Inframet設計生產(chǎn)的用于測試多傳感器監控系統的MS系列測試系統不僅支持這些監控系統的擴展性測試，也支持軸對準測試。然而，MS系列測試系統是相對昂貴的測試系統。JT多傳感器軸對準測試系統是相對經(jīng)濟的系統，用于精確的軸對準測試以及光電多傳感器監控系統的基本參數測試。
測試功能：
1. 不同視場(chǎng)的熱像儀的軸對準；
2. 不同鏡頭焦距的可見(jiàn)光-近紅外相機的軸對準；
3. 可見(jiàn)光-近紅外相機與熱像儀之間的軸對準；
4. 激光測距機與可見(jiàn)光-近紅外相機之間的軸對準；
5. 激光測距機與熱像儀之間的軸對準；
6. 激光指示器與可見(jiàn)光/近紅外相機以及熱像儀之間的軸對準；
7. 可見(jiàn)光/近紅外相機的分辨率/靈敏度；
8. 熱像儀的分辨率；
9. 激光測距機的發(fā)散角；
10. 參考光軸與參考機械軸(平面)的對準誤差。
可選：
1. 可見(jiàn)光/近紅外相機與短波紅外相機之間的軸對準；
2. 熱像儀與短波紅外相機之間的軸對準；
3. 短波紅外相機的分辨率/靈敏度。
產(chǎn)品參數
表1. JT系列系統的版本基于平行光管口徑
口徑編碼 | 平行光管有效輸出口徑（mm） | 平行光管內死區 | 尺寸 |
JT150 | 150 | 46 | 270x340x740 mm |
JT200 | 200 | 51 | 320x410x980 mm |
JT250 | 250 | 56 | 350x440x1150mm |
JT300 | 300 | 70 | 450x520x1450mm |
JT400 | 400 | 81 | 550x620x1850mm |
JT500 | 500 | 96 | 650x 720x2300 mm |
JT600 | 600 | 125 | 750x820x2750mm |
JT-EX | 可選600以上 | / | / |
表2. JT測試系統版本
編碼 | 計算機化控制/軸對準/測試功能 | 模塊 |
X1 | 非計算機化測試系統 | CJT平行光管，DNSB雙色源，CDNSB控制器，USAF1951靶標，IR-USAF1951靶標 |
X2 | 非計算機化測試系統 | CJT平行光管，DNSB雙色源，CDNSB控制器，USAF1951靶標，IR-USAF1951靶標，多圖形靶標，一組MON卡，一組TEG卡，一組TEP卡，一組OA衰減器，AH1適配器 |
X3 | X2+多脈沖激光測距機與激光指示器可以被校準，增加了ABS卡，LIC卡以及兩個(gè)ILU卡。 | CJT平行光管，DNSB雙色源，CDNSB控制器，USAF1951靶標，IR-USAF1951靶標，多圖形靶標，一組MON卡，一組TEG卡，一組TEP卡，一組OA衰減器，AH1適配器，ABS卡，LIC卡以及兩套ILU卡 |
Y1 | 計算機化測試系統 | CJT平行光管，DNSB雙色源，CDNSB控制器，USAF1951靶標，IR-USAF1951靶標，多圖形靶標，一組MON卡，一組TEG卡，一組TEP卡，一組OA衰減器，AH1適配器，圖像采集卡，計算機，BOR軟件 |
Y2 | Y1+多脈沖激光測距機與激光指示器 | CJT平行光管，DNSB雙色源，CDNSB控制器，USAF1951靶標，IR-USAF1951靶標，多圖形靶標，一組MON卡，一組TEG卡，一組TEP卡，一組OA衰減器，AH1適配器，圖像采集卡，計算機，BOR軟件，ABS卡，LIC卡以及兩套ILU卡 |
Y3 | Y2+ JT光軸可垂直于被測系統固定平臺的基準機械面 | Y2+帶自準直功能的CJT平行光管、及BRL相機 |
Y4 | Y3+激光測距機的發(fā)散角測試功能 | Y3+SR10相機以及升級BOR軟件 |
Y5 | Y4+激光接收器軸對準功能 | Y4+BRES接收器對準模塊和CBRES控制程序 |
附加選項：
1. JT工作站的任何版本都可以在所選版本中添加字母S，擴展到SWIR成像儀的測試。
2. Inframet可以在所選版本中添加Borex，提供特殊的Borex平臺來(lái)固定被測成像儀，以支持光電系統的專(zhuān)業(yè)對準。
