全功能SEM滿(mǎn)足多用戶(hù)實(shí)驗室綜合應用需求
Prisma TM EX 掃描電鏡結合了全面的成像性能和環(huán)境模式(ESEM),同時(shí)配置了全功能EDX探測器實(shí)現強大的元素分析。
如今的研究對象已經(jīng)超出簡(jiǎn)單金屬和涂層樣品的范疇。Prisma EX 分析SEM 可生成高質(zhì)量的圖像和分析,從金屬、斷口和拋光片等傳統樣品,到不導電軟材料。Prisma EX 是適用于當前和未來(lái)研究應用的靈活解決方案。它具有三種成像模式(高真空、低真空和ESEM™),能夠處理的樣品類(lèi)型很多。
有了UltraDry EDS 探測器和Pathfinder 軟件平臺提供的快速準確元素分析,樣品表征才變得完備。
Prisma EX具有易用、靈活的用戶(hù)界面及各種功能,提高工作效率,并收集所有數據。導航功能包括自動(dòng)導航拼接、雙擊載物臺移動(dòng)、拖動(dòng)縮放和其他有用的標準功能。SmartSCAN™ 技術(shù)用于執行智能掃描策略,從而減少噪點(diǎn),提供更好的數據。
更好的數據。更大的靈活性。更高的效率。Prisma EX 為您的投資帶來(lái)更大的價(jià)值。
主要優(yōu)勢
在自然狀態(tài)下對材料進(jìn)行原位研究:在各種操作模式下分析導電和不導電樣品, 同步獲取二次電子像和背散射電子像。
縮短樣品制備時(shí)間:低真空和環(huán)境真空技術(shù)可針對不導電和/或含水樣品直接成像和分析,樣品表面無(wú)荷電累積。
配備Pathfinder 軟件平臺的UltraDry 探測器提供的 完備EDS 解決方案。
• EXTREME 元素面分布,并且在實(shí)時(shí)和處理后都對每個(gè)像素進(jìn)行背景扣除、峰值反卷積和定量分析
• 自動(dòng)漂移補償
• 為離線(xiàn)分析和處理提供無(wú)限軟件許可
優(yōu)異的不導電樣品分析功能:借助多級穿過(guò)透鏡的真空系統,實(shí)現高質(zhì)量EDS 和 低真空分析。
利用穩定的大束流 (高達2μA)電子光學(xué)系統,實(shí)現快速、準確的分析快速、準確的分析。
高精度優(yōu)中心樣品臺,105°傾斜角度范圍,可觀(guān)察樣品
軟件直觀(guān)、簡(jiǎn)便易用,配置用戶(hù)向導及Undo(撤銷(xiāo))功能,新手用戶(hù)可進(jìn)行高效操作,專(zhuān)家用戶(hù)也可進(jìn)行更少的操作,完成快速分析。