有機硅介電常數測試儀概述：介電常數設備測試頻率上限達到目前國內0高的160MHz。雙掃描技術(shù)：測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。雙測試要素輸入：測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。雙數碼化調諧：數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。自動(dòng)化測量技術(shù)：對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。全參數液晶顯示：數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS數字直接合成的信號源：確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。計算機自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路0優(yōu)化：使測試回路，殘余電感減至0低，* Q 讀數值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。介電常數及介質(zhì)損耗測試儀又稱(chēng)介電常數測試儀、介質(zhì)損耗測試儀、介質(zhì)損耗因數測試儀、介質(zhì)損耗角正切測試儀、高頻/工頻介電常數測試儀。作為0新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器。
有機硅介電常數測試儀符合標準：GB/T1409、GB/T5594產(chǎn)品用途：固體、液體絕緣材料的介電常數及介質(zhì)損耗測試
適用材料：橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等測試范圍：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ
主要配置：主機Q表、夾具、電感組成測試項目：介電常數、介質(zhì)損耗、介質(zhì)損耗因數、介質(zhì)損耗角正切值
使用人群：科研所、教學(xué)、質(zhì)量、單位等
“Q"表示元件或系統的“品質(zhì)因數"，其物理含義是在一個(gè)振蕩周期內貯存的能量與損耗的能量之比。對于電抗元件(電感或電容)來(lái)說(shuō)，即在測試頻率上呈現的電抗與電阻之比。調諧電容有步進(jìn)馬達帶動(dòng)，根據不同電容值由CPU計算脈沖數去控制馬達。電容值可預置并可電容搜索。 工作頻率值、頻段、主調電容器值、諧振電感值、Q值、Q值比較設置狀態(tài)、Q值量程、手/自動(dòng)狀態(tài)、頻率或電容搜索指示、Q值調諧指示帶。
自然頻率法(此法可獲得較準確的結果)將被測線(xiàn)圈接在“Lx"接線(xiàn)柱上；將微調電容器度盤(pán)調至零，調諧電容器度盤(pán)調到zui大電容值C1； 調訊號源頻率，使回路諧振，該頻率為f1；取下被測線(xiàn)圈，換上一個(gè)能在調諧電容器調節范圍內和十倍于f1頻率諧振的電感；訊號源調到10 f1位置，調節調諧電容器到諧振點(diǎn)；
將被測線(xiàn)圈接在"Cx"兩端，調節調諧電容器達諧振，此時(shí)視電容讀數是增加還是減小。若增加，則應將振蕩器頻率調高些，若減小，則頻率調低些。
