SIG系列
小光源近場(chǎng)光線(xiàn)分布測量系統
SIG-300
光源效率的精準模擬是需要經(jīng)過(guò)研制計算的，光學(xué)設計、裝置的設計選項、裝置的篩選和質(zhì)量控管以及亮度的設置，這些都需要經(jīng)過(guò)直接且的測量實(shí)際上的光源效率。SIG-300 是光源影像式角度機，其可采集并匯集光源周?chē)嘟嵌让嫦虻牧炼燃邦伾珳y量，這些光信號會(huì )匯整至Radiant Source Model(RSM) 進(jìn)一步分析出光源的效率，這些分析數據可用來(lái)提供光學(xué)設計上使用。
SIG-300 透過(guò)堅固的機械設計、精準的光學(xué)配置及軟件控制來(lái)達到工業(yè)等級般的精準測量。SIG-300 可適用于一般大多數的光源，從LED 光源到中尺寸的光源測量，垂直方向或是水平方向的光源測
量皆適用，并且有微小影像分析、標準影像分析及微小視覺(jué)范圍可做選配。
RSM 是光源近場(chǎng)效率刻劃顯示的工業(yè)標準模型，它有著(zhù)豐富的信息，可提供亮度值及色坐標數值，還可保存所有測量的影像，并且能夠使用ProSource® 的功能使其更精準，產(chǎn)生更完整的射線(xiàn)組合用來(lái)提供光學(xué)設計用的原型，減少光學(xué)設計時(shí)不必要的時(shí)間。
Radiant Imaging 提供完整全系列的光源影像式角度機，適用來(lái)量測LED 光源用的SIG-400 系列到大面積光源的SIG-310 系列機型。
特點(diǎn) :
• 支持垂直光源及水平光源設置測量
• 提供亮度及顏色的近場(chǎng)測量模型
• 視覺(jué)范圍及分析的多光學(xué)結構配置
• 用集成影像數據來(lái)產(chǎn)生RSM的模型
• 穩定性高的LED光源及弧光光源精準測量模式
應用 :
• 測量待測光源所有角度近場(chǎng)光強度分布與色度
• 提供的射線(xiàn)組合提供光學(xué)設計套件軟件使用
• 提供光學(xué)設計與原型測試的近場(chǎng)模型
SIG-310
光源近場(chǎng)亮度的精準測量和大面積光源的顏色分布需要精準的光學(xué)、機械和軟件設計的組合，架構于Radiant Imaging 工業(yè)等級的SIG-300 及SIG-400 系統的設計上，SIG-310 系列實(shí)現高階的色度計，堅固的機械結構配置讓此系統能夠更更穩定的量測，搭配容易使用的控制軟件，SIG-310 可以廣泛的適用于各種測量應用，不論是垂直光源的配置或是水平光源的配置皆可適用。
SIG-310 利用多視角來(lái)采集大面積光源亮度及色度的影像空間結構來(lái)產(chǎn)生高準確的近場(chǎng)模型。記錄在工業(yè)標準的Radiant Source Model(RSM) 格式內，這些數據使用ProSource® 軟件功能，可提供詳細的數據分析及數據輸出給大多數主要的光學(xué)設計套件，更的近場(chǎng)模型量測能產(chǎn)生更
精準的射線(xiàn)配置而得到更好的光源系統設計。
SIG-310適用于一般光源的測量，可用于研發(fā)或產(chǎn)品特性的測量。
• 大面積光源優(yōu)化測量
• 支援垂直光源及水平光源設置的測量
• 提供亮度及色度的近場(chǎng)模型
• 多樣光學(xué)結構配置強化視野范圍及分辨率
• 采用集成影像數據產(chǎn)生RSM模型
應用 :
• 測量大面積待測光源所有角度近場(chǎng)光強度分布
• 測量大面積光源近場(chǎng)色度分布等特性
• 提供的射線(xiàn)組合提供光學(xué)設計套件軟件使用
SIG-400
因應LED 組件及光源應用的迅速成長(cháng)，對于LED 組件及光源的發(fā)展研制、估算及光學(xué)設計來(lái)說(shuō)，準確的LED 模型效能是必須的，這可透過(guò)低成本的方式來(lái)選擇組件設計、質(zhì)量控制以及發(fā)光效率的設計等應用。
SIG-400 是光源影像式角度機，可采集和整理LED 光源或相似的小面積光源的多角度亮度及色度值，精準的刻劃出實(shí)際的光效率。匯總入Radiant Source Model(RSM) 的數據數據可進(jìn)一步做光效率的分析和光學(xué)設計中射線(xiàn)的配置。
SIG-400 是對LED 光源的優(yōu)化測量系統，可減少系統的體積及降低成本，并簡(jiǎn)化測量的工序；此外，也提供了多樣化的選配，如像素的分辨率、微觀(guān)視野、標準視野、巨觀(guān)視野的范圍選擇。
SIG-400 透過(guò)堅固的機械結構設計、精準的光學(xué)配置以及軟件控制，使其成為業(yè)界等級的準確量測系統，SIG-400 在測量整個(gè)待測件的時(shí)后能夠精準的定位到待測件的中心點(diǎn)，經(jīng)測試后不超過(guò)15 微米，當量測LED 裸片時(shí)可讓測量錯誤降到zui小。
特點(diǎn) :
• LED芯片、顆粒及組件的優(yōu)化測量系統
• 多樣光學(xué)結構配置強化視野范圍及分辨率
• 提供亮度及色度的近場(chǎng)模型
• 用集成影像數據來(lái)產(chǎn)生RSM模型
應用 :
• 測量LED或是小面積光源所有角度近場(chǎng)光強度分布
• 測量LED或是小面積光源近場(chǎng)色度分布
• 提供光學(xué)設計與原型測試的近場(chǎng)模型
