捷歐路JEOL JMS-T100LP 液相色譜-飛行時(shí)間質(zhì)譜儀設計簡(jiǎn)潔，經(jīng)久耐用，是型的大氣壓離子化高分辨率飛行時(shí)間質(zhì)譜儀。它除了采用LC/MS 離子源中為使用的電噴霧離子源外，還配有JEOL 的電離技術(shù)DART (Direct Analysis in Real Time) 和冷噴霧離子源 (ColdSpray)，能在各個(gè)領(lǐng)域提供分析解決方案。
捷歐路JEOL JMS-T100LP 液相色譜-飛行時(shí)間質(zhì)譜儀是簡(jiǎn)潔，耐用的 LC/MS 系統。除了標配的正交電噴霧離子源（ESI），還能使用大氣壓化學(xué)電離源（APCI，可選），可以支持廣泛的LC/MS 應用。利用自動(dòng)進(jìn)樣閥（可選），可以自動(dòng)導入內標物，通過(guò)常規分析能進(jìn)行精確質(zhì)量測試。敞開(kāi)式質(zhì)譜分析的先鋒-JEOL 本機安裝DART 離子源（選配項）后，無(wú)需對各種形態(tài)，狀態(tài)的樣品進(jìn)行預處理就能直接進(jìn)行分析。DART 于2003 年誕生于日本電子的美國公司（ JEOL USA, Inc.）的質(zhì)譜應用實(shí)驗室，是后來(lái)被稱(chēng)為一系列新的敞開(kāi)式離子化技術(shù)中被發(fā)明并被商品化（2005 年）的電離方法。安裝使用冷噴霧離子源（ColdSpray, 可選），對超分子自組裝，某些有機金屬絡(luò )合物，短雙鏈DNA 等熱不穩定樣品都可進(jìn)行無(wú)損分析。冷噴霧電離法由德島文理大學(xué)香川藥學(xué)部山口健太郎教授等研發(fā)，是科學(xué)技術(shù)振興事業(yè)團（JST）的工程項目的成果之一。
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