shí)驗室精度——在不同實(shí)驗室中（或者同一實(shí)驗室不同設備上）進(jìn)行測試的精度是變化的。通過(guò)使用同一類(lèi)型的設備，嚴格控制測試樣的準備，電極以及測試流程，單個(gè)操作員的精度是近似的。但如果對來(lái)自不同實(shí)驗室的結果進(jìn)行比較，就必須評估不同實(shí)驗室的精度。

9 支撐數據已經(jīng)歸檔在A(yíng)STM總部中，通過(guò)申請研究報告RR:D09-1026可獲得這些數據。

15.4 如果測試材料，試樣厚度，電極結構，或環(huán)境介質(zhì)不同于表1所列，或是測試設備中電流感應元件的擊穿標準得不到嚴格控制，那么將無(wú)法達到15.2和15.3中所規定的精度，對于需要測試的材料來(lái)說(shuō)，涉及本測試方法的標準應能確定該材料的精度適用范圍。參見(jiàn)5.4~5.8以及6.1.6。

15.5 使用特殊的技術(shù)和設備、使材料厚度的精度達到0.01in甚至更小。電極不能損壞試樣的接觸面。準確的測定擊穿電壓。

15.6 偏差——該測試方法不能測定固有絕緣強度。測試結果取決于試樣的幾何形狀，電極和其他可變參數，以及樣品的性質(zhì)，這使得很難描述偏差。

16. 關(guān)鍵詞

16.1 擊穿，擊穿電壓，校準，擊穿標淮，介電擊穿電壓，介電失效，介電強度，電極，閃絡(luò )，電源頻率，過(guò)程控制測試，驗證測試，質(zhì)量控制測試，快速增加，研究測試，取樣，慢速，逐步，環(huán)境介質(zhì)，耐壓。

附錄

（非強制信息）

Xl. 絕緣強度測試的意義

X1.1 介紹

Xl.1.1 簡(jiǎn)要回顧了擊穿的三種假定機制，分別是：（1）放電或電暈機制，（2）熱機制，以及（3）固有機制，討論了在原理上對實(shí)際電介質(zhì)產(chǎn)生影響的因素，并對數據的解釋提供幫助。擊穿機制常常與其他機制相結合，而非單獨發(fā)揮效用。隨后的討論僅針對固體和半固體材料。

Xl.2 介電擊穿的假定機制

X1.2.1 由放電造成的擊穿——在對工業(yè)材料進(jìn)行的許多測試中，都是由于放電造成了擊穿，這通常造成較高的局部場(chǎng)。對于固體材料來(lái)說(shuō)，放電常常發(fā)生在環(huán)境介質(zhì)中，因此增加測試的區域將在電極邊緣上或外側產(chǎn)生擊穿。放電也會(huì )發(fā)生在內部出現或生成的一些泡沫或氣泡里。這會(huì )造成局部的侵蝕或化學(xué)分解。這些過(guò)程將一直持續到在電極間形成的失效通路為止。

X1.2.2 熱擊穿——在置于高強度電場(chǎng)時(shí)，在許多材料內的局部路徑上會(huì )積聚大量的熱，這將造成電介質(zhì)和離子導電性能的損失，進(jìn)而迅速產(chǎn)生熱量，所產(chǎn)生的熱量將大于所能耗散掉的熱量。由于材料的熱不穩定性，導致了擊穿的發(fā)生。

X1.2.3 固有擊穿——如果放電或熱穩定性都不能造成擊穿，那么在電場(chǎng)強度大到足以加速電子穿過(guò)材料時(shí)，仍將發(fā)生擊穿。標準電場(chǎng)強度被稱(chēng)為固有絕緣強度。雖然機制本身也許已經(jīng)涉及，但本測試法仍不能測試固有絕緣強度。

Xl.3 絕緣材料的性質(zhì)

X1.3.1 固態(tài)工業(yè)絕緣材料通常是非均勻的，且含有許多不同的電介質(zhì)缺陷。試樣上常常發(fā)生擊穿的區域，并不是那些電場(chǎng)強度大的區域，有時(shí)甚至是那些遠離電極的區域。在應力下卷中的薄弱環(huán)節有時(shí)將決定測試的結果。

X1.4 測試和測試樣狀況的影響因素

X1.4.1 電極——通常，隨著(zhù)電極區域的增加，擊穿電壓會(huì )降低，這種影響對于薄試樣來(lái)說(shuō)更為明顯。電極的幾何形狀也會(huì )影響測試的結果。制作電極的材料也會(huì )對測試結果產(chǎn)生影響，這是因為電極材料的熱導性和功函會(huì )對熱機制和發(fā)電機制產(chǎn)生影響。通常來(lái)說(shuō)，由于缺乏相關(guān)的實(shí)驗數據，所以很難確定電極材料的影響。

X1.4.2 試樣厚度——固體工業(yè)絕緣材料的絕緣強度主要取決于試樣的厚度。經(jīng)驗顯示，對于固體和半固體材料來(lái)說(shuō)，絕緣強度與以試樣厚度為分母的分數成反比，更多的證據顯示，對于相對均勻的固體來(lái)說(shuō)，絕緣強度與厚度的平方根互為倒數。如果固體試樣能熔化后倒入到固定電極之間并凝固下來(lái)，那么電極間距的影響將很難得到明確的定義。因為在這種情況下，可以隨意固定電極間距，所以習慣在液體或可溶固體中進(jìn)行絕緣強度測試，此時(shí)電極間具有標準的固定空間。因為絕緣強度取決于厚度，所以如果在報告絕緣強度數據時(shí)缺乏測試所用試樣的起始厚度，那么這樣的數據將毫無(wú)意義。

X1.4.3 溫度——試樣和環(huán)境介質(zhì)的溫度將影響絕緣強度，雖然對于大多數材料來(lái)說(shuō)，微小的環(huán)境溫度變化對材料造成影響可以忽略不計。通常，絕緣強度隨溫度的升高而降低，但其強度的極限取決于被測材料。*，由于材料需要室溫以外的條件下發(fā)揮作用，所以有必要在比期望操作溫度更大的范圍里，對絕緣強度與溫度的關(guān)系進(jìn)行確定。

X1.4.4 時(shí)間——電壓應用的速率也會(huì )影響測試結果。通常，擊穿電壓隨電壓應用速率的增加而提高。這是預料之中的，因為熱擊穿機制有賴(lài)于時(shí)間，而放電機制也有賴(lài)于時(shí)間，雖然在一些情況下，后一種機制通過(guò)產(chǎn)生局部電場(chǎng)高臨界強度造成快速失效。

X1.4.5 波形——通常，應用電壓的波形也會(huì )影響絕緣強度。在本測試方法的限制說(shuō)明中，波形的影響是不顯著(zhù)的。

X1.4.6 頻率——對于本測試法，在工業(yè)用電頻率范圍內，頻率的變化對絕緣強度的影響將不是那么顯著(zhù)。但是，不能從本測試法所得結果中推斷出其他非工業(yè)用電頻率（50到60HHz）對絕緣強度的影響。

X1.4.7 環(huán)境介質(zhì)——通常測試具有高擊穿電壓的固體絕緣材料，是將試樣浸入到液體介質(zhì)中，例如變壓器油，硅油，或是氟利昂中，以減小擊穿前表面放電的影響。這已經(jīng)由S.Whitehead10所揭示，為了避免固體試樣在達到擊穿電壓前在環(huán)境介質(zhì)中發(fā)生放電現象，在交流電測試中，有必要確保：

         （X1.1）

如果浸入的液體介質(zhì)是一種低損耗材料，該公式可以簡(jiǎn)化為：

           （X1.2）

    如果浸入的液體介質(zhì)是一種半導體材料，那么該公式可以變?yōu)椋?/span>

              （X1.3）

式中：

E=絕緣強度；

f=頻率；

ε和ε′=介電常數；

D=耗散因數；

o=電導率（S/m）；

下標：

m指浸入介質(zhì)；

r指相對值；

O指自由空間；

（εO=8.854×10-12F/m）

s指固體電介質(zhì)。

X1.4.7.1 Whitehead指出，要避免表面放電，則應提高Em和εm或是提高σm。通常規定使用變壓器油，其介電性能是這樣的，如果電場(chǎng)強度Es達到以下水平，則會(huì )發(fā)生邊緣擊穿：

          （X1.4）

如果測試樣很厚，且其介電常數很小，那么含有ts的量將成為相對影響因數，介電常數與電場(chǎng)強度的乘積將近似于一個(gè)常數。11Whitehead也指出（p. 261）使用潮濕的半導體油將能有效減少邊緣放電的現象。如果電極間的擊穿路徑僅在固體中出現，那么此介質(zhì)將不能與其他介質(zhì)進(jìn)行比較。也應該注意到如果固體是多孔的或是能夠被浸入介質(zhì)充滿(mǎn)，固體的擊穿強度將受到浸入介質(zhì)電氣性質(zhì)的直接影響。

X1.4.8 相對濕度——相對濕度影響絕緣強度是因為測試材料吸收的水分或表面吸附的水分將影響介質(zhì)損耗和表面電導率。因此，它的重要性很大程度上有賴(lài)于測試材料的性質(zhì)。但是，即使材料只吸收了一點(diǎn)甚至沒(méi)有吸收水分，仍會(huì )受到影響，因為在有水的情況下，將大大提高放電的化學(xué)效應。除此之外，還應調查暴露在電場(chǎng)強度中的影響，通常通過(guò)標準的調節流程來(lái)控制或限制相對濕度的影響。

10 文獻：Whitehead, S., 固體介電擊穿, Oxford University Press, 1951.

X1.5 評估

X1.5.1 通電設備絕緣的一個(gè)基本要求就是它應能承受得住在服務(wù)中施加于它的電壓。因此很有必要對測試進(jìn)行評價(jià)，以評價(jià)處于高壓應力條件下的材料性能。介質(zhì)擊穿電壓測試是一種測定材料是否需要進(jìn)一步考察的初步測試，但是它無(wú)法就兩個(gè)重要方面進(jìn)行全部評估。首先，安裝在設備上的材料條件與測試條件大為不同，尤其在考慮了電場(chǎng)結構和暴露在電場(chǎng)中的材料面積，電暈，機械應力，周?chē)橘|(zhì)以及與其他材料的連接之后，更是如此。第二，在服務(wù)時(shí)，會(huì )出現很多惡劣的影響，例如熱，機械應力，電暈及其產(chǎn)物，污染物等等，都會(huì )使擊穿電壓遠低于初安裝時(shí)的擊穿電壓值。在實(shí)驗室測試中，可以合并其中的一些影響，進(jìn)而對該材料做出更準確的估計，但是終考察的仍然是那些處于實(shí)際服務(wù)的材料性質(zhì)。

X1.5.2 介質(zhì)擊穿測試能作為材料檢測或是質(zhì)量控制測試，作為一種推測其他條件的手段，例如變率，或是指明惡化的過(guò)程，如熱老化。在使用本測試法時(shí)，擊穿電壓的相對值比值更重要。