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    QC82雙基涂層測厚儀

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    品       牌

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    QC82雙基涂層測厚儀概述QC82雙基涂層測厚儀又稱(chēng)涂層測厚儀,涂層膜厚儀,膜厚測試儀,膜厚測量?jì)x,涂層厚度計,涂層厚度儀,膜厚測量?jì)x,膜厚計,電鍍膜厚儀,薄膜測厚儀,厚度測試儀,厚度測量?jì)xQC82是一種便攜式雙基(鐵、鋁)測量?jì)x,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量

    詳細介紹

    QC82雙基涂層測厚儀概述

    QC82雙基涂層測厚儀又稱(chēng)涂層測厚儀,涂層膜厚儀,膜厚測試儀,膜厚測量?jì)x,涂層厚度計,涂層厚度儀,膜厚測量?jì)x,膜厚計,電鍍膜厚儀,薄膜測厚儀,厚度測試儀,厚度測量?jì)x


    QC82是一種便攜式雙基(鐵、鋁)測量?jì)x,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實(shí)驗室中的精密測量,也可用于工程現場(chǎng)廣泛地應用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)、航空航天、科研開(kāi)發(fā)等領(lǐng)域,是企業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量、商檢測控、的檢測儀器。


    QC82雙基涂層測厚儀符合以下標準

    GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法

    GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法

    JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量?jì)x

    JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》

    JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》


    QC82雙基涂層測厚儀的產(chǎn)品特點(diǎn)

    采用了磁性和渦流兩種測厚方法,即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度;可采用單點(diǎn)校準和兩點(diǎn)校準兩種方法對儀器進(jìn)行校準,并可用基本校準法對測量頭的系統誤差進(jìn)行修正,保證儀器在測量過(guò)程中儀器的準確性;能快速自動(dòng)識別鐵基體與非鐵基體具有電源欠壓指示功能操作過(guò)程有蜂鳴聲提示;設有兩種關(guān)機方式:手動(dòng)關(guān)機方式和自動(dòng)關(guān)機方式;有負數顯示功能,保證儀器在零位點(diǎn)的校準準確性;有顯示平均值、值、最小值功能


    QC82雙基涂層測厚儀的測量原理

    采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無(wú)損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、 油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、 鋁、 鋅、 錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

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    a) 磁性法(F 型測量頭)

    當測量頭與覆蓋層接觸時(shí),測量頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過(guò)測量其變化可導出覆蓋層的厚度。

    20160531042038198.png


    b) 渦流法(N 型測量頭)

    利用高頻交變電流在線(xiàn)圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),當測量頭與覆蓋層接觸時(shí),金屬基體上產(chǎn)生電渦流,并對測量頭中的線(xiàn)圈產(chǎn)生反饋作用,通過(guò)測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。


    規格參數

    測量范圍

    0-1250um

    工作電源

    兩節 5 號電池

    測量精度誤差

    零點(diǎn)校準 ±(1+3%H);二點(diǎn)校準±【(1%~3%H)】H+1.5

    環(huán)境溫度

    0-40℃

    相對濕度

    ≤85%

    最小基體

    10*10mm

    最小曲率

    凸:5mm;凹 :5mm

    基體

    0.4mm

    重量

    115 克(含電池)

    尺寸

    110mm*65mm*30mm


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