斯瑞特（北京）科技有限公司
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聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)38DL PLUS測厚儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
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38DL PLUS超聲測厚儀：
38DL PLUS測厚儀是一款開(kāi)創(chuàng )超聲測厚技術(shù)新時(shí)代的創(chuàng )新型儀器。這款手持式測厚儀可地適用于幾乎所有超聲測厚應用，而且與所有雙晶和單晶探頭*兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應用，包括使用雙晶探頭對內壁腐蝕的管件進(jìn)行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進(jìn)行的極其精確的壁厚測量。
38DL PLUS的標準配置帶有很多既強大又易于使用的測量功能，以及一些專(zhuān)用于某些特殊應用的軟件選項。其密封機殼的設計符合IP67評級要求，可以抵御極其潮濕或多沙塵的嚴酷的環(huán)境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無(wú)論在明亮的陽(yáng)光下還是在*的黑暗中都能具有的可視性。測厚儀的鍵區既簡(jiǎn)潔又符合人體工程學(xué)的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪(fǎng)問(wèn)所有功能。
? 可與雙晶和單晶探頭兼容。
? 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據材料和所選探頭而定。
? 使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測厚。
? 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
? 內部氧化層/沉積物軟件選項。
? 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
? 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
? 多層軟件選項可對多達4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測量。
? 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
? 厚度、聲速和渡越時(shí)間測量。
? 差分模式和縮減率模式。
? 時(shí)基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數。
? 帶有數字式過(guò)濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)。
? 用于自定義V聲程補償的V聲程創(chuàng )建功能。
? 設計符合EN15317標準。
38DL PLUS測厚儀的設計宗旨是滿(mǎn)足苛刻的應用要求，而且可在野外和生產(chǎn)現場(chǎng)的惡劣條件下正常工作。無(wú)論檢測現場(chǎng)多么潮濕、有多大的塵沙、多么寒冷或多么炎熱、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常進(jìn)行檢測工作。如果您需要一款防撞擊、防墜落、堅固結實(shí)的測厚儀器，那么，符合IP67評級標準、帶有橡膠保護套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器。
? 袖珍型，僅重0.814公斤。
? 堅固耐用，設計符合IP67標準。
? 爆炸性氣氛：通過(guò)了美軍標準MIL-STD-810F方法511.4程序I中規定的測試，可在國家防火協(xié)會(huì )規范（NFPA 70）500節I級2分段D組中定義的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作。
? 防撞擊測試：通過(guò)了美軍標準MIL-STD-810F方法516.5程序I中規定的測試，每軸6個(gè)循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
? 防振動(dòng)測試：通過(guò)了美軍標準MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時(shí)。
? 寬泛的工作溫度范圍。
? 帶有支架的橡膠保護套。
? 彩色透反VGA顯示，帶有室內和戶(hù)外顏色設置，具有的清晰度。
戶(hù)外顯示設置，A掃描模式 室內顯示設置，B掃描模式
? 可用右手或左手單手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區。
? 可直接訪(fǎng)問(wèn)所有功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面。
? 內置和外置MicroSD存儲卡。
? USB和RS-232通訊端口。
? 可存儲475000個(gè)厚度讀數或20000個(gè)波形的字母數字式數據記錄器。
? 可連接計算機或顯示器的VGA輸出。
? 默認或自定義雙晶探頭設置。
? 默認或自定義單晶探頭設置。
? 密碼保護功能可以鎖住儀器的功能。
38DL PLUS測厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內置雙向字母數字式數據記錄器，可方便地收集和傳輸厚度讀數和波形數據。
? 內置存儲容量為475000個(gè)厚度讀數或20000個(gè)帶有厚度讀數的波形。
? 32位字符的文件名稱(chēng)。
? 20位字符的ID# (TML#)編碼。
? 9個(gè)文件格式：增量型、序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、2-D柵格型、帶自定義點(diǎn)的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動(dòng)型。
? 每個(gè)ID# (TML)編碼可最多存儲4個(gè)注釋。
? 注釋可存儲到一個(gè)ID#編碼上或存儲到一系列ID#編碼上。
? 內置和外置MicroSD存儲卡。
? 可以在內置和外置MicroSD存儲卡之間拷貝文件。
? 標準USB和RS-232通信。
? 單晶和雙晶探頭設置的雙向傳輸。
? 機載統計報告。
? 機載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。
? GageView接口程序通過(guò)USB或RS-232端口與38DL PLUS測厚儀通信，可以讀取MicroSD存儲卡上的數據，還可以在存儲卡上寫(xiě)入信息。
? 可將內部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式直接導出到MicroSD存儲卡。
? 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng )建、打印及管理來(lái)自38DL PLUS測厚儀的數據。
? 創(chuàng )建數據集和測量總結。
? 編輯所存數據。
? 顯示數據集和測量總結文件，文件包含厚度讀數、測厚儀設置值及探頭設置值。
? 從測厚儀上下載厚度測量總結，或上傳厚度測量總結至測厚儀。
? 將測量總結導出到電子表格及其他程序。
? 收集捕獲的屏幕。
? 打印有關(guān)厚度、設置表格、統計及彩色柵格的報告。
? 升級操作軟件。
? 下載和上傳單晶和雙晶探頭設置文件。
? B掃描回顧
38DL PLUS數字式超聲測厚儀，交流電源或電池供電，50 Hz～60 Hz。
標準雙晶探頭套裝盒
? 充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
? 內置數據記錄器
? GageView接口程序
? 試塊和耦合劑
? USB線(xiàn)纜
? 橡膠保護套，帶有支架和頸掛帶
? 用戶(hù)手冊
? 兩年有限擔保
測量功能：穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、最小值/值模式、兩個(gè)報警模式、差分模式、B掃描、自動(dòng)調用應用、溫度補償、平均值/最小值模式
| 測量 | |
| 雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的精確延時(shí)到個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。 |
| 穿透涂層測量模式 | 利用單個(gè)底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度。 |
| 穿透漆層回波到回波測量模式 | 在兩個(gè)連續底面回波之間的時(shí)間間隔，不計漆層或涂層的厚度。 |
| 單晶探頭測量模式 | 模式1：激勵脈沖與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。 模式2：延遲線(xiàn)回波與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲線(xiàn)式或水浸式探頭）。 模式3：在激勵脈沖之后，位于個(gè)表面回波后的相鄰底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲線(xiàn)式或水浸式探頭）。 氧化層模式：可選。 多層模式：可選。 |
| 厚度范圍 | 0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。 |
| 材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs |
| 分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米 標準分辨率：0.01毫米 高分辨率（可選項）：0.001毫米 |
| 探頭頻率范圍 | 標準：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB） 高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
| 一般規格 | |
| 工作溫度范圍 | -10°C～50°C |
| 鍵區 | 密封、以色彩區分功能的鍵盤(pán)，帶有觸感及聲音反饋。 |
| 機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼；機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。 |
| 外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 總體尺寸：125毫米x211毫米x46毫米 |
| 重量 | 0.814公斤 |
| 電源 | AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節AA輔助電池。 |
| 鋰離子電池供電時(shí)間 | 工作時(shí)間：最少12.6小時(shí)，一般14小時(shí)，最多14.7小時(shí)?？焖俪潆姡?小時(shí)到3小時(shí)。 |
| 標準 | 設計符合EN15317標準。 |
| 顯示 | |
| 彩色透反VGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米 |
| 檢波 | 全波、RF波、正半波、負半波 |
| 輸入/輸出 | |
| USB | 1.0從接口。 |
| RS-232 | 有。 |
| 存儲卡 | 容量：2 GB外置MicroSD存儲卡。 |
| 視頻輸出 | VGA輸出標準。 |
| 內置數據記錄器 | |
| 數據記錄器 | 38DL PLUS通過(guò)標準RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。 |
| 容量 | 475000個(gè)厚度測量讀數，或20000個(gè)帶厚度值的波形。 |
| 文件名稱(chēng)、ID編碼及注釋 | 32位字符的文件名，20位字符的字母數字位碼，每個(gè)位有四個(gè)注釋。 |
| 文件結構 | 9個(gè)標準的或自定義的用于特定應用的文件結構。 |
| 報告 | 機載報告總結了數據統計、帶有位置信息的最小值/值、最小值回顧、文件比較及報警報告。 |
38DLP-OXIDE (U8147014)：使用編碼激活的內部氧化層測量軟件。
38DLP-HR (U8147015)：使用編碼激活的高分辨率測量軟件。
38DLP-MM (U8147016)：使用編碼激活的多層測量軟件。
38DLP-HP (U8147017)：使用編碼激活的高穿透（低頻）測量軟件。
38DLP/EW (U8778348)：3年保修。
1/2XA/E110 (U8767104)：用于E110-SB EMAT探頭的濾波器適配器。
38-9F6 (U8840167)：RS-232線(xiàn)纜
38-C-USB-IP67 (U8800998)：USB線(xiàn)纜，用于符合IP67標準的密封操作。
38DLP/RFS (U8780288)：腳踏開(kāi)關(guān)，廠(chǎng)內安裝。
HPV/C (U8780124)：數字式卡尺線(xiàn)纜，用于在測量聲速時(shí)進(jìn)行厚度輸入。
38DLP-V-CC (U8840172)： 數字式卡尺線(xiàn)纜。
EPLTC-C-VGA-6 (U8840035)：VGA輸出線(xiàn)纜。
MICROSD-ADP-2GB (U8779307)：2 GB外置MicroSD存儲卡。
38DL PLUS測厚儀的一個(gè)主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結構的剩余厚度。這些應用中使用的是雙晶探頭。
? 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識別功能。
? 10個(gè)自定義雙晶探頭設置。
? 校準過(guò)程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認增益。
? 用于自定義V聲程補償的V聲程創(chuàng )建功能。
? 校準過(guò)程中出現回波加倍時(shí)使用的校準加倍功能。
? 用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。
? 高溫測量：溫度可高達500°C。
? 鍋爐管件和內部氧化層測量（可選項），使用M2017或M2091單晶探頭。
? EMAT探頭（E110-SB），用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測量。
使用單個(gè)底面回波測量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，要測量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。
材料中的溫度差異會(huì )影響材料聲速和厚度測量的精確性。用戶(hù)使用溫度補償功能可以手動(dòng)輸入校準試塊的溫度值和測量時(shí)的實(shí)際（高）溫度值。38DL PLUS自動(dòng)顯示經(jīng)過(guò)溫度校正的厚度值。
38DL PLUS使用高級算法測量鍋爐管件內壁氧化層/沉積物的厚度。測厚儀同時(shí)顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預測管件的壽命。建議在此項應用中使用M2017或M2091探頭。
用戶(hù)使用這項正等待通過(guò)的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng )建一條自定義V聲程補償曲線(xiàn)。在為大多數雙晶探頭保存和調用自定義設置時(shí)，這條曲線(xiàn)也被同時(shí)保存和調用。
用戶(hù)只需校準并輸入已知厚度值（最小3個(gè)校準點(diǎn)；10個(gè)校準點(diǎn)），儀器就會(huì )創(chuàng )建V聲程補償曲線(xiàn)。
所有標準的雙晶探頭都具有自動(dòng)探頭識別功能。這個(gè)功能可以為每種不同類(lèi)型的探頭自動(dòng)調用默認V聲程校正。
用戶(hù)使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類(lèi)型的單晶探頭。用戶(hù)使用高分辨率軟件選項可以進(jìn)行分辨率為0.001毫米的極其精確的厚度測量。
? 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
? 在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量值。
? 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
? 多層軟件選項可對多達4個(gè)不同層的厚度同時(shí)進(jìn)行測量。
? 測量厚度、聲速或渡越時(shí)間。
? 帶有默認和自定義設置的自動(dòng)調用應用簡(jiǎn)化了厚度測量。
用戶(hù)使用這個(gè)選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。
這個(gè)軟件選項計算并同時(shí)顯示多達4個(gè)不同層的厚度測量值。
這個(gè)功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應用包括對塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預成型坯及軟性隱型眼睛進(jìn)行的厚度測量。
Olympus NDT提供各種類(lèi)型的探頭、線(xiàn)纜、耦合劑、校準試塊以及附件，可以滿(mǎn)足各種超聲精確測厚應用的要求。
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