日本理學(xué)ZSX Primus IV 波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀
ZSX Primus IV 面議深圳華普通用科技有限公司
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深圳華普通用科技有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號ZSX Primus III+
品 牌
廠(chǎng)商性質(zhì)其他
所 在 地深圳市
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更新時(shí)間：2023-06-12 11:08:14瀏覽次數：226次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)X射線(xiàn)管位于分析樣品上方，減少了真空室內飄散粉末損壞光管的風(fēng)險，并且無(wú)需在進(jìn)行粉末樣品
X射線(xiàn)管位于分析樣品上方，減少了真空室內飄散粉末損壞光管的風(fēng)險，并且無(wú)需在進(jìn)行粉末樣品分析時(shí)使用粘合劑，使樣品制備更快捷簡(jiǎn)便。
可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率，使粉末和金屬樣品的樣品處理量達到。
實(shí)現粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析
高精度定位樣品臺滿(mǎn)足合金分析高精度要求
特殊光學(xué)系統減少樣品表面不平而引起的誤差
樣品室可簡(jiǎn)單移出方便清潔
操作界面簡(jiǎn)潔、自動(dòng)化程度高
Rigaku ZSX Primus III +以很少的標準在各種樣品類(lèi)型中快速定量測定從氧氣（O）到鈾（U）的主要和次要原子元素。
ZSX Primus III +具有創(chuàng )新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護，再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結構消除了清潔問(wèn)題并延長(cháng)了使用時(shí)間。
樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線(xiàn)管之間的距離保持恒定。這對于要求高精度的應用很重要，例如合金分析。ZSX Primus III +采用的光學(xué)配置進(jìn)行高精度分析，旨在限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差，如熔融珠和壓制顆粒
EZ掃描允許用戶(hù)在未事先設置的情況下分析未知樣品。節省時(shí)間功能只需點(diǎn)擊幾下鼠標并輸入樣品名稱(chēng)。結合SQX基本參數軟件，它可以提供最準確，速的XRF結果。SQX能夠自動(dòng)校正所有的矩陣效應，包括線(xiàn)重疊。SQX還可以校正光電子（光和超輕元素），不同氣氛，雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應。使用匹配庫和的掃描分析程序可以提高準確度。
元素從O到U的分析
管道上方的光學(xué)器件使污染問(wèn)題最小化
占地面積小，使用的實(shí)驗室空間有限
高精度樣品定位
特殊光學(xué)元件可減少曲面樣品表面造成的誤差
統計過(guò)程控制軟件工具（SPC）
吞吐量可以?xún)?yōu)化疏散和真空泄漏率
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