SpectrumTEQ-EL測量系統 返回列表頁(yè)

SpectrumTEQ-EL電致發(fā)光量子效率測量系統

SpectrumTEQ-EL系列電致發(fā)光量子效率測量系統，可以針對發(fā)光器件的光電特性進(jìn)行有效測量，系統搭配的QEpro光譜儀為業(yè)內*旗艦系列，具有信噪比、低雜散光等特性，可確保測量結果得準確性；同時(shí)，系統配有強大的測試軟件，對話(huà)框式的軟件操作界面讓測量過(guò)程變得更為簡(jiǎn)單。

測量參數

· 量子效率

· 亮度

· 量子效率隨電流密度的曲線(xiàn)

· 色坐標

· 輻射通量，光通量

· 主波長(cháng)

應用領(lǐng)域

· 無(wú)機電致發(fā)光

· 有機電致發(fā)光

· 分子薄膜EL器件

產(chǎn)品優(yōu)勢

· 體積小巧：便于靈活使用及運輸。

· 原位測量：可放至手套箱內，實(shí)現原位測量

· 流程化操作：設備無(wú)需頻繁校準。

產(chǎn)品參數