產(chǎn)品介紹
技術(shù)參數:
? 10 µm 的 X 射線(xiàn)高強度、高速度的掃描分析。
樣品可以置于大氣中分析,的真空探針?lè )绞健?/p>
? 同軸觀(guān)察,可以從攝像系統中選取所需的測量點(diǎn),單鍵控制,放大倍數可至 100 倍。
? 可以對物質(zhì)表面和內部構造同時(shí)進(jìn)行分析。
? 主要應用:WEEE/RoHS 法令中涉及的產(chǎn)品有害元素的測定、珠寶首飾的成份檢測、電子電路板的微區分析、考古或博物館中對古物的分析
? 同時(shí)也滿(mǎn)足科研院校在常規元素檢測方面的要求
可進(jìn)行樣品內部從Na~ U的元素進(jìn)行定性、定量分析
2、X射線(xiàn)透射成像,可觀(guān)察樣品內部細微構造
3、多點(diǎn)自動(dòng)分析,一次可測99點(diǎn)
4、能做小至10μm的微區
5、兩種X射線(xiàn)聚焦導管快速切換,可選1.2mm和10μm或100μm
6、X射線(xiàn)與可見(jiàn)光同軸設計,真正做到準確定位測試部位,見(jiàn)即所得。
7、高純硅檢測器,保證高穩定性及良好的性能