提高系統測量頻寬的同時(shí),又可免遭靜電破壞成為現實(shí)！
強的抗靜電破壞能力，適合車(chē)間產(chǎn)線(xiàn)和實(shí)驗室使用。
系統頻寬可達4.5GHZ-20GHZ,可精確測量板內阻抗。自動(dòng)產(chǎn)生阻抗測量報告，包括阻抗平均值、值、最小值、公差以及測試圖形等。
PCB材料測試，介電常數DK和介電損耗因數DF。天線(xiàn)測量，S參數、駐波比和反射系數。搭配GGB探頭可實(shí)現Intel的單端對差分插入損耗SET2DIL測量眼圖測量高達16.0 Gb/S
依照客戶(hù)需求可以選擇半自動(dòng)或自動(dòng)測試機臺，*實(shí)現車(chē)間高效率測量
信號完整性設計和驗證的三大突破:
1.簡(jiǎn)單而直觀(guān)的操作界面
2.的抗靜電破壞能力
3.多功能綜合測試機
系統頻寬高達20GHz,上升時(shí)間達到22.3ps（10%到90%）, 依據IPC650 2.5.5.7Z中關(guān)于上升時(shí)間、分辨率和阻抗線(xiàn)的關(guān)系，可以精確測量較短線(xiàn)長(cháng)的阻抗。
內置ESD保護電路，可以防御3KV的ESD和±30V的EOS, 保護儀器的免受靜電打壞，大大降低維護成本。實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)的阻抗測量，無(wú)需進(jìn)行多次平均而抑制噪聲即時(shí)顯示阻抗測量結果，搭配可調間距測試探頭，更便于測試小間距的PCB 和FPC 板。
更加人性化的智能中文阻抗機測量軟件簡(jiǎn)易操作界面，可實(shí)時(shí)直接輸出阻抗測試報告(包括 阻抗機序列號、阻抗值、最小值、平均值、 測試日期等)，還可以輸出測試曲線(xiàn)畫(huà)面以及每 個(gè)阻抗點(diǎn)的阻抗值。腳踏開(kāi)關(guān)控制，能夠快速進(jìn)行測量，提高測量速率。
1.通過(guò)分析仿真的眼圖，可以深入了解高速互連器件的性能。
2.眼圖數據速率高達16.0 Gb/s.可得到精度非常精確的
3.眼圖，和用專(zhuān)用碼型發(fā)生器的測量結果*一致。
4使用虛擬碼型發(fā)生器，可產(chǎn)生符合行業(yè)標準的(PRBS, K28.5)或用戶(hù)定制的碼型。
5.預定義眼圖模板，可對各種高速串行器件的規范標準進(jìn)行測量。
6.對測量結果進(jìn)行綜合處理即可得到眼圖，無(wú)需購買(mǎi)專(zhuān)用儀表產(chǎn)生數字比特序列。
7.通過(guò)插入抖動(dòng)信號對真實(shí)信號進(jìn)行仿真。
搭配半自動(dòng)或全自動(dòng)測試系統及其PCB板對應的夾具，可以批量性、高率以效的測試阻抗，可以自動(dòng)產(chǎn)生測試告，自動(dòng)打印問(wèn)題阻抗板信息，大大的節約時(shí)間和人力成本。
ENA-TDR SET2DIL滿(mǎn)足如Intel： SET2DIL （Singleended TDR to Differential Insertion Loss）傳輸線(xiàn)損耗等測試要求。配套使用GGB公司Picoprobe型40A-GSSG-450-TLD探頭（符合IPC規范）和我司開(kāi)發(fā)的中文SET2DIL測試軟件，依據IPC-TM-650方法2.5.5.12A）即可輕松準確測量SET2DIL。
高性能ENA-T DR搭配材料測試軟件及QWED諧振腔冶具，針對Df及Dk測試提供的動(dòng)態(tài)范圍和測試精度，且測試結果可以各種格式的圖表顯示，包括:er', er", tan delta, ur1, ur", tan um.ａnd Cole-Cole.
系統規格：
★測量范圍:0-150ohm（單端）0-300ohm（差動(dòng)）
★測量精度:± 0.25% @ 50 ohm
★測試長(cháng)度:6.7mm- 10m
★水平軸顯示分辨率:1 ps或0.2mm （0.008"）
★垂直軸顯示分辨率:0.01 ohm
★上升時(shí)間范圍:22.3ps - 300ps可調整
★眼圖測試頻率:高達16.0Gb/s
★測量模式:單機可提供單端和差分兩種測量模式
★ LOSS測試：E5071C+SET2D1L軟件和測量治具，可做LOSS測試
★測試速度:差分測試時(shí)間僅需約0.7秒（使用內建阻抗測量軟件）
