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    行業(yè)產(chǎn)品

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    凱戈納斯儀器商貿(上海)有限公司


    HotDisk模塊

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    產(chǎn)品型號Hot Disk 模塊

    品       牌

    廠(chǎng)商性質(zhì)其他

    所  在  地上海市

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    更新時(shí)間:2024-10-23 20:17:52瀏覽次數:80次

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    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    HotDisk模塊

    詳細介紹

    Hot Disk設備不僅可以根據探頭的選擇,還可以根據可用的測量模塊來(lái)定制測試需求。這些模塊允許測試不同幾何形狀、導熱范圍和材料類(lèi)型的樣品。各向同性標準模塊是所有配置的核心,而可選模塊為Hot Disk配置添加更多新功能。

    各項同性標準模塊

    體導熱系數的全面測試

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

    各項同性標準模塊

    強大的各向同性測量模塊允許Hot Disk用戶(hù)測量任何各向同性塊體樣品的導熱系數、熱擴散率和比熱容,無(wú)論是固體、液體、粉末、膏體還是泡沫。用該模塊測得的導熱系數是樣品被檢測的體積的幾何平均值。使用各向同性模塊很簡(jiǎn)單,只需要最少的輸入參數。即使是一個(gè)未知材料性能的樣品也可以很快地進(jìn)行測試和分析。

    各向同性測量模塊具有單面和雙面試樣測試功能。

    導熱系數測試范圍:

    系統 范圍

    TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.03-500 W/mK

    TPS 1500 0.03-50 W/mK

    TPS 500 S, TPS 500 0.03-100 W/mK

    Hot Disk M1 0.03-40 W/mK

    適用系統型號:

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

    平板模塊

    板材或平板樣品的二維方向導熱系數測試

    TPS 2200 TPS 2500 S TPS 3500 TPS 500 (S)

    平板模塊

    利用平板測量模塊,可以對高導熱性材料的晶圓片、片或板進(jìn)行測試。在適合用這種方法檢測的樣品中,我們測量過(guò)如金屬、半導體和石墨。該方法在已知樣品厚度的前提下,只需要將測量時(shí)間和輸出功率作為數據輸入即可,使用起來(lái)非常簡(jiǎn)單直觀(guān)。

    平板測量模塊需要兩個(gè)相同的樣品片,以準確的測量。

    導熱系數測試范圍:

    系統 范圍

    TPS 3500, TPS 2500 S 1*-1500 W/mK

    TPS 2200 1*-500W/mK

    TPS 500 S 1*-200 W/mK

    *為了達到測試精度建議測試5W/mK以上的樣品,但低至1W/mK的樣品都可得到很好的重復性。

    適用系統型號:

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 500 S

    各向異性模塊

    方向依賴(lài)性的導熱系數測試

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500

    各向異性模塊

    各向異性測量模塊提供了的能力,以測量樣品在軸向和徑向分別的導熱系數。能夠測試導熱系數的各向異性對許多應用來(lái)說(shuō)是非常重要的。在任何涉及加熱或冷卻的情況下,例如電池、電子產(chǎn)品和建筑材料領(lǐng)域中,能夠確定這一特性是至關(guān)重要的。這種類(lèi)型的測量通過(guò)預輸入檢測樣品的比熱容即可實(shí)現。比熱容,如果不能在科學(xué)期刊中找到,或從以前類(lèi)似材料的測試中得知,可以很容易和準確地使用專(zhuān)用的TPS測量模塊進(jìn)行測試。

    各向異性測量模塊具有單面和雙面樣品測試的特點(diǎn),但建議使用雙面測試以達到精度。

    各向同性測量模塊具有單面和雙面試樣測試功能。

    導熱系數測試范圍:

    系統 范圍

    TPS 3500, TPS 2500 S 0.005-1500 W/mK

    TPS 2200 0.005-500W/mK

    TPS 1500 0.005-50 W/mK

    適用系統型號:

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500

    薄膜模塊

    測試透過(guò)薄膜的導熱系數

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200

    薄膜模塊

    薄膜模塊用于測量通過(guò)導電體或板式襯底上的絕熱薄膜或涂層的導熱系數。通過(guò)測量薄膜上的熱阻并輸入薄膜厚度即可得到導熱系數。薄膜的厚度可測20到500μm。

    薄膜測量模塊需要兩塊相同的樣品薄膜進(jìn)行測試。

    導熱系數測試范圍:

    系統 范圍

    TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.01-5 W/mK

    適用系統型號:

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200

    比熱模塊

    復雜樣品的直接Cp測試

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S)

    比熱模塊

    該專(zhuān)用模塊擅長(cháng)于確定固體或液體樣品的比熱容。與所有其他Hot Disk測試一樣,這個(gè)過(guò)程是溫和的,沒(méi)有破壞性的。被測試的樣品被放置在一個(gè)絕熱包裹的金容器中,使用設定的加熱功率小心地加熱幾度,可以實(shí)現非常精確的比熱計算。

    比熱容測量模塊是為單試樣測試而設計的。

    導熱系數測試范圍:

    系統 范圍

    TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 1500, TPS 500 S 5 MJ/m3K

    適用系統型號:

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 S

    單面模塊

    測試有限體積的樣品

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

    單面模塊

    雖然最準確的導熱系數測量是通過(guò)探頭夾在兩個(gè)樣品之間進(jìn)行的,但如果樣品量小,所有TPS儀器都可以進(jìn)行單面測試。這種類(lèi)型的測試表現出與標準測試同樣出色的重復性,并使快速QC測量或快速比較研究成為可能。單面測試的一個(gè)的缺點(diǎn)是測試結果的精度略低,這是由于探頭周?chē)臒崃鞅仨毷遣粚ΨQ(chēng)的。除此之外,絕熱背景材料的使用可以準確的測試高導熱樣品,而低導熱樣品(例如許多聚合物)只能得到蓄熱系數。單面測試不需要額外的設備,只需要使用任何絕熱材料來(lái)固定探頭即可。這是所有Hot Disk型號都提供的功能,并可以根據您的需求提供的絕熱背景材料。

    導熱系數測試范圍:

    系統 范圍

    TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.1-500 W/mK

    TPS 1500 0.1-400 W/mK

    TPS 500 S 0.1-200 W/mK

    TPS 500 0.1-100 W/mK

    *要達到精度,樣品至少需要1W/mK;然而,直到0.1W/mK都可以保持很好的重復性和蓄熱系數。

    適用系統型號:

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

    一維模塊

    棒狀樣品的導熱系數測試

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS 1500 TPS 500 (S)

    一維測試模塊


    當測試高導熱材料時(shí),如果樣品體積有限,一維方法是非常有用的。該模塊測試棒狀試樣沿軸向的導熱系數和熱擴散系數。這里探頭的直徑應該與樣品的直徑相匹配,這允許測量非常小的樣品,小到直徑1.5毫米和長(cháng)度4毫米。

    一維測量模塊具有單面和雙面試樣測試的特點(diǎn)。

    導熱系數測試范圍:

    系統 范圍

    TPS 3500, TPS 2500 S 1-1800 W/mK

    TPS 1500 1-400 W/mK

    TPS 500 S 1-200 W/mK

    適用系統型號:

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS1500 TPS 500 S

    低密度/高絕熱模塊

    測試最輕且最絕熱的樣品

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500

    低密度/高絕熱模塊

    為了提高非常低導熱材料(如氣凝膠)的測試準確性,這個(gè)模塊是的補充。這些材料的導熱系數如此之低,以至于通過(guò)探頭中間(在本例中是電纜)的熱損失變得非常顯著(zhù)。利用該模塊可以精確地校正熱損失,使測量極低的導熱系數成為可能。

    低密度/高絕熱測量模塊需要兩塊樣品進(jìn)行測試。

    導熱系數測試范圍:

    系統 范圍

    TPS 3500, TPS 2500 S,TPS 2200,TPS 1500 0.01-0.5 W/mK

    適用系統型號:

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500

    結構探頭模塊

    識別樣品內部的趨勢及缺陷

    TPS 3500 TPS 2500 S

    結構探頭模塊

    的結構探頭測量模塊使測量導熱系數隨探測深度的變化成為可能。該方法可用于非均勻性物質(zhì)的均勻性檢測、缺陷檢測或分析。為了精確測量,需要預先測量試樣的平均比熱容。

    結構探頭測量模塊具有單面和雙面試樣測試功能。

    導熱系數測試范圍:

    系統 范圍

    TPS 3500, TPS 2500 S 0.03-500 W/mK

    適用系統型號:

    TPS 3500 TPS 2500 S

    自動(dòng)控制模塊

    TCP/IP協(xié)議遠程控制

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

    自動(dòng)控制模塊

    該模塊允許通過(guò)TPC/IP協(xié)議遠程操作TPS儀器。當使用儀器進(jìn)行在線(xiàn)或近線(xiàn)應用時(shí),如質(zhì)量控制,或當操作員不能直接使用儀器時(shí),這就是一個(gè)強大的工具。

    適用系統型號:

    TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

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