20秒內獲得高準確度的結果（例如：低合金鋼）
定期維護的工作量（火花臺清洗）減少8倍
元素在低合金鋼中平均檢測限改善2倍，元素在純鋁中的平均檢測限改善5倍
儀器的占地面積減少27%
單一標樣實(shí)現整個(gè)系統的標準化, 此項每天可節省30分鐘工作時(shí)間
作為電弧/火花創(chuàng )新技術(shù)的，40多年來(lái)，SPECTRO全心投入開(kāi)發(fā)出的發(fā)射光譜儀。今天，斯派克公司引入CMOS探測器技術(shù)，改變了電弧/火花分析技術(shù)的走向及未來(lái)。在所有同類(lèi)分析儀中，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象，元素檢測限低限，同時(shí)她也可以提供超長(cháng)的正常運行時(shí)間和非常具有前瞻性的靈活性。
SPECTROLAB S 擁有一個(gè)基于CMOS的探測器的記錄系統，該系統非常適合于金屬分析。從微量元素到多基體應用，它提供了極其快速、高度準確、異常靈活的技術(shù)選擇。
樣品的分析速度是儀器性的重要標志，SPECTROLAB S的推出滿(mǎn)足了金屬分析市場(chǎng)對速度的需求。例如：當檢測低合金鋼時(shí)，它可以在20秒或更短的時(shí)間內提供高準確度的測量值！
從技術(shù)指標和實(shí)際使用效果看，SPECTROLAB S均是目前金屬冶煉廠(chǎng)的、高性能的光譜儀。對于金屬再加工生產(chǎn)商、汽車(chē)和航空航天制造商、以及成品和半成品、電子產(chǎn)品、半導體等制造商來(lái)說(shuō)，她給出的解決方案同樣出色。
