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原理
主要是利用晶體的晶格間距當作光柵對x射線(xiàn)造成產(chǎn)生衍射，從衍射圖譜可以推斷出晶體中各個(gè)晶格之間的間距，從而進(jìn)一步推斷出晶體結構，晶胞尺寸，結合其他信息可以推斷材料的成分。用于物相分析的檢測設備，觀(guān)察的是組織結構，可以測各個(gè)相的比例、晶體結構等。X射線(xiàn)衍射儀技術(shù)(X-ray diffraction，XRD)。通過(guò)對材料進(jìn)行X射線(xiàn)衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。X射線(xiàn)衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線(xiàn)照射產(chǎn)生不同程度的衍射現象,物質(zhì)組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線(xiàn)衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線(xiàn)衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應用。
應用
廣泛應用于物理、化學(xué)、藥物學(xué)、冶金學(xué)、高分子材料、生命科學(xué)及材料科學(xué)?？梢苑治鲳ね恋V物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導體材料、超導材料、納米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鑒定，材料可以是單晶體、多晶體、纖維、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。
（1）當材料由多種結晶成分組成，需區分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。
（2）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。
（3）新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數，使用XRD可快捷測試出點(diǎn)陣參數，為新材料開(kāi)發(fā)應用提供性能驗證指標。
（4）產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現斷裂、變形等失效現象，可能涉及微觀(guān)應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀(guān)應力。
（5）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì )給出錯誤的數據。采用X射線(xiàn)衍射線(xiàn)線(xiàn)寬法(謝樂(lè )法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
