詳細摘要： 水平方向的間隔315KHz（約2/25h），垂直方向的間隔900Hz的（約1/14h）。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時(shí)間：2022-09-21 在線(xiàn)留言深圳市賽麥吉圖像技術(shù)有限公司
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深圳市賽麥吉圖像技術(shù)有限公司
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詳細摘要： 水平方向的間隔315KHz（約2/25h），垂直方向的間隔900Hz的（約1/14h）。
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詳細摘要： 這張測試圖在垂直方向上有7個(gè)25mm的類(lèi)似棋盤(pán)型高精度LVT模塊。這張測試圖卡尺寸為8x10。?
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詳細摘要： 中型圖卡尺寸為24×36,XL圖卡尺寸為44×66。對于中型圖點(diǎn)的直徑尺寸為0.498（高有15個(gè)點(diǎn)）和0.299直徑長(cháng)的小點(diǎn)（高25個(gè)點(diǎn)）兩種。
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詳細摘要： 測試圖在白色背景上有水平23個(gè)和垂直53個(gè)直線(xiàn)柵格。3個(gè)網(wǎng)格線(xiàn)從中間劃分外圍的3行網(wǎng)格。
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詳細摘要： 該測試圖由分布在白色背景上的水平方向23個(gè)和垂直方向43個(gè)柵線(xiàn)形成的24x42個(gè)方格結構組成。
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詳細摘要： TE251設計用于測量數碼相機的失真。它包含在白色背景的黑十字架。
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詳細摘要： TE248設計用于測量數碼相機的失真。它包含在白色背景上的黑線(xiàn)細小網(wǎng)格。
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詳細摘要： 其中一個(gè)有31行的點(diǎn)和其他15行的點(diǎn)。 它們可用于確定失真和色差。
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詳細摘要： 該測試圖設計用于確定在主R，G，B型號之間存在相對水平和垂直的偏移量。
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詳細摘要： TE261傾斜邊緣目標在背景中有一個(gè)傾斜的棋盤(pán)，5個(gè)低對比度傾斜邊緣和前面的周?chē)疑a丁。
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詳細摘要： TE102測試圖被設計為檢查幾何和分辨率。
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詳細摘要： T06測試卡被設計用來(lái)檢查幾何和分辨率。
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詳細摘要： 它由中心一個(gè)大圓和周?chē)陌藗€(gè)位圈。且在9個(gè)位置有臥式/立式分辨率楔子。
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詳細摘要： CCD傳感器建成垂直行像素。這些垂直行將干擾通用型定位圖的垂直線(xiàn)。
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詳細摘要： TE173專(zhuān)門(mén)用于測量走樣?；殳B效應是兩個(gè)位圖的波紋扭曲造成的干擾。
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詳細摘要： 此高對比度“棋盤(pán)"（棋盤(pán)格）目標用于根據標準概述的規格測量失真和放大率。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時(shí)間：2022-09-18 在線(xiàn)留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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