二手安捷倫ICP-MS 7500
安捷倫 Agilent 7500 ICP-MS電感耦合等離子體質(zhì)譜是一種新型的無(wú)機元素和同位素分析技術(shù)，可快速同時(shí)檢測周期表上幾乎所有元素。ICP-MS技術(shù)在分析能力上，超過(guò)傳統的無(wú)機分析技術(shù)如電感耦合等離子體光譜技術(shù)(ICPAES)、石墨爐原子吸收(GFAAS)和汞冷原子吸收技術(shù)(CVAAS)的總和，被稱(chēng)為當代分析技術(shù)更激動(dòng)人心的發(fā)展。
Agilent 7500 ICP-MS技術(shù)的應用領(lǐng)域包括：
環(huán)境樣品分析，包括自來(lái)水、地表水、地下水、海水以及各種土壤、廢棄物等的分析
半導體材料分析
玻璃、陶瓷和礦冶等樣品分析
地質(zhì)學(xué)研究
生物食品及醫藥臨床研究
核材料分析
石油化工樣品分析
法醫應用與研究
更近，與分離技術(shù)聯(lián)用進(jìn)行環(huán)境毒理、生命科學(xué)等領(lǐng)域的元素價(jià)態(tài)、形態(tài)分析成為ICP-MS技術(shù)應用的一個(gè)焦點(diǎn)。
安捷倫Agilent 7500 ICP-MS分析特性：
可快速同時(shí)檢測周期表上幾乎所有元素
更低的檢出限（低*ppq級）
分析效益/成本比更佳
更寬的線(xiàn)性動(dòng)態(tài)范圍—可直接檢測從ppq到數百ppm濃度
譜線(xiàn)更簡(jiǎn)單、干擾更小，準確度和精密度好
需要樣品量很低(ul*ml)，分析速度很快（1～3分鐘/樣品）
檢測模式靈活多樣
半導體工業(yè)常用材料中超痕量污染物分析
固體：Si；GaAa單晶切片；石英、碳化硅等爐材料；高純金屬電極等
液體：超純水；HF；HNO3；HCI；H2SO4；H2O2；氨水等
氣體：SiH4；TE0S；NF3；N2等
Agilent ICP-MS可直接分析有機樣品。
Agilent ICP-MS的高效能、高功率屏蔽矩冷等離子體技術(shù)已被用于測定一系列有機樣品的ppt級痕量污染元素。
對其中一些樣品，其他方法無(wú)法得到滿(mǎn)意的結果，高功率屏蔽矩冷等離子體技術(shù)是的分析方法。
強堿性清洗劑——四甲基氫氧化氨(TMAH)等
常用有機溶劑——甲苯、二甲苯、IPA等
高基體樣品——光刻膠、液晶、BPSG、PSG等揮發(fā)性的清洗劑——丙酮、甲醇等
