表面的彎曲、傾斜、粗糙程度與波紋度相互影響，對于需要同時(shí)測量尺寸、形狀與表 面粗糙度的場(chǎng)合，便攜式表面粗糙度輪廓測量?jì)xFTS Intra提供了一次性測量的解決方法。 通過(guò)測針在測量表面上的一次測量，來(lái)評估這些元素。
* 承續了泰勒霍普森產(chǎn)品家族里的優(yōu)良品質(zhì)，
便攜式表面粗糙度輪廓測量?jì)x FTS Intra 仿佛一位 優(yōu)良的表面測量工程師，在任何你需要的場(chǎng)合， 給您提供好的支持。
簡(jiǎn)單便攜
FTS Intra 既可以通過(guò) PDA 控制處理器攜帶到 任何工作場(chǎng)合去工作，控制分析單元對驅動(dòng)單元可 連線(xiàn)控制，也可紅外遙控；也可以通過(guò)與電腦的對 接，測量的數據直接傳輸至計算機，由 Ultra 軟件 對儀器進(jìn)行控制及對測量數據的分析。作為標準計 量室內的檢測設備。
我們可以非常容易地把它從計量室帶到工作地 點(diǎn)，即使是臨時(shí)的操作員也可以非常簡(jiǎn)單地進(jìn)行操 作，并得到**的測量結果。當然，由于上乘的設 計，簡(jiǎn)而易行的操作，您幾乎不用妨礙到生產(chǎn)的進(jìn) 度，就可以非常上乘地完成這些您所需要的表面形 狀與粗糙度的檢測。
評定參數
(1) 粗糙度參數： Ra、Rq、Rp、Rv、Rt、Rsk、Rku、Rz、Rz(JIS)、Rpm、R3y、R3z、RS、RSm、Rdela、 Rlamq、RDelq、Rvo、RPc、RHSC、Rmr、Rdc
(2) 波紋度參數： Wa、Wq、Wp、Wv、Wt、Wsk、Wku、Wz、WLamq、WDelq、WDela、WS、WSrm、 Ln、Wc、Wlo、WVo、WPc、WHSC、Wmr、Wdc
(3) 未濾波參數： Pa、Pq、Pv、Pt、Psk、Pp、Pku、Pz(JIS)、PLamq、PDelq、PS、PSm、Pz、Pdela、 Ln、PLo、Pc、PVo、PPc、PHSC、Pmr、Pdc
(4) Rk 參數： Rk、Mrl、Mr2、Rpk、Rvk、A1、A2
(5) 輪廓功能： 半徑和角度 Slope(指被測直線(xiàn)與水平測量基準的夾角)
選擇合適的產(chǎn)品
簡(jiǎn)單的粗糙度的測量（如 Ra 等），可以通過(guò)泰勒霍普森家族產(chǎn)品系 列
的Surtronic 系列來(lái)檢測。如果您需要更*的分析，更高的測量及分 析水平與操作的靈活性，FTS Intra 是上乘且經(jīng)濟的選擇。
如果您需要更上等別的產(chǎn)品，請參考我公司表面粗糙度輪廓測量?jì)x 系列之 FTSS 與 PGI 產(chǎn)品。
