詳細摘要： ZA系列原子吸收分光光度計秉承偏振塞曼法和雙檢測器實(shí)時(shí)校正，新增日立技術(shù)，數據結果優(yōu)異，穩定可靠
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詳細摘要： ZA系列原子吸收分光光度計秉承偏振塞曼法和雙檢測器實(shí)時(shí)校正，新增日立技術(shù)，數據結果優(yōu)異，穩定可靠
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詳細摘要： FT160系列鍍層測厚儀介紹：FT160系列鍍層測厚儀旨在應對超薄鍍層的挑戰，例如當今不斷縮小的電子元器件的鍍層
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詳細摘要： 中型鎢燈絲掃描電鏡SU3800/SU3900產(chǎn)品詳情：中型鎢燈絲掃描電鏡SU3800/SU3900特點(diǎn)：1、配備了多功能超大樣品倉
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詳細摘要： XRF鍍層測厚儀FT230FT230臺式XRF分析儀的設計大大減少了進(jìn)行測量的時(shí)間
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詳細摘要： 傳輸的光線(xiàn)量越多，獲得的光譜噪音就越小，因此可以檢測到吸收區域的光線(xiàn)范圍就越寬?？梢詸z測高濃度樣品，適用濃度范圍更廣。
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詳細摘要： *寬的動(dòng)態(tài)范圍，約6個(gè)數量級，低濃度和少量樣品均可有效分析，具有零值校正
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詳細摘要： 通過(guò)偏振塞曼背景校正可獲得高可靠性的數據。
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詳細摘要： HM1000A 篩選出的達標樣品不需要進(jìn)一步分析，有助于減少精準分析所耗費的大量時(shí)間和成本。
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詳細摘要： 脫氣裝置、梯度單元、樣品冷卻單元等主要選配件均內置于主機內，即使添加選配件也不占用額外空間。
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詳細摘要： *用于鉛映射的專(zhuān)用濾波器，用于檢測線(xiàn)路板上鉛的存在
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詳細摘要： 3、大束流（＞200nA）便于高效微區分析
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詳細摘要： 3、采用了新的算法，提高了自動(dòng)聚焦精度
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詳細摘要： 微區膜厚測量精度提高通過(guò)縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
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詳細摘要： Ag, Au, Co, Cr, Cu, Fe, Mo, Pd, Rh, Ti, W
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