半導體電阻率測試儀 電阻測量?jì)x
BD-86A型半導體電阻率測試儀是根據四探針原理，作為普及型半導體電阻率測試儀器適合半導體器材廠(chǎng)、材料廠(chǎng)用于測量半導體材料（片狀、棒狀）的體電阻率，方塊電阻（薄層電阻）；也可以用作測量金屬薄層電阻。經(jīng)過(guò)對用戶(hù)、半導體廠(chǎng)測試的調查，根據美國ASTM標準的規定，在電路和探頭方面作了重大的修改和技術(shù)上的許多突破。它更適合于半導體器材廠(chǎng)工藝檢測方面對中值、高阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要，成為普及型的電阻率測試儀，具有測量精度高、穩定性好、輸入阻抗高、使用方便、價(jià)格低等特點(diǎn)。
儀器分為電氣箱和測試架兩部分，儀器電氣箱由直流數字電壓表、高抗干擾、高度隔離性能的電源變換裝置，高穩定、高精度的恒流源所組成。測量結果由LED數字顯示、零位穩定、輸入組抗高，儀器并設有自校功能，在片狀材料測試時(shí)，具有系數修正功能，使用方便、測試架結構新穎、外形美觀(guān)，探針為合金材料，配用寶石導向，具有測量精度高、游移率小、耐磨和壽命長(cháng)的特點(diǎn)，而且壓力可調恒定，備有手動(dòng)探針測試臺，自動(dòng)控針測試臺，供用戶(hù)選擇。
半導體電阻率測試儀 電阻測量?jì)x
本儀器為國內*新研制出的普及型半導體電阻率測試儀器，特別適合于薄片材料測量。儀器主要技術(shù)指標
測量范圍：電阻率 10-3∽103 分辯率為10-4Ω—cm，可擴展到105Ω—cm
方塊電阻 10-2Ω/104Ω/□，分辯率為10-3Ω/□，可擴展到108Ω/□
薄層金屬電阻 10-4∽105Ω，分辯率為10-4Ω—cm
可調半導體材料尺寸：直徑：Φ15 ∽ Φ 100 mm
長(cháng)度：150mm
3．測量方式：軸向、斷面均可
4．數字電壓表：（1）量程：20mV（分辯率：10μV）、
200mV（分辯率：100μV）、
2V（分辯率：1mV）、
（2）測量誤差：±0.3%讀數±2字
(3)輸入阻抗:大于108Ω
(4)顯示3 1/2位紅色發(fā)光二極管(LED)數字顯示,
0 ∽ 1999.具有極性、過(guò)載、小數點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示
5．恒流源：由交流供電，具有良好的防泄漏隔離功能
直流電流：0 ∽ 100mA連續可調
量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
分辯率：10μA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA
電流誤差:（±0.3%讀數±2字）
6.電性能?？己苏`差:<±0.3% 符合ASTM指標
7.測試探頭: （1）探針間距：S = 1mm
（2） 探針機械游移率: ±0.3%
（3） (3)壓力恒定可調
8.電源:交流220V±10% 50HZ或60HZ 功率消耗 < 30W
9.電氣箱外形尺寸:199×440×280mm
