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    微區光電流及光譜測試平臺

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    Tuotuo 科技TTT-03微區光電流及光譜測試平臺采用的模塊化光學(xué)、機械、探測器及軟件設計理念,搭載多波長(cháng)/多品種激光光源、電流-電壓測試儀表、光譜儀、高精度平移臺以及集中控制軟件,實(shí)現材料器件的微區光電響應測試及掃描成像、電致發(fā)光/光致發(fā)光等多種光譜探測、發(fā)光壽命探測等功能。

    詳細介紹

    微區光電流及光譜測試平臺

    Tuotuo 科技TTT-03微區光電流及微區光譜測試平臺采用的模塊化光學(xué)、機械、探測器及軟件設計理念,搭載多波長(cháng)/多品種激光光源、電流-電壓測試儀表、光譜儀、高精度平移臺以及集中控制軟件,實(shí)現材料器件的微區光電響應測試及掃描成像、電致發(fā)光/光致發(fā)光等多種光譜探測、發(fā)光壽命探測等功能。

    系統構成

    l 成像系統

    - 研究級正置或倒置顯微鏡

    - 可配置各波段、各種靈敏度相機

    - 錐光觀(guān)測裝置,輕松準直

    - 紫外-可見(jiàn)--紅外多種物鏡

    l 激光及光源

    - 高穩定激光合束器可容納多達8臺激光器,電動(dòng)切換

    - 深紫外 - 遠紅外全兼容

    - 自動(dòng)偏振、強度控制

    - 支持飛秒~納秒脈沖激光

    - 支持超連續譜、燈室等寬譜光源

    l 樣品臺

    - 高負載、高精度X-Y平移臺

    - 直流、RF探針支持

    - 低溫/變溫支持

    - 外加電磁場(chǎng)支持

    l 測試

    - 電學(xué)測試(光電流,I-V)

    - 明暗場(chǎng)成像

    - 發(fā)射光譜

    - 各向異性測量

    - TCSPC壽命測量及成像

    - ......

    增強款微區光電流/光譜系統

    微區光電流及光譜測試平臺功能與配置

    顯微及成像功能

    l 研究級正置、倒置顯微鏡

    l 支持明暗場(chǎng)成像

    l 電致發(fā)光成像、光致發(fā)光成像

    l 雙光子/多光子熒光成像

    l 二次諧波成像

    l 可選配工業(yè)觀(guān)察相機、高靈敏度科研級CCD相機及EMCCD相機等

    l 可選配近紅外/ 中遠紅外成像相機

    l 支持標準物鏡、長(cháng)工作距離物鏡、紫外/紅外物鏡

    光源

    l 266nm - 2μm波長(cháng),可同時(shí)配置8路光源,軟件切換

    l 可支持2μm - 12μm 中紅外光源

    l 可支持飛秒振蕩器、放大器、OPA、皮秒、納秒激光器等脈沖光源

    l 可擴展脈沖LED光源

    l 可支持燈室、超連續譜、ASE、SLD等寬帶光源

    l 全自動(dòng)偏振控制

    l 全自動(dòng)衰減控制

    光電流測試

    l 微區分辨率:500nm

    l 掃描分辨率:50nm

    l 掃描定位精度:±100nm

    l 掃描行程:100mm

    l 激發(fā)波長(cháng):取決于所選配光源

    l 全自動(dòng)掃描測試

    光譜測試

    l 兼容主流掌上光譜儀及科研級高靈敏度光柵光譜儀

    l PL光譜、反射光譜、單顆粒散射光譜測試

    l TCSPC熒光壽命測試及掃描成像

    擴展

    l 低溫樣品室

    l 偏置電磁場(chǎng)

    測試示例

    半導體器件微區光電流掃描成像

    鈣鈦礦PL成像

    MAPbI3體系強度相關(guān)PL光譜及PL壽命

    金納米顆粒單顆粒雙光子熒光光譜(左)

    金納米顆粒偏振敏感雙光子熒光(右)


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