天津東方科捷科技有限公司
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更新時(shí)間：2023-03-15 12:20:27瀏覽次數：276次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)ISS 快速熒光壽命成像系統FLIM/FCS
基于激光共焦掃描顯微系統--熒光成像、熒光強度掃描成像、熒光壽命掃描成像、熒光光譜掃描成像
新一代快速熒光壽命成像FastFLIM系統，提供單分子級的靈敏度，檢測波長(cháng)標準配置范圍：350-1050nm；壽命范圍100ps-100ms；用于化學(xué)、納米、能源、生物等學(xué)科方向，單分子動(dòng)態(tài)、活細胞、微區成像及形貌、能級結構和能量傳遞特征的機理研究，測試速度高達5fps（512×512），1×1 到 4096×4096成像，采用可視化Phasor plots熒光壽命直讀半圓規，批量熒光壽命成像數據處理進(jìn)入直讀時(shí)代；振鏡掃描適于所有時(shí)間尺度的壽命成像?；罴毎ぷ髡?、變溫測試可選用；
主要功能描述：
激光共焦熒光強度成像LCM；
熒光壽命成像FLIM，磷光壽命成像PLIM；
上轉換熒光（壽命）成像，稀土發(fā)光（壽命）成像，延遲熒光（壽命）成像；
熒光波動(dòng)成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS），FLIM-FRET成像；
單量子點(diǎn)發(fā)光（壽命）成像，單分子及單分子熒光共振轉移成像，包括交替激發(fā)PIE成像；
穩態(tài)及瞬態(tài)偏振成像；
微區熒光光譜采集及光譜成像；
反聚束測試；
Prof. Joseph R. Lakowicz 實(shí)驗室選擇的FLIM系統
數字頻域技術(shù)DFD-FLIM （FastFLIM）和時(shí)域技術(shù)TD-FLIM （TCSPC）成像技術(shù)；
實(shí)時(shí)直讀式獲得熒光壽命數值及變化趨勢，FRET效率分布；
選擇300-1600nm波長(cháng)范圍檢測器，2-4通道檢測器，用于成像，FLIM-FRET；
可以升級無(wú)波長(cháng)干擾AFM，實(shí)現同區域形貌和FLIM同步測試；
紫外-可見(jiàn)-紅外激發(fā)波長(cháng)，單波長(cháng)或超連續激光器；266nm-1300nm激光器可選；PIE功能可選；白光激光器可選用；
單光子或雙光子的激光器；
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