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更新時(shí)間：2023-03-11 13:59:05瀏覽次數：428次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)THz-NeaSNOM太赫茲近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡，30nm光學(xué)信號空間分辨率
THz-NeaSNOM太赫茲近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號空間分辨率
太赫茲波段的納米分辨散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微-譜儀系統：
neaspec公司推出的第三代散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡neaSNOM，采用的高階解調背景壓縮技術(shù)，有效 提取散射近場(chǎng)信號，在獲得10nm空間分辨率的同時(shí)保持的信噪比，是目前世界上成熟的s-SNOM產(chǎn) 品。同時(shí)其贗外差干涉式探測技術(shù)，能夠獲得對近場(chǎng)信號強度和相位的同步成像。
由于的全反射式光學(xué)聚焦和無(wú)二的雙光路設計，neaSNOM是目前世界上一款可以應用于太 赫茲波段的近場(chǎng)光學(xué)顯微成像和譜儀系統。全新推出的THz-neaSNOM必將成為廣大太赫茲科研工作者手中的 神兵利器。
對有機和無(wú)機材料同樣適用
。封閉式外罩設計，減少氣流干擾。
。預先校準的近場(chǎng)光路，近一步提高穩定性
?？焖俪上?，并以10nm空間分辨率鑒別納米材料
。同步探測近場(chǎng)光學(xué)信號強度、相位并成像
?？蓪螌邮?，蛋白質(zhì)有效測量的高敏感度
。簡(jiǎn)單明了的光路說(shuō)明和光源選擇指示，培訓、操作簡(jiǎn)便
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
太赫茲（THz）光源波長(cháng)較大，一般在300微米左右。由于衍射極限的存在，THz遠場(chǎng)測量系統的光學(xué)空間分辨率一般被限制在150微米左右。該THz光遠場(chǎng)測量結果的準確度經(jīng)常無(wú)法滿(mǎn)足對材料科學(xué)研究，尤其是需要納米分辨率的微細尺度材料分布研究（例如半導體芯片中各個(gè)組成：源極，漏極，柵極）的實(shí)驗。THz-NeaSNOM近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡的出現為此難題提供了一個(gè)很好的解決方案。
德國Neaspec公司與Fraunhofer IPM在Neaspec公司NeaSNOM近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡的基礎上，已經(jīng)成功研發(fā)了一套易用使用且THz系統的空間分辨率達到30nm的實(shí)驗設備。
THz-NeaSNOM主要技術(shù)參數與特點(diǎn)：
。優(yōu)于30nm的空間分辨率
。常用THz光范圍：0.1-3THz
。設計的寬波段拋面鏡
。THz研究可使用商業(yè)
散射型近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡原理視頻介紹：
HNeaSNOM 30nm空間分辨率
的背景信號壓制技術(shù)：
s-SNOM技術(shù)相對于傳統SNOM更難實(shí)現的主要瓶頸在于，探測器通過(guò)自由光路接收散射信號時(shí)，其接收到 的光學(xué)信號中99%以上是懸臂、樣品等區域散射的背景信號，只有不到1%是來(lái)自于針尖與樣品之間的有效近 場(chǎng)信號。只有成功的將有效的近場(chǎng)信號提取出來(lái)，才能獲得可靠穩定的近場(chǎng)光學(xué)測量結果。
neaSNOM通過(guò)其的高階信號解調技術(shù)結合干涉式探測方式，實(shí)現了對背景信號的有效壓制，獲得了對 散射近場(chǎng)信號高度可重復性、高信噪比的可靠測量。
在原理上，利用AFM探針的高頻振動(dòng)，遠場(chǎng)光學(xué)信息在快速傅里葉變換后僅可獲得一階信號；相對地，近場(chǎng)光學(xué)信息可以獲得一至四階不同的信號。通過(guò)探測器對高階信號的采集處理，從而實(shí)現從背景信號中對有效 近場(chǎng)信號的剝離。
neaSNOM擁有的heterodyne探測模塊，可以利用參考鏡進(jìn)一步對剝離的近場(chǎng)信號進(jìn)行調制，從而實(shí)現了對其強度和相位的同時(shí)采集和成像。
更廣的波長(cháng)范圍和更高的分辨率
neaSNOM對晶體管的近場(chǎng)成像
與傳統SNOM技術(shù)受到分辨率極限的限制，而只能使用可見(jiàn)光或近紅外光源不同，neaSNOM將可用光源拓展到中紅外和太赫茲波段，并始終保持納米級分辨率，這決定于neaSNOM的分辨率只與散射源尺寸( AFM 針尖曲率半徑）有關(guān)這一技術(shù)特點(diǎn)。上圖為，neaSNOM采用波長(cháng)為10um的中紅外光源和118um的太赫 茲光源獲得的近場(chǎng)成像結果，其太赫茲成像的分辨率達到40nm，約為激發(fā)波長(cháng)的1/3000，充分證明了 neaSNOM的高分辨能力。
在中紅外和太赫茲波段的納米成像能力，使得neaSNOM具有對納米結構進(jìn)行電學(xué)，分子、晶格振動(dòng)等性質(zhì) 的探測能力，近一步拓展了近場(chǎng)光學(xué)技術(shù)的應用范圍，為更多學(xué)科提供了有利的表征手段。
更大的應用拓展空間
得益于優(yōu)秀的雙光路設計，neaSNOM在成像功能基礎上具有了更大的應用拓展空間。利用預留的第二套可 用光路，neaSNOM可以實(shí)現對拉曼、熒光、光誘導和超快等領(lǐng)域的研究，部分研究成果已經(jīng)發(fā)表在國際期刊。
專(zhuān)業(yè)的模塊化設計
neaSNOM散射型近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡采用模塊化設計，將可見(jiàn)光、近紅外、中紅外照明探測單元，nano-FTIR ,
透射模式等功能進(jìn)行封閉模塊化設計，進(jìn)一步提高了整體光路的穩定性，以及操作的簡(jiǎn)便性，便于使用者更 快掌握neaSNOM系統操作，獲得高質(zhì)量近場(chǎng)光學(xué)測結果。
用戶(hù)友好的軟件平臺
neaSNOM散射型近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡的軟件平臺歷經(jīng)數代開(kāi)發(fā)整合，已兼容于windows系統并有著(zhù)優(yōu)秀的客戶(hù)體驗。的軟件系統用戶(hù)友好，操作簡(jiǎn)單，為防止使用人員的誤操作，模塊化的設計體系保證了儀器更 高的安全性。
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