痕量分析 TXRF 光譜儀
快速多元素痕量分析可對固體、粉末、液體、懸浮物、過(guò)濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量分析,元素范圍13Al-92U,含量范圍ppb至99%,檢出限到2pg。
需要樣品量少,液體及懸浮物樣品1-50微升,粉末樣品10微克以?xún)取?nbsp;
的便攜式全反射熒光儀,設備小巧,一體化結構設計,不需要任何輔助設備及氣體、液氮等,可拿到現場(chǎng)進(jìn)行分析。
1位及25位全自動(dòng)進(jìn)樣器兩款設計,分別適用于每天有少量樣品及大批量樣品的全自動(dòng)分析。
第四代XFlash®SDD硅漂移探測器,采用帕爾貼冷卻技術(shù),不需要液氮,沒(méi)有任何消耗。分辨率優(yōu)于160eV at MnKa 100Kcps。
由于全反射無(wú)背景,熒光強度與元素含量直接成正比。標準曲線(xiàn)工廠(chǎng)已校準好,用戶(hù)不需要標樣就可以進(jìn)行定量分析。
行業(yè)應用:
水、廢水、土壤中的污染元素;血液、尿液、組織中的有毒元素;食品、醫藥、刑偵、環(huán)保、陶瓷、水泥、建材、地質(zhì)等領(lǐng)域。