CHY-C2測厚儀，測厚儀

測厚儀適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。測厚儀符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多項標準。
測厚儀采用世界zui先技術(shù)，精度高達0.1um，多次測量結果高度*性；操作調試方便，測量結果進(jìn)行統計、分析、打印輸出；
測厚儀可連接計算機，根據客戶(hù)的需求選擇按數據表統計或柱狀圖進(jìn)行統計兩種方式，同時(shí)還可以試驗的數據轉換成網(wǎng)頁(yè)格式，實(shí)際在網(wǎng)絡(luò )或局域網(wǎng)內進(jìn)行數據的傳輸。
測厚儀技術(shù)指標：
測量范圍：0～2mm（常規）
                   0～6mm；12mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：10次/min（可調）
測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
           注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制