SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀
SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀 特點(diǎn):
測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機化合物之測定,顯微鏡觀(guān)察。既可用毛細管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。
主要技術(shù)參數:
熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃
測量重復性: ±1℃ (在<200℃ 時(shí))
±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí))
溫度顯示zui小值: 1℃
熔點(diǎn)觀(guān)察方式 單目顯微鏡
光學(xué)放大倍數 40×