核心參數
質(zhì)量分辨率26000
質(zhì)量分析范圍> 12000 u
原始束流或速能量0-30kV
儀器種類(lèi)飛行時(shí)間
產(chǎn)品介紹
全新 M6 — — 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)科技
M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基礎上開(kāi)發(fā)的新一代飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)儀器,對一次離子源(LMIG)和質(zhì)量分析器(TOF Analyser)進(jìn)行了突破性的改進(jìn)。
此外,在硬件方面還增加了 MS/MS 功能選項,重新設計了加熱和冷卻系統;在軟件方面新增了多元統計分析(MVSA)軟件包。其設計保證了 SIMS 應用在所有領(lǐng)域的性能。
新的突破性離子束和質(zhì)量分析器技術(shù)使 M6 成為二次離子質(zhì)譜(SIMS)儀器中的耀眼光芒、工業(yè)和學(xué)術(shù)研究的理想工具。
全新 M6 具有以下突出優(yōu)勢:
1 新型 Nanoprobe 50 具有高橫向分辨率 (< 50="">
2 質(zhì)量分辨率 > 30,000
3 的延遲提取模式可同時(shí)實(shí)現高傳輸,高橫向質(zhì)量
4 廣域的動(dòng)態(tài)范圍和檢測限
5 用于闡明分子結構具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS
6 智能的 SurfaceLab 7 軟件,包括集成的多元統計分析 (MVSA) 軟件包
7 新型靈活按鈕式閉環(huán)樣品加熱和冷卻系統,可長(cháng)期無(wú)人值守運行