測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機化合物之測定,顯微鏡觀(guān)察。既可用毛細管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。
SGW®X-4 | SGW®X-4A | SGW®X-4B | |
熔點(diǎn)測量范圍 | 室溫至320℃ | 室溫至320℃ | 室溫至320℃ |
測量重復性 | ±1℃ (在<200℃ 時(shí));±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)) | ±1℃ (在<200℃ 時(shí));±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)) | ±1℃ (在<200℃ 時(shí));±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)) |
溫度顯示最小值 | 1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ |
熔點(diǎn)觀(guān)察方式 | 單目顯微鏡 | 單目顯微鏡 | 雙目體視顯微鏡 |
光學(xué)放大倍數 | 40× | 40× | 40×-100×連續變倍 |