沈陽(yáng)華儀時(shí)代科技有限公司
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產(chǎn)品型號574
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廠(chǎng)商性質(zhì)其他
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更新時(shí)間：2023-02-18 13:32:02瀏覽次數：276次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)Scios 雙束電子顯微鏡
Scios™ 是一款超高分辨率DualBeam™ 分析系統，能為包括磁性材料在內的眾多樣本提供出色的二維和三維性能。Scios 的創(chuàng )新功能可提高通量、精度與易用性，適于學(xué)院、科研院所環(huán)境中的納米量級研究與分析。
高級檢測技術(shù)是Scios 的核心技術(shù)。透鏡內Trinity™ 檢測技術(shù)能夠同時(shí)收集所有信號，既節省了時(shí)間還能形成鮮明的對比度，從而有助于采集盡可能多的數據。創(chuàng )新的透鏡下同心后散射檢測器能提高效率，使您可以根據信號的角分布選擇信號，從而輕松分離材料和形態(tài)對比度，即使著(zhù)陸能量為20 eV 也是如此。
Scios 的材料科學(xué)應用
Scios DualBeam 特別適合用于金屬、復合物和涂層等眾多材料，能夠：
l 執行高分辨率、高對比度成像，對磁性樣本也不例外
l Trinity 檢測套件同步檢測材料、形態(tài)和邊緣對比度，從而分析材料的全部屬性
l 借助漂移抑制光刻，無(wú)需制備樣本即可制作具有位置特異性的切片，甚至可以對非導電材料進(jìn)行操作
l 生成三維數據立方體確定金屬中夾雜物的大小和分布，或對裂紋各個(gè)方向的應力和應變進(jìn)行分析
l 搭配EasyLift™ 可快速可靠地制備高質(zhì)量樣本，而且只需微量的電子束能量即可獲得更高質(zhì)量的S/TEM 結果
l 針對DealBeam TM 常見(jiàn)應用提供“用戶(hù)指南”和逐步工作流，使得任何經(jīng)驗水平的操作員都能即刻上手
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