日立熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU7000：
此次推出的SU7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據獲得的信號來(lái)調整樣品與透鏡之間的距離（工作距離／以下簡(jiǎn)稱(chēng)WD），以設置的觀(guān)察與分析條件，而SU7000通過(guò)新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀(guān)察和分析的時(shí)間，提高了測試效率。而且，SU7000還配置了可同時(shí)6通道顯示界面（前代機型只能同時(shí)顯示4通道），進(jìn)一步升級SEM控制系統，大幅提高了信號獲取速度，由此實(shí)現了樣品的高通量觀(guān)察。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀(guān)察與分析。
日立熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU7000創(chuàng )新點(diǎn)：
SU7000配置了可同時(shí)6通道顯示界面（前代機型只能同時(shí)顯示4通道），進(jìn)一步升級SEM控制系統，大幅提高了信號獲取速度，由此實(shí)現了樣品的高通量觀(guān)察。
標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀(guān)察與分析；
SU7000通過(guò)新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統，可在不改變工作距離的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀(guān)察和分析的時(shí)間，提高了測試效率。
主要特點(diǎn)：
1．在相同WD的條件下，可同時(shí)實(shí)現二次電子、背散射電子觀(guān)察與X射線(xiàn)熒光分析
2．可同時(shí)實(shí)現6通道檢測與顯示
3．在像素10240 x 7680時(shí)，也可獲得圖像數據
4．同級別*設備中最 多的可配置18個(gè)附件接口5．支持低至300Pa的低真空模式（選配）；*空間分辨率在1 nm/1 kV以下
