微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗證測試,在幾秒內即可獲得準確的數據。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內廣泛接受認可的分析方法,提供易于使用、快速和無(wú)損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗證測試,在幾秒內即可獲得準確的數據。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內廣泛接受認可的分析方法,提供易于使用、快速和無(wú)損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。