Park FX40
納米科學(xué)研發(fā)界應運而生的的
新型全自動(dòng)原子力顯微鏡
該產(chǎn)品可以通過(guò)多樣化的應用程序，不費吹灰之力即可獲得最敏銳、最清晰、分辨率的掃描圖像。
通過(guò)的速度和精度，推動(dòng)您研發(fā)進(jìn)步并助力您的科學(xué)新發(fā)現——FX40將人工智能運用得，全自動(dòng)化的過(guò)程能實(shí)現用戶(hù)納米級顯微鏡的需求。額外的軸向自動(dòng)激光校準、早期預警系統和故障自動(dòng)保險、同步化信息提取和存儲，讓即便是未經(jīng)原子力顯微鏡專(zhuān)業(yè)培訓的研究科學(xué)家們也可以輕松快速地獲得的掃描結果。
納米級的顯微鏡
硬核級的科技進(jìn)步
- 鼎力相助時(shí)代前沿的科技研發(fā)
- 研究型AFM中采用的雙攝像頭系統
- 能全自動(dòng)化實(shí)時(shí)更新海量數據
實(shí)現全自動(dòng)技術(shù)的智能原子力顯微鏡
Park FX只需鼠標一鍵操作，就能實(shí)現自動(dòng)換針，以避免探針被污染或因操作不當而導致的探針損壞等問(wèn)題。用戶(hù)還可以根據提示，選擇不同的探針類(lèi)型，應用類(lèi)型和使用信息等。
通過(guò)自動(dòng)換針?lè )绞?，用?hù)可輕松安全地進(jìn)行自動(dòng)換針。利用裝有8個(gè)針盒和磁控機制的便利性，用戶(hù)無(wú)需操作便可安裝探針。
探針識別攝像頭可以加載探針芯片載體上的二維碼，提取并顯示每個(gè)可用探針的探針類(lèi)型，應用類(lèi)型和使用信息等全部相關(guān)信息。
自動(dòng)激光校準功能將SLD光定位到懸臂梁的適當位置，并進(jìn)一步分別優(yōu)化PSPD的垂直和橫向位置。用戶(hù)只需簡(jiǎn)單點(diǎn)擊，移動(dòng)X,Y和Z軸便可得到毫不失真的高清掃描圖。
雙攝像頭系統
自動(dòng)校準探針和樣品位置
樣品攝像頭
樣品臺上最多可以同時(shí)放置四個(gè)不同量級的樣品。即便如此，樣品攝像頭也可以毫不費力地定位到相關(guān)位置進(jìn)行精確掃描。
探針識別攝像頭
探針識別系統可以幫助用戶(hù)搜索相關(guān)探針的全部信息（包括探針類(lèi)型，應用類(lèi)型和使用信息等）使研究工作事半功倍。只需一鍵便可輕松選擇您所需要的探針。
智能自動(dòng)化
FX40擁有的智能視覺(jué)系統，能自動(dòng)檢測探針是否正確定位。軟件界面通過(guò)定位加載探針的位置至納米級別，并在必要時(shí)生成錯誤狀態(tài)報告，同時(shí)將這些數據與成千上萬(wàn)個(gè)可能發(fā)生的模擬問(wèn)題進(jìn)行比較，以此不斷更新升級軟件。
原子力顯微鏡中速精確的真正非接觸模式
對于針尖樣品，非接觸模式展現了其的控制力，距離達到了亞納米級別。Park FX40擁有的快速且精確的非接觸模式。
環(huán)境傳感器
智能掃描儀顯示并儲存傳感器的測量。傳感器主要測量基本的環(huán)境條件，如溫度，濕度，水平和振動(dòng)。由此幫助用戶(hù)在不同環(huán)境條件下掃描圖像，為您篩選的環(huán)境指標。
安全的探針安裝系統
用戶(hù)可以自選手動(dòng)或自動(dòng)探針安裝功能，同時(shí)內置的智能系統會(huì )自動(dòng)檢測并在用戶(hù)錯誤安裝探針時(shí)發(fā)出警告，從而有效提高測量精準度。
AFM體驗——專(zhuān)為FX設計的Park OS SmartScan
簡(jiǎn)易單擊成像
設置
自動(dòng)探針檢測，自動(dòng)激光校準
簡(jiǎn)要的教學(xué)動(dòng)畫(huà)分分鐘讓您學(xué)會(huì )如何進(jìn)行樣品放置以及儀器成像設置
1. 精準定位
定位樣品位置
AFM自動(dòng)執行懸臂的頻率性?huà)呙?，接近樣品?/span>Z移動(dòng)臺, 然后自動(dòng)聚焦，幫助您掃描任何您想要的區域。
2. 高清成像
自動(dòng)識別探針
完成定位之后，系統會(huì )設置理想的參數，連接懸臂并掃描樣品，直到為您掃出高解析度高分辨率的圖像。
