昆山友碩新材料有限公司
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更新時(shí)間：2023-03-12 13:47:48瀏覽次數：316次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)Axio Imager 2蔡司光學(xué)顯微鏡用于高級材料研究的顯微鏡系統 將易操作性引入顯微工作流程 - Axio Imager 2 確保在質(zhì)量檢驗和流程控制中提供精準
Axio Imager 2蔡司光學(xué)顯微鏡用于高級材料研究的顯微鏡系統
將易操作性引入顯微工作流程 - Axio Imager 2 確保在質(zhì)量檢驗和流程控制中提供精準且可重復的結果。
Axio Imager 2 擁有出色的光學(xué)鏡頭和均勻照明的特性。觀(guān)察方式和光路管理器能夠確保預設條件和可重復的結果。配置了 ACR 功能的 Axio Imager.Z2m 能自動(dòng)檢測和選擇物鏡以及觀(guān)察方式模塊。
從四種不同的主機架中選擇您需要的系統，并借助專(zhuān)業(yè)解決方案擴展應用：Particle Analyzer、關(guān)聯(lián)顯微系統或 LSM 700。
特點(diǎn)優(yōu)勢：
具有超高對比度和分辨率的出色光學(xué)系統
模塊化主機設計，利用一系列電動(dòng)和編碼組件增強靈活度
穩定的主機和無(wú)振動(dòng)的工作環(huán)境能夠確保觀(guān)測結果的可重復性
使用激光共聚焦掃描顯微鏡 LSM 700 對 Axio Imager 2 進(jìn)行升級
在關(guān)聯(lián)顯微系統的工作和顆粒度分析中使用 Axio Imager 2
在質(zhì)量檢驗和流程控制中，自動(dòng)化功能可確保重復檢測結果的精準
觀(guān)察方式選擇：
研究和檢測不同材料。分析金屬結構、復合材料、玻璃、木材和陶瓷。檢查聚合物和液晶。
多種觀(guān)察方式可供選擇，以獲得更多豐富的信息。使用反射光，在明場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分干涉(DIC)、圓微分干涉(C-DIC)、偏光或熒光下觀(guān)察樣品。使用透射光，在明場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分干涉(DIC)、偏光或圓偏光下檢測樣品。
觀(guān)察方式管理器能確保 Axio Imager 2 的照明設置可復制。
出眾的表面應用
Axio Imager.Z2m 或 Axio Imager.M2m 可以在觸摸屏上顯示關(guān)鍵操作功能，使用指尖控制所有電動(dòng)組件。
其他控制按鈕依照人體工程學(xué)方式排列在調焦驅動(dòng)裝置周邊，可通過(guò)觸覺(jué)輕易的區分各控制按鈕。
Axio Imager.D2m 有 5 個(gè)預編程按鈕，而 Axio Imager.Z2m 則有 10 個(gè)用戶(hù)自定義按鈕。
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