超聲波影像裝置FineSAT Ⅲ
一、概要
超聲波影像裝置FineSAT是使用超聲波非破壞獲得半導體封裝、電子零部件、陶瓷、金屬樹(shù)脂零部件等的內部孔隙、裂紋、剝離等缺陷影像的裝置。X射線(xiàn)裝置、紅外線(xiàn)檢查裝置、光學(xué)顯微鏡檢查不出來(lái)的納米級縫隙也能檢測出來(lái)。
FineSAT Ⅲ是FineSAT的第三代，在將高評價(jià)的分辨率等基本功能提升至更高水準的同時(shí)，還充實(shí)了包括高速自動(dòng)測量、透射?反射同時(shí)測量、自動(dòng)判斷缺陷功能等各種分析軟件。而且，還提高了使用便捷性（如探傷數據批量保存等），可適用于從產(chǎn)線(xiàn)中的大量檢查到研究、開(kāi)發(fā)等廣泛用途。
二、特點(diǎn)
開(kāi)口部大，提高安全性還標準裝備防止機械、電氣事故的機構，如在開(kāi)口部（開(kāi)口部擴大，方便樣品進(jìn)出）設置防止誤操作的區域傳感器等。
細致應對作業(yè)需要
搭載容易固定小樣品的磁板、日常檢查的標準試驗片等裝備。除此之外，在軟件方面，也針對以豐富幫助功能等為代表的增強日常操作性進(jìn)行了極其細微的應對。
追求使用便捷性和安全性
為了更容易使用、更安全地作業(yè)，對細節進(jìn)行了精心考慮，如兩側的大型窗口、LED照明、電源開(kāi)關(guān)的保護蓋、前面的透明板可安裝拆卸等。
還有固定彎曲印刷電路板的治具、測定時(shí)防止樣品背面沾水的局部浸水裝置等選購件，請隨時(shí)咨詢(xún)。
三、功能
種類(lèi)豐富的探頭
用于反射法時(shí)，從低頻到高頻，從短焦距到長(cháng)焦距，適合測定對象和測定條件的探頭豐富齊全，除此之外，透射法探頭也，可找到合適客戶(hù)的測定對象的探頭。 我們還可幫助您選定合適的探頭。
*我們還可根據您的要求，生產(chǎn)測定時(shí)不讓測定對象物沒(méi)在水下的局部浸水型探頭。
進(jìn)一步發(fā)展的FineSAT Ⅲ的解析軟件
FineSATⅢ進(jìn)一步發(fā)展了波形解析、測量、剝離判定、深度信息等解析軟件
可以實(shí)時(shí)比較±相位、強度和深度數據。另外，在波形重疊顯示時(shí)，即使是不同的時(shí)間軸，也可以自動(dòng)調整時(shí)間軸并保存。 另外，通過(guò)的像素間插值處理和自動(dòng)對比度等方法，可以毫不費力地得到更易看懂的數據。
在多閘門(mén)功能方面，最多可設定64個(gè)柵場(chǎng)，標準配備了批量保存各閘門(mén)內數據和測定條件及在1個(gè)文件中保存圖像數據的功能。
另外，還標準配備了導入所有點(diǎn)的波形、離線(xiàn)變更閘門(mén)位置、重新描繪影像的功能。如果有可進(jìn)行FFT解析和差分成像處理的容量掃描功能(選購件)，追加3D查看器軟件(選購件)后，可構筑更加立體的超聲波影像數據，強力地支持內部的結構分析。
可同時(shí)顯示反射強度和深度的配置，進(jìn)行復合評價(jià)。
可實(shí)時(shí)對±相位、強度、深度、極性強調進(jìn)行比較解析。
3D瀏覽器軟件(選購件)
可通過(guò)3D恢復形狀、使之可視化，使之在水平、垂直方向同時(shí)進(jìn)行360°旋轉，在任意視角觀(guān)察，在任意位置顯示截面。
四、規格
FS100Ⅲ | FS200Ⅲ | FS300Ⅲ | |
支持探頭頻率(MHz) | 5～75 | 5～140 | 5～300 |
有效掃描范圍（mm） | 350×350 | ||
探頭高度行程(mm) | 80 | ||
zui小掃描間距(µm) | 0.5 | ||
zui大掃描速度(mm/s) | 1,000 | ||
外形尺寸(mm) | 1,590×1,340×940 | ||
質(zhì)量(kg) | 約380 | ||
電源規格 | AC100V/15A 50/60Hz | ||
不滿(mǎn)5MHz的探頭請咨詢(xún)。
此范圍以上的掃描范圍也可以應對，請咨詢(xún)。
面向海外時(shí)，其他規格也可應對。
還備有英文版軟件。
五、尺寸圖
